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时间:2020-12-15
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1、化学气相淀积定义:指使一种或数种物质的气体,以某种方式激活后,在衬底发生化学反应,并淀积出所需固体薄膜的生长技术。其英文原名为“ChemicalVapourDeposition”,简称为“CVD”。本章主要内容:CVD薄膜的动力学模型、常用系统及制备常用薄膜的工艺。第六章化学气相淀积2021/8/41(1)CVD成膜温度远低于体材料的熔点或软点。因此减轻了衬底片的热形变,减少了玷污,抑制了缺陷生成;设备简单,重复性好;(2)薄膜的成分精确可控、配比范围大;(3)淀积速率一般高于PVD;厚度范围广,由几百埃至数毫米。且能大量生产;(4)淀积膜结构完整、致密,与
2、衬底粘附性好。CVD工艺特点:2021/8/426.1CVD模型6.1.1CVD的基本过程图6.11.主要步骤反应剂气体→反应室内(主气流区)→通过边界层到达衬底表面(扩散方式)→成为吸附原子→在衬底表面发生化学反应,淀积成薄膜。2.满足条件在淀积温度下,反应剂必须具备足够高蒸汽压。除淀积物外,反应的其他产物必须是挥发性的。淀积物具有足够低的蒸汽压。薄膜淀积所用时间尽量短。淀积温度足够低化学反应的气态副产物不能进入薄膜中。化学反应发生在被加热的衬底表面。2021/8/433.CVD的激活能来源:热能、光能、等离子体、激光等。6.1.2边界层理论2021/8/44边
3、界层1.定义:指速度受到扰动并按抛物线型变化、同时还存在反应剂浓度梯度的薄层。也称为附面层、滞流层等。2.厚度δ(x):从速度为零的硅片表面到气流速度为0.99Um时的区域厚度。3.形成机制:图6.3所示定义从气流遇到平板边界时为坐标原点,则有δ(x)=(μx/ρU)1/2μ-气体的黏滞系数。ρ-气体的密度2021/8/45边界层的平均厚度Re—气体的雷诺数,表示流体运动中惯性效应与黏滞效应的比。无量纲数。Re﹤2000,气流为平流型—反应室中沿各表面附近的气体流速足够慢。Re﹥2000,为湍流。2021/8/466.1.3Grove模型CVD过程主要受两步工艺过
4、程控制:①气相输运过程;②表面化学反应过程。Grove模型认为控制薄膜淀积速率的两个重要环节:①反应剂在边界层的输运过程;②反应剂在衬底表面上的化学反应过程。Grove模型的基本原理图6.42021/8/47薄膜淀积过程存在两种极限情况:①hg﹥﹥ks,Cs趋向于Cg,淀积速率受表面化学反应速率控制。反应剂数量:主气流输运到硅片表面的﹥表面化学反应所需要的②hg﹤﹤ks,Cs趋于0,淀积速率受质量输运速率控制。反应剂数量:表面化学反应所需要的﹥主气流输运到硅片表面的2021/8/48结论:图6.51.淀积速率与下面两个量中的一个成正比:①反应剂的浓度Cg;(没有使
5、用稀释气体时适用)②在气相反应中反应剂的摩尔百分比Y。(使用稀释气体)低浓度区域,薄膜生长速率随Cg增加而加快。2.在Cg或Y为常数时,薄膜淀积速率由hg和ks中较小的一个决定。hg﹥﹥ksG=(CTksY)/N1hg﹤﹤ksG=(CThgY)/N12021/8/49淀积速率与几个参数的关系:1.淀积速率与温度的关系如图6.6①低温情况下,表面化学反应速率控制由ks=k0e-EA/Kt淀积速率对温度的变化非常敏感。随温度的升高而成指数增加。②高温情况下,质量输运控制hg依赖于气相参数,如气体流速和气体成份等。其输运过程通过气相扩散完成。扩散速度正比于扩散系数Dg及
6、边界层内浓度梯度,Dg∝T1.5~2.0淀积速率Dg基本不随温度变化而变化。2021/8/4102.淀积速率与气流速率的关系如图6.7条件:质量输运速率控制根据菲克第一定律和式6.5推导,得到气流速率﹤1.0L/min,淀积速率与主气流速度Um的平方根成正比。↑气流速率,可以↑淀积速率。气流速率持续↑,淀积速率达到一个极大值,与气流速率无关。气流速率大到一定程度,淀积速率转受表面化学反应速率控制,且与温度遵循指数关系。2021/8/411总结Grove模型是一个简化的模型:忽略了1.反应产物的流速;2.温度梯度对气相物质输运的影响;认为3.反应速度线性依赖于
7、表面浓度。但成功预测了:薄膜淀积过程中的两个区域(物质输运速率限制区域和表面反应控制限制区域),同时也提供了从淀积速率数据中对hg和ks值的有效估计。思考:为什么在LPCVD反应系统中,硅片可紧密排列?2021/8/4126.2化学气相淀积系统①气态源或液态源②气体输入管道③气体流量控制④反应室⑤基座加热及控制系统⑥温度控制及测量系统2021/8/4136.2.1CVD的气体源1.气态源:已被取代。2.液态源:更安全(但氯化物除外)输送方式:冒泡法,加热液态源,液态源直接注入法冒泡法:通过控制携带气体的流速和源瓶的温度,间接达到控制进入到反应室的反应剂浓度。存在问
8、题:较难控
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