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时间:2020-11-23
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1、第六章宏观残余应力测定§6-1物体内应力的产生与分类§6-2X射线宏观应力测定的基本原理§6-3试验方法§6-4X射线宏观应力测定中的一些问题§6-1物体内应力的产生与分类一.定义内应力---产生应力的各种外部因素撤除以后由于变形、体积变化不均匀而残留在构件内部并自身保持平衡的应力。二.内应力的分类及产生原因a.第一类内应力(σⅠ):在物体在宏观体积内存在并平衡的内应力。此类应力的释放会使物体的宏观体积或形状发生变化。也称宏观应力或残余应力。宏观应力的衍射效应是使衍射线位移。原因:比如零件在热处理、焊
2、接、表面处理、塑性变形加工。b.第二类内应力(σⅡ)微观应力:在物体中数个晶粒范围内存在并保持平衡的应力。其衍射效应主是引起线形的变化;特殊:也引起衍射线位移。原因:由于弹性变形时晶格会发生弹性的弯曲、扭转、拉伸等,变形消失后残留的内应力,或者由于温度变化引起的。c.第三类内应力(σⅢ):指在若干个原子尺度范围内平衡着的应力,如各种晶体缺陷(位错线附近、空位等)周围的应力场及析出相周围、晶界附近,或复合材料界面处等。作用范围为纳米~微米级。使衍射线强度降低。原因:由于不同种类的原子的移动、扩散、原子的
3、重新排列使晶格畸变所造成的。三类应力的相互关系三.用X-ray测宏观残余应力的优点及缺点1.优点:⑴无损检测方法;⑵可测小区域的局部应力(因为其照射面积可以小到1~2mm);⑶对复相合金可分别测定各相中的应力状态。2.缺点:⑴由于X-ray穿透能力的限制,它所记录的是表面10~30μm深度的信息,是近似的二维应力;⑵测量精度受组织因素影响较大(当晶粒粗大、织构等因素会使误差增加)。1.通过测定弹性应变量推算应力(σ=Eε)。2.通过晶面间距的变化来表征应变(σ=Eε=E△d/d0)3.晶面间距的变化与
4、衍射角2θ的变化有关。根据2dsinθ=λ→△d/d=-cotθ·△θ因此,只要知道试样表面上某个衍射方向上某个晶面的衍射线位移量△θ,即可计算出晶面间距的变化量△d/d,进一步通过胡克定律计算出该方向上的应力数值。§6-2X射线宏观应力测定的基本原理一、单轴应力测定原理单轴应力测定的思路:是在单轴应力作用下,垂直于应力方向的晶面间距变小,通过X-ray衍射求出晶面间距的变化值,便可算出应变(ε=△d/d),通过εx=-γεy求出应力方向的应变,从而求出应力σy=Eεy。单轴应力测定原理应力σy的作用
5、方向如上图示,假设某晶粒中(hkl)晶面垂直于拉伸方向Y轴:晶面间距d0——无应力时dn´——有σy作用时应变:从实验技术上,还无法测出dn´因此再作如下处理:假设表面有一晶粒中(hkl)面与表面平行,则在σy作用下,d0减小到dn,则:只要求出△d/d,即可求出σy。而△d/d=-cotθ·△θ;即:通过X-ray衍射,求出该晶面对应衍射线位移△θ即可。二、平面应力测定原理一).一般原理平面应力(双轴应力):指在二维方向上存在的应力。(由于X射线只照射到表面10~30μm左右的深度,这个深度很薄,因
6、此在深度方向上的应力无法测出,只能测出二维平面应力。)对于理想的多晶体,当受到一定的宏观应力的作用时,不同晶粒的同族晶面间距随晶面方位及应力大小发生有规律的变化,如图6-4所示。因此,对于一定方位晶面面间距dφψ在应力σφ的作用下,沿其面法线方向的弹性应变为:σφ与1、自由表面的法线方向的应力为零;2、物体内应力沿垂直于表面的方向变化梯度极小;3、X-ray的穿透深度很浅(10m数量级)。建立三维坐标系如下图示O-XYZ是主应力坐标系,分别代表主应力(σ1、σ2、σ3)和主应变(ε1、ε2、ε3)的
7、方向。O-xyz是待测应力σφ及与其垂直的σy、σz的方向。二)、被测物体符合平面应力假设根据弹塑性力学原理,对于一个连续、均质、各项同性的物体,任一方向上的应变可表达为:方向余弦广义胡克定律将等式左边对sin2ψ求导得:(6-9)(6-7)实用公式:(6-11)上式表明:2θφψ随sin2ψ呈线性关系,如图6-6示。将上式中的2θφψ用度表示则有:(6-12)式(6-12)即为平面应力状态假设下,宏观应力测定的基本公式。则K称为应力常数三)、被测物体偏离平面应力假设由应力测定的基本公式:σφ=KM可
8、知,若测得M,根据测试条件取应力常数K,即可求得测定方向平面内的宏观应力值,因此关键是M的测定。一般步骤如下:⑴使X射线从几个不同的ψ角入射(ψ角已知),并分别测取各自的2θφψ(衍射角)。§6-3宏观应力测定方法注意:每次反射都是由与试样表面呈不同取向的同种(hkl)面所产生的(如在无应力状态下,各衍射角都相同,但有应力存在时,各方向变形不同,故2θφψ角也各不相同)。因此2θφψ的变化反应了试样表面处于不同方位上同种(hkl)晶面的面间距的改变。(2
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