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时间:2020-09-08
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1、辐射干扰的测试,是检验受试设备通过空间传播的辐射干扰场强。按标准要求应在开阔场地或半电波暗室进行。然而,符合要求的开阔场很难找到,故一般多在屏蔽电波暗室内测试。测量主要采用天线法和诊断法。 1、天线法 天线法是将辐射干扰信号通过测量天线接收,由同轴电缆传送到测量接收机,并测出干扰电压,再加上天线系数,即得到所测量的场强值。 测量所需的主要设备有测量接收机(或频谱分析仪)、测量天线及予放大器等。利用HP-84110B予测试系统以天线法测试辐射干扰的配置及连接,如图4-3-4所示。
2、测量要点: 1)辐射干扰的测量受环境的影响较大。而予相容测试的场地条件又不可能完全符合要求,因此,要特别注意对环境电平的监测。测试前,先切断EUT(被测设备)电源,对所关心的频段进行扫描,检查环境电平是否低于极限值6dB。在测试中要能分辨是环境的干扰信号还是EUT的辐射干扰; 2)根据测试的不同要求,在频谱仪上进行正确的配置扫描间隔、天线系数和极限线等; 3)不同的测试频段,应选用不同的天线,如在25HZ-100KHZ频段内测量磁场辐射时,需要采用环形磁场接收天线;对于电场辐射发射则是在10KHZ-18GHZ频段内进行测量,其
3、间需更换不同的天线(10KHZ-30MHZ选用拉杆天线,20MHz~200MHz选用双锥天线;200MHz~1000MHz选用对数周期天线,1-18GHZ选用双脊喇叭天线); 4)不同的标准对测量天线到EUT之间的距离要求不同,如国军标为1m,其它则为3m,10m或30m等,相应的极限值也不同。 5)由于EUT的辐射不可能是均匀的,所以应找出最强的发射部位(是EUT的前面板还是后面板或缝隙等); 6)超出极限线的所有信号,仍需进行峰值和准峰值测量(因为标准规定的极限值多建立在准峰值检波方式的基础上)。对超出极限线的EUT发射信
4、号,进行具体分析和诊断,以便排除故障或修改设计。图4-3-5示出了采用 CISPR-A-3m标准的极限线情况下,辐射干扰在30MHz~300MHz范围内的频谱特性。 2、诊断法 除了用天线法以远场接收EUT的辐射发射是否超标外,还可用近场探头对EUT的辐射源进行定位或诊断性测试。 EMI的诊断方法很多,现介绍HP-84110B系统用频谱分析仪与近场探头进行诊断测量的方法。测试连接如图4-3-6所示。图中,近场探头、宽带放大器和频谱分析仪构成了EMI诊断系统。 测试要点: 1)近场探头犹如环形
5、结构的小天线,对EUT磁场源比较敏感,EUT中的电场也会伴随感应磁场,所以,探头接收的信号经频谱仪测量和处理后,以磁场强度表示(单位为dBµA/m); 2)探头小的几何尺寸和端头的绝缘(可达1000V),可以使其直接触及EUT的电路系统。如印制电路板的布线就是典型的磁场源。探头距受试点越近越灵敏; 3)诊断时探头除对EUT电路系统进行搜索外,还应对相关的电缆线、箱体接缝和开口处、CRT面板、键盘、电源线等进行反复的、变换方位的探测,以找出辐射干扰的强点。在测量孔径的辐射时,探头应沿孔的边沿和绕孔旋转,直到耦合最大的场强; 4)
6、根据测试频率的需要,选择不同指标的探头(HP-11941A或11940A); 5)诊断系统需要提高探测的灵敏度时,可加入前置放大器,但在测试结果中应扣除放大器的增益。 6)探头由跟踪信号源驱动,可以作为场源发射,用来测定局域的辐射敏感度。 7)探头设计工艺精细、小巧,电磁兼容操作时应小心,以免损坏。予相容测试:以频谱分析仪为核心的予相容检测系统,可以快捷、准确的进行电磁辐射干扰的测量。这也是被认为最难判定和测试的电磁兼容参量。不过随着EMC技术的发展,EMC扫描仪(EMC-Scanner)和各种电磁场分析软件的出现,再配以频谱
7、仪,便可实现电磁辐射发射的可视化测量。对EUT的单个器件、PCB板、整机与电缆等进行全方位的三维测试,并可直观地显示真实的电磁辐射情况(电磁场的变化、干扰的传播等),从而,快速找出减少和抑制干扰的方法。予相容测试,尽管不可能保证产品通过所有项目的标准测试,但至少可以消除绝大部分的电磁干扰,并能指出如何改进设计、抑制EMI的发射,从而提高产品的质量与可信度。 EMC测试是EMC设计中不可缺少的技术手段。这种测试技术又完全体现在新制订的各类标准之中。随着电磁兼容技术的发展和国内外技术市场竞争的需要,对EMC测试的要求会愈来愈高。
8、EMC自动测试系统的出现,大大简化了EMC测试的过程,提高了测试的效率和精度。电磁兼容测试自动扫描技术和虚拟仪器技术都将推动EMC测试技术的发展。crt(阴极射线管)CRT是一种使用阴极射线管(CathodeRayTube)的显示器,主要有五部分组成:电子枪(Electron
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