测量的重复性与再现性-Gage-R-&-R.ppt

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1、测量的重复性及再现性培训2021/8/31欢迎参加Agenda有關測量系統的術語为何要进行测量測量系統分析測量R&R的關系有關測量系統的術語測量賦值給具体事物以表示它們之間關于特殊特性的關系有關測量系統的術語測量過程及測量值賦值過程定義為測量過程；賦予的值定義為測量值有關測量系統的術語量具任何用來獲得測量結果的裝置；經常用來特指用在車間的裝置，包括用來測量合格与不合格的裝置。有關測量系統的術語測量系統用來對被測特性賦值的操作、程序、量具、設備、軟件以及操作人員的集合；用來獲得測量結果的整個過程。为何要进行測量？作出决策:达

2、到标准及规范导向的探测/反应短期成效激发持续改进:从何处改进?花费多少进行改进?改进成本是否有效?防止将来出现次品长期策略测量系统评估的重要性进行测量系统评估的重要性是否被忽视?当偏差的主要根源是测量系统时,在试图改进某个工序时很多资源将可能被浪费掉.着手任何工序改进工作之前,应对测量系统给予充分的考虑.当测量某个产品或过程时,测量系统仅仅是造成偏差的一个根源.测量系统分析的目的是为了更好地理解造成偏差的根源.而这种偏差可能影响所调查的工序产生的结果.测量系统评估要点测量系统评估的目标是:在短期内尽可能学习到测量过程的更多

3、知识.实施战略是包括常作为测量过程要素的设备,操作者,零件和其它因素.应从生产中随机选择代表内在工序偏差的零件.应对这些零件进行标识以记录测量结果并消除可能存在的操作者偏差.然后每个零件将由每个操作者使用同一设备进行多次测量.这种测量可扩展到每个设备组.偏差的根源产品变动性(实际变动性)测量变动性总的变动性(可观测到的测量变动性)实际产品/工序偏差总测量偏差测量偏差普遍原因偏差特殊原因偏差在零件内的偏差操作者导致的偏差仪表导致的偏差仪表R&R是测量系统可重复性和可复验性与工艺偏差的百分比.普遍认可的仪表可接受的标准是当仪表

4、R&R变动性百分比为:<10%:可接受的仪表.10%to30%:勉强可接受.>30%:仪表不可以接受.需要校正或更新.测量误差的组成测量系统的偏差的根源是:理想的工艺目标可重复性(精度)Repeatability(Precision)由同一个人使用同一个仪器,对同一个零件,同一种特性进行的连续测量值之间的偏差.也被称作测试/再测试误差,用作短期偏差的估计值.可重复性涉及两个关键问题:稳定性–不能找到有特殊原因的意外偏差.过大偏差–我们可能有过多的普遍原因偏差.可重复性(精度)Repeatability(Precision)

5、检验员A检验员B检验员C检验员A检验员B检验员C可复验性Reproducibility可复验性是由不同的评估人使用同一个测量仪器对同一个零件进行测量的平均值的偏差.可复验性Reproducibility可复验性涉及两个关键问题:Xbar图表模式具有可察觉的偏移(偏差或偏移).Xbar图表上呈现不一致的模式.偏倚偏倚是测量的平均值与参考值之间的差异.偏离度通常与“准确度”有关.检验员偏倚:如果由图示的平均点形成的模式看起来很相似,偏离度也许不造成问题.但应调查任何明显的差异.理想的工序目标仪器2仪器1偏倚的影响测量的平均值有

6、固定差别.偏移的影响包括:操作者偏离:–不同的操作者对同一件事情测得明显不同的平均值.机器偏离–不同的机器对同一件事情测得明显不同的平均值.及其它–日常(环境),夹具,客户和供应商(场地).标准数值(参考标准)平均值仪器的精度仪器准确度是测量到的平均值与标准数值之间的差异.而标准数值是可接受并可跟踪的参考标准.具体说来,测量方法决定测量系统的准确度.校准可解决精度差的问题.与公差相比较的精度度比率:可能需要纠正.典型的测量分析将不会解决精度的问题，除非特别规定这样做(用一个标准代替零件).仪器的精度稳定性稳定性(飘移)是在

7、一段时间内测量某一特性时,使用测量系统对同一标准数值或零件获得的测量值的总偏差.稳定性–极差图上当所有极差的点分布在上控制极限以下时表示稳定性好.应对任何超出控制极限的点进行调查.校验数值(参考标准)时间1时间2难以找到造成偏差的特殊原因;处于统计学意义上“控制中”的特性参数.一段时间来测量的一致性.稳定性精确性直线性没有成为问题仪表2精确性直线性成为问题仪表1测量单元.1.01.001.0001测量单元.1.01.001.0001线性仪器测量范围内准确度差异的测量.对于一个给定的特性,什么范围内的数值可用仪器测量?当测量

8、设备被用于测量大范围的数值时,直线性将成为一个受关注的问题.直尺卡尺千分尺.28.279.2794.28.282.2822.28.282.2819.28.279.2791分辨率分辨率是检测特性的微小的变化的能力.当仪器不能辨别工件偏差或确定单个零件特性数值偏差时分辨率不可以接受不能够检测工艺偏差和特殊原