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1、通用电子元件进料检验规范（一）贴片元件检验规范(电容,电阻,电感)1.目的便于IQC人片元件物料。2.适用范围适用于本公司所有片元件（容,阻,感⋯）之。3.抽样计划依MIL-STD-105E，LEVELII正常次抽划；具体抽方式参考《抽划》。重缺点(CR):0;4.允收水准主要缺点(MA):0.4;（AQL）次要缺点(MI):1.5;《LCR数字操作指引》5.参考文件《数字万用表操作指引》检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式a.根据来料送核外包装或LABEL上的P/N及物是否都正包装MA确,任何有,均不可接受。目b.包装必采用防静包装，否不可接
2、受。a.包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；目数量MA,若不吻合不可接受。来料数量与送上的数量是否吻合点数a.Marking或模糊不清以辨不可接受；b.来料品名，或不同格的混装，均不可接受；目c.本体形，或有肉眼可的裂等不可接受；外MA10倍以上的放d.元件封装材料表面因封装程中留下的沙孔，其面不超0.5mm2,且未露出基,大可接受；否不可接受；e.Pin氧化生，或上不良，均不可接受；备注，必佩静。，必MA元件量超出偏差范内.LCR测试仪性佩静数字万用表。二极管型检测方法数字万用表的二极管档，正向量，LED需出与要求相符
3、的色的光，而反向量不光；否二极LED管不合格。注：有的一端极。数字万用表的二极管档，正向量，数需小于1，而反向量数需无大；否二极管不合格。其它二极管注：有色的一端极。专业文档供参考，如有帮助请下载。抽样计划说明：对于CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每备注盘中取3~5pcs元件进行检测；AQL不变。检验方法见＂LCR数字电桥测试仪操作指引＂和＂数字万用表操作指引＂。（二）插件用电解电容.1.目的作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有插件用电解电容之检验。3.抽样
4、计划依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):0.4;（AQL）次要缺点(MI):1.5;《LCR数字电桥操作指引》、5.参考文件《数字电容表操作指引》。检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否目检都正确,任何有误,均不可接受。a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；目检数量检验MAb.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接点数受。a.极
5、性等标记符号印刷不清，难以辨认不可接受；外观检验MAb.电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受；目检c.本体变形，破损等不可接受；d.Pin生锈氧化，均不可接受。a.Pin上锡不良，或完全不上锡不可接受。(将PIN沾上现使用每LOT取5~10PCS在可焊性检验MA之合格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN实际操作小锡炉上验是否100%良好上锡；如果不是则拒收)证上锡性若用于新的尺寸规格检验MAa.外形尺寸不符合规格要求不可接受。卡尺Model，需在PCB上对应的位置进行试插用数字电容表电性检验MAa.电容值超出规格要求则不可接受
6、。或LCR数字电桥测试仪量测专业文档供参考，如有帮助请下载。（三）晶体类检验规范1.目的作为IQC人员检验晶体类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所用晶体之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.严重缺点(CR):0;允收水准主要缺点(MA):0.4;（AQL）次要缺点(MI):1.5;5.参考文件《数字频率计操作指引》检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都包装检验正确,任何有误,均不可接受。目检a.实际包
7、装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；MAb.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合目检数量检验,若不吻合不可接受。点数a.字体模糊不清，难以辨认不可接受；外观检验MAb.有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；目检c.元件变形，或受损露出本体等不可接受；d.Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin，均不可接受。a.晶体不能起振不可接受；测试工位电性检验MA和数字频率b.测量值超出晶体的频率范围则不可接受。计备注每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性电性检测方法晶体检测方法32.768KHz在好的样板的相应位置插上待测晶体,再
8、接通电源开机;在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体，看16.934MHz测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。25.000MHz在好
