x射线照相法检测小直径筒体环焊缝横向裂纹特点研究

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1、X射线照相法检测小直径筒体环焊缝横向裂纹特点研究　　【摘要】文章分析了X射线照相法检测小直径筒体环焊缝横向裂纹特点，在结合了试验与理论的基础上，对确保检出横向裂纹的小直径的筒体环焊缝，论述了X射线照相法中，必须按照标准严格执行透照厚度比K值的规定，为确保检出横向裂纹，采用了减少曝光次数以及表面探伤的方法。【关键词】横向裂纹小直径X射线5通过加压或加热，亦或者两者并用，且不采用填充材料，促使工件的材质达到原子间结合，最终形成永久性连接的工艺过程为焊接。按照相关规定与标准，针对小直径的钢管或筒体环焊

2、缝，应以达到焊缝透照厚度比K值为基准，来设计每次曝光所检验的焊缝长度。在透照环焊缝时，如果采用外透法，为了确保对横向裂纹的检出率，应达到透照厚度比K值所需要的最少曝光次数，在透照时，对于环焊缝增加了相应的拍片数量，最终从很大程度上增加了费用以及检测所需的工作量。对于直径较小的钢管或筒体环焊缝而言，有效评片范围应以黑度、灵敏度等符合标准规定的因素为准，采用不受标准中K值限定的值，在此基础上辅以渗透检测或表面检测，可以检出对横向裂纹。但这一会对产品的质量造成影响，增加横向裂纹漏检率。1裂纹类型焊缝裂

3、纹类型多种多样，具体有：焊缝根部裂纹、热影响区焊缝贯穿裂纹、焊趾裂纹、焊缝内部晶间裂纹、焊道下裂纹、火口裂纹、热影响区横向裂纹、热影响区纵向裂纹、焊缝上横向裂纹、焊缝中纵向裂纹。2分析理论检测的承压小直径壳体的上下各有两件与筒体对接焊接的变形法兰，从而形成了2跳环焊缝，其壁厚为5.5毫米，内径为110毫米，对于内径尺寸较小的工件而言，以减轻人工劳动强度、将检测周期缩短的方式来进行透照。透照时采用五段外照法，检测工艺的规定为1000毫米。根据标准规定，在选择AB级时，按照射线照相直来那个要求，经过

4、计算能够得出，透照厚度比K为1.1，如果要想达到该透照度，应最少进行九次透照。裂纹自身特性参数决定了裂纹的检出率。裂纹自身的参数例如裂纹宽度或开口尺寸，裂纹的自身高度为，裂纹的埋藏深度为，裂纹平面对射线束的倾角为，走向为，长度为。从检测射线的角度来看，、、为关键参数。通解裂纹灵敏度的公式如下：（1）5公式中，为形状系数；为最小阶梯厚度；为不清晰度；在胶片上裂纹开口宽度的投影；在胶片上裂纹自身高度的投影。随固有不清晰度大小，发生变化。值较大时，=0.67；值较小时，=1。裂纹最大可检角，可根据公式

5、（1）导出，在进行计算时，作为的有效值，最大开口宽度取值应为其二分之一。透照厚度比K值控制横向裂纹检出角与该最大可检角相一致。都是采用裂纹面与控制射线束的夹角以确保裂纹的检出。最大可检角其公式不仅与裂纹自身参数有关，还与透照的像质参数有关，像质参数中和与显影条件和胶片种类、散射因子、射线能量、焦距、工件厚度等因素相关。因此，通常情况下，检出的最大倾角在开口宽度为0.025毫米数量级的裂纹条件下为10度，当然还决定于所使用的检测方法和裂纹自身的尺寸。在任何情况下，开口宽度不超过0.01毫米的裂纹不

6、可能被有效检出，采用特殊的检测方法在很薄的工件的条件下除外。在此，我们可以得出不能完全弥补表面检测对于横向裂纹的检出原因，第一，检测磁粉时，尽管能够将表面以及表层缺陷有效检出，但随着缺陷漏磁场的磁场强度逐渐减小，缺陷距离表面越大，检出的灵敏度就会越低，要想吸引磁粉堆积就会变得愈加困难。第二，对于表层心下一集内表面裂纹而言，渗透检测不能有效检出，其仅仅只能有效对表面开口缺陷进行检出。而针对紧闭的表面裂纹等表面缺陷，渗透检测根本无法进行检测，或者灵敏度非常低。3实际讨论55因为在一定时间段内，小直径

7、壳体环焊缝焊接过程中，焊接工艺会出现异常状态，所以在射线透照过程中，发现多处横向裂纹产生于底片焊缝处，在进行返修、补焊的过程中采用人工方式，并发现除了上述横向裂纹外，横向裂纹在其他处也有存在。因此，按照上述过程不能完全检出裂纹，而在表面检测的过程中，也没有发现横向裂纹检出。以此为基础，进行实验。将其中具有代表性的横向裂纹找出，透照从不同的角度进行了三次。第一次，对于裂纹零角度，正进行射线束零角度透照，即垂直透照。第二次，在搭接标记处，产生横向裂纹角为23.4度，与标准符合，即分九段时的极限透照。

8、第三次，在搭接标记处，裂纹横向裂纹角为35度，即分五段时的极限透照。根据透照结果，分五段时的极限透照横向裂纹的影响在底片上完全变形，影戏较为模糊，漏检较为严重，基本上不能发现裂纹；而分九段时的极限透照具有较高的灵敏度，能够发现裂纹；进行垂直透照具有很高的灵敏度，可显著发现横向裂纹。着色渗透检测两条环焊缝，并未发现缺陷痕迹，表明两处的横向裂纹在内部而不再表面。在检测磁粉时，由于零件较大、较重，无法采用线圈与中心导体法，也因为该零件具有非常高的精度，因此，也无法采用接通点发。所以，在连续磁化检测时只