最新控制图的应用74760资料讲解.ppt

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1、控制图的应用第一讲SPC的概念第二讲控制图第三讲过程能力分析1__________________________________________________第一讲SPC的概念质量控制过程控制统计过程控制（SPC）术语2__________________________________________________质量控制质量控制包括以下3个方面1、过程控制——预防性工作，2、验收检验——鉴定性工作；3过程改进——改进型工作。3__________________________________________

2、________过程控制过程控制：确定并识别过程，以做到及时发现和排除产品实现过程中的异常变异，使上工序的问题不带到下一工序去，以保证过程的稳定性和产品质量的一致性。4__________________________________________________统计过程控制统计过程控制（SPC）用统计技术对过程进行控制。*统计过程控制(SPC):为了达到并维持统计性控制状态从而提高工程能力,所应采取的具有针对性的﹑对工序或生产工序输出品进行分析时所运用的控制图及同样运用统计学技术所进行的一系列控制措施.5____

3、______________________________________________StatisticalProcessControl規格过程USLUCLSLCLLSLLCLsaCpCpk总体样本μXbarxNnR计量值：均值-级差图计数值：P不良率图6__________________________________________________术语统计技术（统计学技术）：数理统计：是建立在概率论基础上的数学的一门分支，是推断型的统计技术；图表等：利用数据的特征值或有关图表描述事物，是描述型统计技

4、术。总体，是研究对象的总体。7__________________________________________________术语个体，组成总体的每个单位称个体。样本，从总体中抽取的部分个体称为样本，组成样本的每一个体称为样品，样本中包含样品的数量称样本容量或样本大小。*样本(SAMPLE):从要检查的对象或整个被统计的对象中所抽出的数据或资料.8__________________________________________________术语过程能力，过程能力是指当过程处于统计过程控制状态，过程符合容差范围

5、的输出能力。一般用特性值的6倍标准差（6σ）衡量。标准差σ，在统计过程控制状态下，反映单个数据偏离数据平均值的数值。*标准偏差:指一种偏差的测量标准,是过程输出物或从过程中抽样所得值的分布范围(宽度)的量度.9__________________________________________________术语过程能力指数Cp，反映过程处于统计过程控制状态，过程能力是否充足的数值，通常将容差的范围除以6σ的比值，称为过程能力指数。*工程能力指数(Cp或Cpk):量产时,对工序在稳定的状态下所生产出的产品的质量所发生的

6、变化量的一个统计值.10__________________________________________________术语工序性能指数Pp，反映生产状态下，工序能力是否满足的数值，通常将容差的范围除以6σ的比值，称为工序性能指数。σ为过程标准差。*工序性能指数(Pp或Ppk):是指在正常生产的状态下,对较长的一个周期内所存在的异常因素对产品的质量能产生何种程度影响的一个统计值,运用于在产品的开发初期,对该产品的初期工程能力所进行评价.11______________________________________

7、____________术语正态分布，概率论中最常见因而也是最重要的随机变量分布。*正态分布:作为计量型控制图的根据,该计量数据的总体分布趋势应承连续性和对称性频度的分布,测量所得值的波动符合规定的分布规律,约有占所有测量所得数据68.26%的数据处在全体数据的平均值±1的标准偏差范围内,约有95.44%的数据处在全体数据的平均值±2的标准偏差范围内,约有近99.73%的数据处在整体数据的平均值±3的标准偏差范围内.12__________________________________________________

8、术语13__________________________________________________术语几个关键的数字总体数值落在：μ±1σ界限范围内的概率为68.28%；μ±2σ界限范围内的概率为95.46%；μ±3σ界限范围内的概率为99.73%；μ±1.96σ界限范围内的概率为95.0%.而数据落在:μ±3σ界限范围