RE辐射干扰测试.doc

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1、辐射干扰的测试，是检验受试设备通过空间传播的辐射干扰场强。按标准要求应在开阔场地或半电波暗室进行。然而，符合要求的开阔场很难找到，故一般多在屏蔽电波暗室内测试。测量主要采用天线法和诊断法。 1、天线法 天线法是将辐射干扰信号通过测量天线接收，由同轴电缆传送到测量接收机，并测出干扰电压，再加上天线系数，即得到所测量的场强值。 测量所需的主要设备有测量接收机（或频谱分析仪）、测量天线及予放大器等。利用HP-84110B予测试系统以天线法测试辐射干扰的配置及连接，如图4－3－4所示。                         

2、测量要点： 1）辐射干扰的测量受环境的影响较大。而予相容测试的场地条件又不可能完全符合要求，因此，要特别注意对环境电平的监测。测试前，先切断EUT(被测设备)电源，对所关心的频段进行扫描，检查环境电平是否低于极限值6dB。在测试中要能分辨是环境的干扰信号还是EUT的辐射干扰； 2）根据测试的不同要求，在频谱仪上进行正确的配置扫描间隔、天线系数和极限线等； 3）不同的测试频段，应选用不同的天线，如在25HZ-100KHZ频段内测量磁场辐射时，需要采用环形磁场接收天线；对于电场辐射发射则是在10KHZ-18GHZ频段内进行测量，其

3、间需更换不同的天线（10KHZ-30MHZ选用拉杆天线，20MHz~200MHz选用双锥天线；200MHz~1000MHz选用对数周期天线，1－18GHZ选用双脊喇叭天线）； 4）不同的标准对测量天线到EUT之间的距离要求不同，如国军标为1m，其它则为3m，10m或30m等，相应的极限值也不同。 5）由于EUT的辐射不可能是均匀的，所以应找出最强的发射部位(是EUT的前面板还是后面板或缝隙等)； 6）超出极限线的所有信号，仍需进行峰值和准峰值测量(因为标准规定的极限值多建立在准峰值检波方式的基础上)。对超出极限线的EUT发射信

4、号，进行具体分析和诊断，以便排除故障或修改设计。图4-3-5示出了采用 CISPR-A-3m标准的极限线情况下，辐射干扰在30MHz~300MHz范围内的频谱特性。          2、诊断法 除了用天线法以远场接收EUT的辐射发射是否超标外，还可用近场探头对EUT的辐射源进行定位或诊断性测试。 EMI的诊断方法很多，现介绍HP-84110B系统用频谱分析仪与近场探头进行诊断测量的方法。测试连接如图4-3-6所示。图中，近场探头、宽带放大器和频谱分析仪构成了EMI诊断系统。          测试要点： 1）近场探头犹如环形

5、结构的小天线，对EUT磁场源比较敏感，EUT中的电场也会伴随感应磁场，所以，探头接收的信号经频谱仪测量和处理后，以磁场强度表示(单位为dBµA/m)； 2）探头小的几何尺寸和端头的绝缘(可达1000V)，可以使其直接触及EUT的电路系统。如印制电路板的布线就是典型的磁场源。探头距受试点越近越灵敏； 3）诊断时探头除对EUT电路系统进行搜索外，还应对相关的电缆线、箱体接缝和开口处、CRT面板、键盘、电源线等进行反复的、变换方位的探测，以找出辐射干扰的强点。在测量孔径的辐射时，探头应沿孔的边沿和绕孔旋转，直到耦合最大的场强； 4）

6、根据测试频率的需要，选择不同指标的探头(HP-11941A或11940A)； 5）诊断系统需要提高探测的灵敏度时，可加入前置放大器，但在测试结果中应扣除放大器的增益。 6）探头由跟踪信号源驱动，可以作为场源发射，用来测定局域的辐射敏感度。 7）探头设计工艺精细、小巧，电磁兼容操作时应小心，以免损坏。予相容测试：以频谱分析仪为核心的予相容检测系统，可以快捷、准确的进行电磁辐射干扰的测量。这也是被认为最难判定和测试的电磁兼容参量。不过随着EMC技术的发展，EMC扫描仪（EMC-Scanner）和各种电磁场分析软件的出现，再配以频谱

7、仪，便可实现电磁辐射发射的可视化测量。对EUT的单个器件、PCB板、整机与电缆等进行全方位的三维测试，并可直观地显示真实的电磁辐射情况（电磁场的变化、干扰的传播等），从而，快速找出减少和抑制干扰的方法。予相容测试，尽管不可能保证产品通过所有项目的标准测试，但至少可以消除绝大部分的电磁干扰，并能指出如何改进设计、抑制EMI的发射，从而提高产品的质量与可信度。  EMC测试是EMC设计中不可缺少的技术手段。这种测试技术又完全体现在新制订的各类标准之中。随着电磁兼容技术的发展和国内外技术市场竞争的需要，对EMC测试的要求会愈来愈高。

8、EMC自动测试系统的出现，大大简化了EMC测试的过程，提高了测试的效率和精度。电磁兼容测试自动扫描技术和虚拟仪器技术都将推动EMC测试技术的发展。crt（阴极射线管）CRT是一种使用阴极射线管(CathodeRayTube）的显示器，主要有五部分组成：电子枪(Electron