晶体光学复习题.doc

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1、晶体光学复习题一、填空题1在同一岩石薄片中，同种矿物不同方向的切面上，其干涉色2光波入射非均质体矿物，不发生双折射的入射方向是。3单偏光下晶体光学性质的研究内容有、、和等四种。4正交偏光下晶体光学性质的研究内容有和。5光率体是表示光波在晶体中传播时，光波的与之间关系的一种光性指示体。6干涉图是在下观察的，应当是各个方向入射光通过矿片后所产生的和的总和所构成的特殊图形。7两光轴之间所夹的锐角称为，以符号表示。8对于一轴晶矿物，当时为负光性。9一轴晶垂直光轴的切面，是切面，其半径为，在正交镜下具的特点。10矿物的多色性在的切面上最不明显11在正交

2、偏光镜下，矿片处于45°位加入石膏试板干涉色应当增加或减少；如果加入云母试板时，干涉色应增加或减少。12光波入射非均质体矿片分解形成两种偏光，其振动方向是。13岩石薄片由，和组成，连接它们的是，薄片的标准厚度为，判别厚度的方法是。14、二轴晶垂直光轴切面干涉图的用途有，和。15贝克线的移动规律是，贝克线总是向折射率大的物质移动。16非均质矿物垂直光轴的切面在正交镜间为消光，而其他方向的切面则会出现消光17判别下图的轴性、光性正负和切面方向。未加试板前干涉色为一级灰白轴晶方向的切面光性18、判别下图矿物的轴性，光性正负和切面方向。并在图上填出其

3、光率体椭园切面的半径名称。未加试板前干涉色为二级绿。轴晶方向的切面光性二、判断题1、两非均质体矿片在正交镜间的45°位重迭，当异名半径平行时，因总光程差为零而使矿片变黑暗的现象，称为消色。（）2、两非均质矿片在正交镜间的45°位置重叠，当异名半径平行时，总光程差等于两矿片光程差之差。（）3、二轴晶光率体，当Np＞Nm＞Ng时，为负光性。（）4、某矿物的最高干涉色为Ⅱ级紫红，因此该矿物的某些切面可能出现Ⅰ级紫红。（）5、贝克线的移动规律是下降物台，贝克线总是向折射率大的物质移动。（）6、一轴晶光率体的旋转轴永远是Ne轴。（）7、一轴晶平行光轴切

4、面的干涉图与二轴晶平行光轴面切面的干涉图特点完全一样，在轴性明确的情况下也不能用作光性正负的测定。（）8、矿物的多色性在垂直光轴的切面上最不明显。（）9、在单偏光镜下，黑云母颜色最深时的解理缝方向可以代表下偏光的振动方向。（）10、同一岩石薄片中，同一种矿物的干涉色相同，不同种矿物的干涉色不同。（）11、某矿物的干涉色为二级绿，在45°位加云母试板，如同名半径平行，干涉色升高为二级蓝，如异名半径平行，干涉色降低为二级黄。（）12、角闪石的多色性只有在垂直Bxa的切面上观察才最明显。（）13、当非均质体矿片上的光率体椭圆半径与上、下偏光的振动方

5、向平行时，矿片就会变黑而消色。（）14、在岩石薄片中透明矿物所呈现的颜色是矿片对白光中各单色光波折射和散射的结果。（）15、矿片干涉色的高低取决于矿物性质和矿片厚度，在标准厚度下则受切面双折射率的影响。（）16、在同一岩石薄片中，同种矿物不同方向的切面上，其干涉色不同。（）17、二轴晶垂直光轴切面的干涉图用途有：确定轴性、光性、切面方向和估计折射率的大小。（）18、矿片糙面的明显程度是受矿物软硬和矿片表面光滑程度的影响。（）19、对于一轴晶矿物来说，其延性和光性总是一致的。（）20、要测定矿物的轴性和光性符号，应该选择在正交偏光下干涉色最高的

6、切面。（）三、解答题1简述矿物系统鉴定的步骤、切面选择及主要的观察内容。答：1}矿物的系统鉴定首先应该区分是均质体还是非均质体矿物。对于均质体，其各个方面切面为全消光，切勿干涉图。对于非均质体，仅垂直光轴切面为全消光，其他则为四次消光，且有干涉图。然后再对均质体非均质体加以鉴定。对于均质体只需要在单偏光镜下观察矿物的晶形、解理、突起等级和颜色特征。对于非均质体矿物需要在以下四各方面鉴定：a，在单镜光下观察晶形，解理‘突起等级’颜色、多样性，测定解理夹角等。B：在正交偏光镜下观察消光类型、双晶、延性符号及干涩色级序等。C、选择垂直光轴的切面，在

7、锥光镜下确定轴测定光学符号。D、选择一个平心光轴或平行光轴的切面，在正交偏光镜下测定最高干涩色级序、最大双折射率和消光角的大小。2}矿物的不同晶体光学性质的需要在不同定向切面上进行测定，对于多色性公式、吸收性公式、双折射率及消光角等特征，需要在平行光轴或光轴面的切面上测定、对于光性正负的确定需要在除平行光轴或光轴面得切面外的各种切面上进行，对于2v大小的测定则需要在垂直光轴的切面上进行。垂直光轴切面特征：1、有色矿物不显多色性2、全消光3、锥光镜下显示一轴晶或二轴晶垂直光轴切面干涩图；平行光轴或平行光轴面切面特征：4、多色性最明显5、干涩级序

8、最高6、锥光下显示平行光轴或光轴面切面干涩图；其他方向的切面特征介于上述两种切面之间。3}主要观察内容有：但偏光镜下包括矿物的晶态、解理、解理及多样性、突起及闪突起