传感器与智能检测技术课后习题答案.doc

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1、西安理工研究生考试传感器与智能检测技术课后习题1、对于实际的测量数据，应该如何选取判别准则去除粗大误差？答：首先，粗大误差是指明显超出规定条件下的预期值的误差。去除粗大误差的准则主要有拉依达准则、格拉布准则、t检验准则三种方法。准则选取的判别主要看测量数据的多少。对于拉依达准则，测量次数n尽可能多时，常选用此准则。当n过小时，会把正常值当成异常值，这是此准则的缺陷。格拉布准则，观测次数在30—50时常选取此准则。t检验准则，适用于观察次数较少的情况下。1、系统误差有哪些类型？如何判别和修正？答：系统误差是在相同的条件下，对同一物理量进行多次测量，如果误差按照一定规律出现的误差。系统误差可分为

2、：定值系统误差和变值系统误差。变值系统误差又可以分为：线性系统误差、周期性系统误差、复杂规律变化的系统误差。判定与修正：对于系统误差的判定方法主要有：1、对于定值系统误差一般用实验对比检验法。改变产生系统误差的条件，在不同条件下进行测量，对结果进行比较找出恒定系统误差。2、对于变值系统误差：a、观察法：通过观察测量数据的各个残差大小和符号的变化规律来判断有无变值系统误差。这些判断准则实质上是检验误差的分布是否偏离正态分布。b、残差统计法：常用的有马利科夫准则（和检验），阿贝-赫梅特准则（序差检验法）等。c、组间数据检验正态检验法修正方法：1.消除系统误差产生的根源2.引入更正值法3.采用特殊

3、测量方法消除系统误差。主要的测量方法有：1)标准量替代法2)交换法3）对称测量法4）半周期偶数测量法4.实时反馈修正5.在测量结果中进行修正2、从理论上讲随机误差是永远存在的，当测量次数越多时，测量值的算术平均值越接近真值。因此，我们在设计自动检测系统时，计算机可以尽可能大量采集数据，例如每次采样数万个数据计算其平均值，这样做的结果合理否？答：这种做法不合理。随机误差的数字特征符合正态分布。当次数n增大时，测量精度相应提高。但测量次数达到一定数目后，算术平均值的标准差下降很慢。对于提高精度基本可忽略影响了。因此要提高测量结果的精度，不能单靠无限的增加测量次数，而需要采用适当的测量方法、选择仪

4、器的精度及确定适当的次数等几方面共同考虑来使测量结果尽可能的接近真值。3、以热电阻温度传感器为例，分析传感器时间常数τ对动态误差的影响。并说明热电阻传感器的哪些参数对τ有影响？答：1、对于热电阻温度传感器来说，传感器常数对于温度动态影响如式子所示，决定了动态误差的波动幅度。的大小决定了随着时间变化误差的大小。因此时间常数决定了动态误差的大小。2、热电阻传感器对时间常数的影响，我们由上问可以知道对时间常数的影响就是对测量动态误差的影响即对结果影响。因素主要有：a、电阻材料条件，电阻材料影响电阻温度系数、电阻率、物理和化学性能等。这些条件都影响着时间常数，即对动态误差有一定的影响。因此选取标准电

5、阻温度系数越大越稳定，电阻率要大，温度系数保持单值最好是常数，金属物理化学性能稳定。b、热电阻的引线对测量结果有较大的影响。二线制中引线电阻对测量影响大,用于测温精度要求不高场合。三线制可以减小热电阻与测量仪表之间连接导线的电阻因环境温度变化所引起的测量误差。四线制可以完全消除引线电阻对测量的影响,用于高精度温度检测。1、在设计压力的应变式传感器时，由于应变信号非常微弱，为了提高检测灵敏度，减小温度漂移的影响，设计检测系统时应考虑哪些方面的问题。答：压力的应变式传感器的应变片主要有金属应变片和半导体应变片。（1）金属材料的应变电阻以结构尺寸变化为主；主要可以分为1、金属丝式应变片，制造简单但

6、易产生横向效应误差。2、金属箔式应变片，可扰性好散热寿命都比较好但电阻值的分散性大。3、金属薄膜应变片，应变灵敏度系数大，但温度稳定性差。（2）半导体材料的应变电阻主要基于压阻效应。突出优点就是灵敏度高。但温度系数大，应变时非线性比较严重。根据设计要求，由于应变信号非常微弱，为了提高检测灵敏度及减小温度漂移的影响。我们可以选用金属薄膜应变片或者半导体应变片的传感器。这两者的检测灵敏度较高。针对其温度产生的误差影响。我们给与一定的温度补偿来消除其温度误差，主要可以采用的温度补偿方法有：1）电桥补偿和2）应变片自补偿，这两种方法来消除误差。电桥补偿是最常用的且效果较好的线路补偿方法。通过对应变片

7、的选择和温度的补偿共同，来完成设计的要求。2、热电阻在应用过程中，有哪些引线方式？对这些引线方式的特点进行分析。答：热电阻在应用过程中为了减小或消除引出线电阻的影响，常采用二线制、三限制、四限制的引线方法。（1）二线制中引线电阻对测量影响大,用于测温精度要求不高场合。（2）三线制可以减小热电阻与测量仪表之间连接导线的电阻因环境温度变化所引起的测量误差。测量精度高于二线制，在工业温度检测中应用较广。（3）四线制