扫描电子显微镜图像分析ppt课件.ppt

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时间:2020-12-24

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1、PicturesofSEM注射针头的扫描电镜照片PicturesofSEM果蝇:不同倍率的扫描电镜照片OpticalMicroscopeVSSEMOM:景深小分辨率:200nmSEM:景深大分辨率:1nm第八章扫描电子显微镜引言扫描电镜结构原理扫描电镜图象及衬度扫描电镜结果分析示例扫描电镜的主要特点扫描电子显微镜的简称为扫描电镜,英文缩写为SEM(ScanningElectronMicroscope)。SEM与电子探针(EPMA)的功能和结构基本相同,但SEM一般不带波谱仪(WDS)。它是用细聚焦的电子束轰击样品表面,通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等

2、对样品表面或断口形貌进行观察和分析。现在SEM都与能谱(EDS)组合,可以进行成分分析。所以,SEM也是显微结构分析的主要仪器,已广泛用于材料、冶金、矿物、生物学等领域。引言HistoryofSEM1935:法国的卡诺尔提出扫描电镜的设计思想和工作原理。1942:剑桥大学的马伦首次制成世界第一台扫描电镜。扫描电子显微镜图日本电子株式会社JSM-6390LV钨灯丝扫描电镜扫描电子显微镜图日本日立集团S-3400N扫描电子显微镜JSM-6700F场发射扫描电镜扫描电子显微镜图扫描电镜的优点高的分辨率。由于超高真空技术的发展,场发射电子枪的应用得到普及,现代先进的扫描电镜的

3、分辨率已经达到1纳米左右;有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;试样制备简单;配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成分分析。FeaturesofSEM高分辨率FeaturesofSEM强立体感FeaturesofSEM广泛的放大倍率(果蝇)FeaturesofSEM应用范围广●扫描电镜结构原理1.扫描电镜的工作原理扫描电镜的工作原理与闭路电视系统相似。可以简单地归纳为“光栅扫描,逐点成像”。由三极电子枪发射出来的电子束,在加速电压作用下,经过2~3个电子透

4、镜聚焦后,在样品表面按顺序逐行进行扫描,激发样品产生各种物理信号,如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等。这些物理信号的强度随样品表面特征而变。1.扫描电镜的工作原理它们分别被相应的收集器接受,经放大器按顺序、成比例地放大后,送到显像管的栅极上,用来同步地调制显像管的电子束强度,即显像管荧光屏上的亮度。由于供给电子光学系统使电子束偏向的扫描线圈的电源也就是供给阴极射线显像管的扫描线圈的电源,此电源发出的锯齿波信号同时控制两束电子束作同步扫描。因此,样品上电子束的位置与显像管荧光屏上电子束的位置是一一对应的。这样,在荧光屏上就形成一幅与样品表面特征相对应的

5、画面——某种信息图,如二次电子像、背散射电子像等。画面上亮度的疏密程度表示该信息的强弱分布。1.扫描电镜的工作原理扫描电镜成像示意图扫描电镜成像示意图二次电子入射电子与样品相互作用后,使样品原子较外层电子(价带或导带电子)电离产生的电子,称二次电子。二次电子能量比较低,习惯上把能量小于50eV电子统称为二次电子,仅在样品表面5nm-10nm的深度内才能逸出表面,这是二次电子分辨率高的重要原因之一。SEM中的成像信号背散射电子背散射电子是指入射电子与样品相互作用(弹性和非弹性散射)之后,再次逸出样品表面的高能电子。其能量接近于入射电子能量(能量高)。背射电子的产额随样品

6、的原子序数增大而增加,所以背散射电子信号的强度与样品的化学组成有关,即与组成样品的各元素平均原子序数有关。SEM中的成像信号各种信号的深度和区域大小可以产生信号的区域称为有效作用区,有效作用区的最深处为电子有效作用深度。但在有效作用区内的信号并不一定都能逸出材料表面、成为有效的可供采集的信号。这是因为各种信号的能量不同,样品对不同信号的吸收和散射也不同。随着信号的有效作用深度增加,作用区的范围增加,信号产生的空间范围也增加,这对于信号的空间分辨率是不利的。主要包括有电子光学系统、扫描系统、信号检测放大系统、图象显示和记录系统、电源和真空系统等。透射电镜一般是电子光学系

7、统(照明系统)、成像放大系统、电源和真空系统三大部分组成。比 较2、扫描电镜的主要结构电子光学系统由电子枪,电磁透镜,扫描线圈和样品室等部件组成。电子枪的作用是用来获得扫描电子束,作为信号的激发源。为了获得较高的信号强度和图像分辨率,扫描电子束应具有较高的亮度和尽可能小的束斑直径。电子枪几种类型电子枪性能比较信号收集及显示系统检测样品在入射电子作用下产生的物理信号,然后经视频放大作为显像系统的调制信号。普遍使用的是电子检测器,它由闪烁体,光导管和光电倍增器所组成。真空系统和电源系统真空系统的作用是为保证电子光学系统正常工作,防止样品污染提供高的真空度

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