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《MTK平台校准原理-Shuai.ppt》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、MTK–GSM校準步驟Shuai一.AFC（自動頻率控制）校準校準目的： 校準AFCDAC值與TCVCXO輸出頻率（26MHz）之間的對應關係，使得測試接收信號的頻率誤差在允許範圍之內。由於GSM手機採用時分多址(TDMA)技術,以不同的時間段即時隙,來區分用戶,故手機與系統保持時間同步就顯得非常重要。若手機時鐘與系統時鐘不同步,則會導致手機不能與系統進行正常的通信。在GSM系統中,有一個公共的廣播控制通道(BCCH),它包含頻率校正資訊與同步資訊等。手機一開機,就會在邏輯電路的控制下掃描這個通道,從中獲取同步與頻率校正資訊，如手機系統檢測到手機的時鐘與系統不同步,手機邏輯電路就
2、會輸出AFC信號。AFC校準步驟校準步驟：1.控制綜測儀Agilent8960或者R&SCMU200設定在BCCH（廣播控制通道中的某一個通道arfcn_C0_GSM，並設定發射功率為PDL（dBm）；2.設定手機中頻部分的接收增益為：-35-PDL（dB），AFC_DAC值為DAC1（由板測軟體初始設定），軟體發出AFC測試請求，在arfcn_C0_GSM通道上得到N_AFC個採樣值，等待CPU計算出接收I/Q信號的頻率平均誤差：△f1；3.再設定手機中頻部分的接收增益為：-35-PDL（dB），AFC_DAC值為DAC2（由板測軟體初始設定），這裡DAC2>DAC1，軟體發出
3、AFC測試請求，在測量通道上的到N_AFC個採樣值，等待CPU計算出接收I/Q信號的頻率平均誤差：△f2；4.計算AFCDAC斜率為：Slope=（△f2-△f1）/（DAC2-DAC1）;由得到的Slope值及DAC1再計算得到初始DAC值：INIT_AFC_DAC為：UseDefaultValue=△f1/Slope+DAC1;注：arfcn_C0_GSM、PDL、DAC1、DAC2、N_AFC均在板測設定檔HA05_DVT1-3_2G.CFG中初始設定，如下：AFC在CFG文件中的SPECarfcn_C0_GSM=65； 定義用於AFC測試的通道為65; P_D
4、L=-60； 定義綜測儀發射功率為-60dBm；N_AFC=20； 定義AFC測量此時為20次；DAC1=3500； 定義DAC1初始值為3500；DAC1=4500； 定義DAC2初始值為4500；判斷該項板測結果是否通過，即看得到測量結果值：Slope、INIT_AFC_DAC是否在上下限值之內，該限值亦在板測設定檔HA05_DVT1-3_2G.CFG中設定，如下：[AFCtable]//AFCDAC參數表MAX_INIT_AFC_DAC=6000 MIN_INIT_AFC_DAC=3000；（即定義IN
5、IT_AFC_DAC最大不超過6000，最小不小於3000）MAX_AFC_SLOPE=4.0 MIN_AFC_SLOPE=1.0；（即定義Slope值最大不超過4.0，最小不小於1.0）ATE測試LOG(DAC1,△F1)(DAC2,△F2)下圖為測量頻率平均誤差對DAC值曲線，呈線性關係，直線的斜率為Slope。 校準結果示例如下（產線log）：AFCCalibrationOK;AFC校準完成；Slope=3.062000;校準得到的斜率：Slope=3.062000 UseDefaultValue=3647 ;校準得到的頻率誤差最小值對應的AFCDAC值=3647影響A
6、FC的主要方面：1.26MHz時鐘振盪器VCTCXO存在的不良，主要指存在頻率偏差；2.VAFC控制信號存在線路的不良或控制錯誤；3.射頻接收路經存在的不良，如斷路、器件虛焊、器件不良、及中頻內部的頻率解調電路存在的不良等；4.CPU在RF接收部分存在的不良；二.RXPathLoss（接收路徑損耗）校準校準目的：校準射頻接收路徑的損耗值。 校準步驟：1.控制控制綜測儀Agilent8960或者R&SCMU200設定在通道ARFCNi（i由1到12），綜測儀發射功率設定為PDL（dBm）；2.設定手機中頻部分的接收增益為：-35-PDL（dB），測量N_PMframes及M_PMs
7、amples；3.等待CPU計算出接收的DSP功率，從而計算出射頻接收端的功率值：PDL,req，從而估計出路徑損耗為：△Li（dB）=PDL-PDL,req；重複1-3步，直到計算出GSM設定各通道的補償值；重複1-4步，直到GSM、DCS頻段的補償值；注：預定的校準通道ARFCNi在板測初始設定檔案：DVT2_2G_CAL.INI中初始設定。MaxARFCN=15,30,45,60,75,80,100,124,975,1000,1023,-1;設定需校準的通道為15,30,4
