涂层测厚仪的测量影响因素.doc

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1、涂层测厚仪的测量影响因素随着公司的蓬勃发展，公司的客户也朝着多元化、广泛化的方向发展。与此同时用户朋友尤其是刚刚接触到我们仪器的用户朋友，在使用仪器的过程中总会遇到这样或那样的问题。在这里我们以涂层测厚仪为例给大家作个简要的讲解。1.为什么仪器有时测量不准确？这是一个比较笼统的问题。因为就仪器不准的原因来说是多种多样的。单对涂层测厚仪来说，主要有下面几种原因引起测量不准确。（1）强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。（2）人为因素。这中情况经常会

2、发生在新用户的身上。涂层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。（3）在系统校准时没有选择合适的基体。基体最小平面为7mm，最小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。（4）附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧

3、密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统校准时，选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。（5）仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。2.测量过程中，为什么有时候测量数据会出现明显偏差？测量过程当中由于探头放置方式不正确或者外界干扰因素的影响可能会造成测量数据明显偏大。这时可以按住CAL键把该数据清除以免进入数据统计中去。3.如何系统校准？校准的方法、种类，这是新用户经常会遇到的问题。系统校准、零点校准还有两点校准其实都已经在说明书上写到了，用户只需仔细阅读就可以了。需要注意的是：在校准铁基时

4、最好是多测量几次以防止错误操作；系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。4.如何选择合适的仪器型号？选择什么型号的仪器最好，要根据用户测量物体的厚度来定。一般来说测量1200um以下的物体时最好选择MC-2000A型，对0~1200um的厚度来说该型号已经达到2%~3%的精确度，而且对100um以下的厚度值它也能够很好的确保测量精度。如果测量物体厚度在1200~5000um，建议选择MC-2000C型测厚仪。更厚的话就要选择MC-2000D增强型测厚仪。5.有时开机出现干扰是什么原因？开机后仪器屏幕出

5、现测量状态箭头不能再次进行测量，就说明仪器受到了干扰。主要有两个原因:（1）开机时探头离铁基太近，因为铁基磁场的影响而受到了干扰。（2）没插好探头或者探头线有损伤。涂层和覆层测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对涂层覆层厚度测量有了明确的要求和规定。涂层厚度的测量方法主要有：楔切法涂层测量，光截法涂层测量，电解法涂层测量，厚度差测量法，称重法涂层测量，χ射线荧光法涂层测量，β射线反向散射法涂层测量，电容法涂层测量，磁性测量法和涡流测量法测量厚度等。这些方法中前五

6、种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。随着科学技术的日益进步，特别是近年来，采用磁性测量涂层的MC-2000系列和涡流法的MCW-2000B的涂层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一大步。测量的分辨率已达1微米，精度可达1%，有了大幅度的提高。涂层测厚仪适用范围广、量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的涂层测厚仪。