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时间:2020-09-14
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1、MOS管学习笔记主要内容MOS管的种类及结构MOS管的工作原理MOS管的主要参数MOS管的驱动MOS管的种类及结构MOS管的全称是:MetalOxideSemiconductorFieldEffectTransistor(金属氧化物半导体场效应管)导电载流子的带电极性N沟道(电子型)P沟道(空穴型)导电沟道形成机理增强型(E型)耗尽型(D型)组合共有4种类型分类在实际应用中,只有N沟道增强型和P沟道增强型,这两种中比较常用的是NMOS管,原因是导通电阻小,且容易制造。结构符号剖面图以一块掺杂浓度较低,电阻率
2、较高的P型硅半导体薄片作为衬底,利用扩散的方法在P型硅中形成两个高掺杂的N+区。然后在P型硅表面生长一层很薄的二氧化硅绝缘层,并在二氧化硅表面及N+型区的表面上分别安装三个铝电极——栅极g,源极s和漏极d,这样就形成了N沟道增强型MOS管。(1)Vgs=0,没有导电沟道此时栅源短接,源区,衬底和漏区形成两个背靠背的PN结,无论Vds的极性怎样,其中总有一个PN结是反偏的,所以d,s之间没有形成导电沟道,MOS管处于截止状态。(2)Vgs≥VGS(th),出现N沟道栅源之间加正向电压由栅极指向P型衬底的电场将
3、靠近栅极下方的空穴向下排斥形成耗尽层MOS管的工作原理NMOS的特性:Vgs大于一定的值就会导通,适合用于源极接地时的情况(低端驱动)再增加Vgs纵向电场将P区少子(电子)聚集到P区表面形成源漏极间的N型导电沟道如果此时加有漏源电压,就可以形成漏极电流id定义:开启电压VGS(th)——刚刚产生导电沟道所需的栅源电压Vgs(3)输出特性曲线MOS的输出特性曲线是指在栅源电压Vgs>VGS(th)且恒定的情况下,漏极电流id与漏源电压Vds之间的关系,可以分为以下4段:a.线性区当Vds很小时,沟道就像一个阻
4、值与Vds无关的固定电阻,此时id与Vds成线性关系,如图OA段所示b.过渡区随着Vds增大,漏极附近的沟道变薄,沟道电阻增大,曲线逐渐下弯。当Vds增大到Vdsat(饱和漏源电压)时,漏端处可动电子消失,此时沟道被夹断,如图AB段所示。线性区和过渡区统称为非饱和区。c.饱和区当Vds>Vdsat时,沟道夹断点向左移,漏极附近只剩下耗尽区,此时id几乎与Vds无关而保持idsat不变,曲线为水平直线,如图BC段所示。d.击穿区Vds继续增大到BVds时,漏结发生雪崩击穿,id急剧增大,如图CD段所示。以Vg
5、s为参考量,可以得到不同Vgs下,漏极电流id与漏源电压Vds之间的关系曲线族,即为MOS管的输出特性曲线。将各曲线的夹断点用虚线连接起来,虚线左侧为可变电阻区,右侧为饱和区。Vgs6、T的工作电流不应超过ID。此参数会随结温度的上升而有所减额。IDM:最大脉冲漏源电流。反映了器件可以处理的脉冲电流的高低,此参数会随结温度的上升而有所减小。PD:最大耗散功率。是指场效应管性能不变坏时所允许的最大漏源耗散功率。使用时,场效应管实际功耗应小于PDSM并留有一定余量。此参数一般会随结温度的上升而有所减额。VGS:最大栅源电压。是指栅源间反向电流开始急剧增加时的VGS值Tj:最大工作结温。通常为150℃或175℃,器件设计的工作条件下须确应避免超过这个温度,并留有一定裕量。TSTG:存储温度范围。7、静态参数V(BR)DSS:漏源击穿电压。是指栅源电压VGS为0时,场效应管正常工作所能承受的最大漏源电压。加在场效应管上的工作电压必须小于V(BR)DSS。它具有正温度特性。故应以此参数在低温条件下的值作为安全考虑。V(BR)DSS/△Tj:漏源击穿电压的温度系数,一般为0.1V/℃。RDS(on):在特定的VGS(一般为10V)、结温及漏极电流的条件下,MOSFET导通时漏源间的最大阻抗。它是一个非常重要的参数,决定了MOSFET导通时的消耗功率。此参数一般会随结温度的上升而有所增大。故应以此参数在最高工8、作结温条件下的值作为损耗及压降计算。VGS(th):开启电压(阀值电压)。当外加栅极控制电压VGS超过VGS(th)时,漏区和源区的表面反型层形成了连接的沟道。应用中,常将漏极短接条件下ID等于1毫安时的栅极电压称为开启电压。此参数一般会随结温度的上升而有所降低。IDSS:饱和漏源电流,栅极电压VGS=0、VDS为一定值时的漏源电流。一般在微安级。IGSS:栅源驱动电流或反向电流。由于MOSFET输入阻抗很大,I
6、T的工作电流不应超过ID。此参数会随结温度的上升而有所减额。IDM:最大脉冲漏源电流。反映了器件可以处理的脉冲电流的高低,此参数会随结温度的上升而有所减小。PD:最大耗散功率。是指场效应管性能不变坏时所允许的最大漏源耗散功率。使用时,场效应管实际功耗应小于PDSM并留有一定余量。此参数一般会随结温度的上升而有所减额。VGS:最大栅源电压。是指栅源间反向电流开始急剧增加时的VGS值Tj:最大工作结温。通常为150℃或175℃,器件设计的工作条件下须确应避免超过这个温度,并留有一定裕量。TSTG:存储温度范围。
7、静态参数V(BR)DSS:漏源击穿电压。是指栅源电压VGS为0时,场效应管正常工作所能承受的最大漏源电压。加在场效应管上的工作电压必须小于V(BR)DSS。它具有正温度特性。故应以此参数在低温条件下的值作为安全考虑。V(BR)DSS/△Tj:漏源击穿电压的温度系数,一般为0.1V/℃。RDS(on):在特定的VGS(一般为10V)、结温及漏极电流的条件下,MOSFET导通时漏源间的最大阻抗。它是一个非常重要的参数,决定了MOSFET导通时的消耗功率。此参数一般会随结温度的上升而有所增大。故应以此参数在最高工
8、作结温条件下的值作为损耗及压降计算。VGS(th):开启电压(阀值电压)。当外加栅极控制电压VGS超过VGS(th)时,漏区和源区的表面反型层形成了连接的沟道。应用中,常将漏极短接条件下ID等于1毫安时的栅极电压称为开启电压。此参数一般会随结温度的上升而有所降低。IDSS:饱和漏源电流,栅极电压VGS=0、VDS为一定值时的漏源电流。一般在微安级。IGSS:栅源驱动电流或反向电流。由于MOSFET输入阻抗很大,I
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