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时间:2020-09-26
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1、第七章C8051F系列单片机应用系统的开发7.1C8051F020实验系统7.2C8051F单片机实验项目7.3在KeiluVision2中进行C8051F系列单片机的软件开发和调试7.1C8051F020实验系统NMC-20XX核心模块压力传感器和调理电路电位调节直流电机测速和控制模块步进电机实验模块轻触按键和拨动开关12864点阵液晶显示模块HD7279芯片、按键和七段码显示模块红绿LED数码管RS232串口以太网接口电源开关7.1C8051F020实验系统实验系统可进行SOC单片机典型应用的实验,
2、包含三部分:SiliconLaboratories的SOC单片机开发工具;可用于以太网测控的NMC-20XX核心模块;系统实验板。系统性能和运行环境系统的主要性能指标:系统时钟最高可达25MHz。通过RS232接口(或USB)与PC机连接。支持汇编语言和C51源代码级调试。支持第三方软件工具(KeilC)。IDE软件运行环境Windows2000/XP操作系统32MbRAM40Mb自由硬盘空间空闲的COM口,配USB接口的调试电缆可以用USB接口。C8051F020实验系统连接和使用将JTAG扁平电缆一
3、端与适配器(EC2)连接,另一端与目标系统连接;将RS232串行电缆的一端与EC2连接,另一端接到PC机;给目标系统上电;插入CD并运行“SETUP.EXE”,将IDE软件安装到您的PC机,在PC机的开始菜单的“程序”项中选择SiliconLaboratoriesIDE,运行IDE软件。7.1.1C8051F单片机开发工具SiliconLaboratories的开发工具由IDE调试环境软件、适配器和电缆组成。C8051F系列所有的单片机片内均设计有调试电路,该调试电路通过边界扫描方式获取单片机片内信息,
4、通过4线的JTAG接口(有的型号使用二线(C2)接口)与开发工具连接,对单片机在片编程调试。适配器(EC2)一端与计算机相连,另一端与C8051F单片机JTAG口相连,应用SiliconLaboratories提供的IDE调试环境或Keil的uVision2调试环境就可以进行非侵入式、全速的在系统编程(ISP)和调试。IDE调试环境运行在PC机的Windows系统下,在调试状态下可以观察和修改单片机的存储器和寄存器;支持断点设置、观察点设置、堆栈指示器设置及单步运行、全速运行和停止运行等命令。调试时不需
5、要额外的目标RAM、程序存储器、定时器或通信通道,并且所有的模拟和数字外设都能正常工作。开发工具支持所有C8051Fxxx系列单片机,根据不同单片机型号的调试接口,采用JTAG或C2接口的适配器。7.1.2NMC-20XX核心模块简介NMC-20XX核心模块的外观可参见图中的标注,结构框图。该模块是为用于工业测控(包括以太网测控功能)而设计的,模块中使用C8051F020单片机,片外扩展了128KB的SRAM(UT62L1024芯片),以串行方式扩展了1MB的Flash存储器(AT45DB081芯片);
6、模块用4层PCB板设计,面积仅为42.5mm×53.8mm,模块上设计有连接C8051F020单片机的JTAG调试接口,有用于扩展和应用连接的2×40P双排针,该双排针可与不同用户设计的应用系统连接,在该实验系统上和系统实验板连接。NMC-20XX核心模块示意图单片机(C8051F020)F020I/O、AD引出2×40P双5排插针SRAM(UT6L1024)Flash(AT45DB081)网络芯片(RTL8019)日历时钟(P3530)JTAG调试接口实验箱实验模块步进电机NMC-20XX核心模块直
7、流电机RJ-45以太网测控RS-485串行口通讯RS232串行口通讯压力传感器模拟量输入JTAG适配器HD7279(4×4键6位LED)16个LED(D1~D16)8路开关量入(K1~K8)温度传感器DS18B20电位器电位AD输入实验箱和核心模块资源介绍(1)系统实验板除与NMC-20XX核心模块连接外,还配置了丰富的硬件资源,可根据需要安排多个实验内容。系统实验板与核心模块组成实验的目标系统,然后由运行在PC机上的集成开发软件、JTAG口的协议转换器(EC2),实现在系统开发调试。实验者可参照本章后
8、面的实验例程编译和下载各应用程序,也可独立设计程序(C或汇编),然后就可开始在系统调试了。该系统实验板由多个相对独立,又能组合的实验硬件模块组成。实验箱模块资源介绍(2)(1)HD7279芯片,6位LED数码显示与4×4键盘扫描电路;(2)开关量输出的D1~D16发光二极管;(3)8路开关量输入接口K1~K8,AN1~AN8;(4)DS18B20数字温度传感器;(5)电位器测量电压模拟输入电路;(6)压力应变片传感器模拟输入电路;(7)12
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