轮廓仪操作指导书.doc

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1、文件名称：表面粗糙度轮廓形状复合测量机操作指导书版次A总页数2文件编号：MX/J7601-08-30第1次修订页次1操作杆粗糙度检测器轮廓形状检测器驱动部分驱动部分手动旋钮检测器存放台一、操作说明：1、闭合控制柜开关，同时启动电脑，检测轮廓形状时，将驱动器的电源打开。2、根据检测要求，选择安装对应的检测器，并将检测器存放台的切换开关（SW）切换到相应的位置。3、摘下测针保护套，测量机自检完毕后，打开ACCT测量软件，使测量机进行检测准备阶段。4、将显示画面切换到测量界面。5、清洁工件，然后选择对应的工装装夹工件。6、测量完成，进入分析界面分析检测结果并填写检测报

2、告单，手动返回测针，从工装上取下工件。二、标准块校正：1、粗糙度检测校正1.1在粗糙度测量画面中，单击菜单的“校正”并选择其中的“校正”，按校正步骤进行校正。1.2选择探针为“通常使用的探针”→选择校正方法为“利用标准片校正”→校正条件的标准值设定为标准片上的值3.21um，校正倍率选±128um→将标准片放置在水平调整台上→执行校正测量条件的设定：单击“编辑”，选择“基本条件”，测量速度选0.300mm/s，移动返回速度6.000mm/s，测量长度5λ，单击滤波器，勾选“使λs有效”，“比”设300，波长设0.8mm，单击去除形状，选择最小二乘直线，确定并执行

3、测量。1.3移动测针至图2位置，点击测量，将测量值与标准块标识的值进行对比，差值在±5%之内即为测针可用。如果大于±5%，需分析测量出的曲线图（纵横放大倍率分别为2万和2千倍），观察波峰波、谷是否清楚，波峰是否尖锐，否则表示测针磨损或损坏。图1校正驱动器标准块的摆放及与测针位置图2校正测针标准块的摆放及与测针的位置2、轮廓形状检测校正2.1在轮廓形状测量画面中，单击菜单的“校正”并选择其中的“校正”，按校正步骤进行校正。2.2选择探针中单击变更，探针设定为“通常使用的探针”单击属性对校正参数进行设置：LH=348.5，LV=0,K=1,R1=0.025，单击“R

4、1对应值”→选择校正方法为“球段差成批校正”标准球校正装置为“E-MC-S34A/65A”→设定校正条件为“标准球半径为6.35mm”段差量=16mm,退避量=20mm→设置校正装置：将16mm的块规与标准球校正装置组合连接，并水平放置（如图3所示），将探针停在标准球的顶点上方（如图4所示），单击“工具”菜单中的“峰＆谷检测”，选择X轴，轨迹范围=4mm,测量速度=0.3,检测方法=圆计算移动速度=3,执行检测，系统自动找准X方向最高点。单击“顶点/谷底(MANUAL)”，选择Y轴及最大点检测，单击“轨迹开始”转动校正装置的调整旋钮，使探针在球的顶点往返，单击“

5、轨迹停止”，然后单击下方的图标，转动调整旋钮，使检测器值(Z值)对准检测坐标(Z值),发出嘟嘟声→图3图4“执行校正”，标准球的测量条件设定：测量长度=10.4,测量间距=1,抽样方法=轴恒定,测量速文件名称：表面粗糙度轮廓形状复合测量机操作指导书版次A总页数2文件编号：MX/J7601-08-30第1次修订页次2度=0.3,移动速度=3.0；段差量的测量条件设定：测量长度=8,测量间距=1,抽样方法=轴恒定,测量速度=0.3,移动速度=3.0，单击执行测量。2.3校正结束后，显示校正画面，探针尖端半径在25±5um内，标准球半径在6.35±5%内即合格，否则再

6、次校正若出现同样的结果，则检查探针是否磨损。2.4再次验证测针，手动转动转轮，使测针向左移动至标准球左边缘，设置测量长度=10.4，执行测量。2.5进入分析画面，分析计算结果等于6.35±5%，即为合格。三、测量产品：1、粗糙度检测：1.1根据被测件的粗糙度技术要求,在粗糙度测量画面中，单击“测量”及“测量条件”，“计算规格”的选择有ISO、JIS等标准，测量Ry时，选择JIS标准，“测量类型”选粗糙度测量，测量速度根据测量长度选择，一般选0.3，去除形状同校正。“滤波类型”选高斯滤波器，测量长度及滤波波长参照下表选择。确认并开始测量。技术要求滤波波长λc测量长

7、度3λc≥L>λc测量长度5λc≥L>3λc测量长度L>5λcRa≤0.1µm0.25mm0.25×10.25×30.25×50.1µm＜Ra≤2.0µm0.8mm0.8×10.8×30.8×52.0µm＜Ra≤10.0µm2.5mm2.5×12.5×32.5×510.0µm＜Ra≤80.0µm8.0mm8.0×18.0×38.0×51.2在分析画面中编辑需要的布局后，将数据保存为文件。2、轮廓形状检测2.1将工件固定在工作台上，并使工件的轴线与测针轴线平行，Y方向的顶点选择同校正时Y方向的顶点检测。2.2在轮廓形状测量画面中，从菜单栏中选择“测量”并设置“测量

8、条件”，测量方向=右方向