ct图像的主要伪影

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时间:2017-12-14

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1、陈永丽CT伪影及校正算法双击添加主标题主要内容1CT图像的主要伪影2CT图像伪影的产生原因3伪影校正算法介绍4总结广义上讲:又称伪影或伪迹,可以定义为图像重建过程中测量到的衰减系数与受检物体断层真实衰减系数的差异。什么是伪影?狭义上讲:伪影是指在CT断层成像过程中,所有不同类型非随机性的干扰在图像上的表现,它对应的是受检体中根本不存在的组织和病灶。伪影在图像上的表现形式条状伪影阴影环状伪影CT图像的主要伪影CT图像伪影的危害伪影会使图像发生退化,使得切片内的结构、密度、特征尺寸、成分变化等物理、化学性质无法精确地判读和计量,在医学上会导致某些病变组织的漏诊,在工业上则会则将细微裂纹

2、、疏松等缺陷掩盖起来。1.整体系统设计2.X射线源3.X射线探测器4.探测对象1.分布扫描模式2.螺旋模式概括起来说CT图像伪影的产生原因不同的数据采集方式CT系统CT图像伪影的产生原因同样一种表现形式的伪影,可以由很多的因素引起。但是在一个特定的CT系统中,总会有一个引起伪影的主导因素。因此,我们应该针对这个主导因素,寻求最合适的抑制或消除伪影的方法。CT图像伪影的产生原因伪影校正算法从抑制不同表现形式的伪影的角度,可把现有的算法大致分为校正rings状伪影校正streaking状伪影校正shading状伪影校正rings状(cupping状)伪影伪影校正算法主要成因:由射束硬化

3、导致常用用校正算法双能法预处理法多项式拟合法迭代法X射线管发出的射线是由能量大小不等具有宽能谱的光子组成。由于光电效应的作用,当多色X射线束与物质相互作用时,能量高的射线穿透力强,能量低的穿透力较弱,随着透照厚度的增加,射束中的低能部分所占的比例变得越来越低,射束有效能量向高能量方向移动,射束变得更难衰减、变得更“硬”,这就是“射束硬化”什么是射束硬化?伪影校正算法伪影校正算法穿透长度与投影数据成线性关系穿透长度与投影数据成非线性关系当射线源为多色时,此时多色投影数据变为:为射线的能谱分布根据beer定律,当射线能量是恒定或是单能时,强度为,能量为的射线穿过物体时,获得的单色投影数

4、据表示为:表示能量为的射线在x处的线性衰减系数r表示X射线穿过待测物体的路径伪影校正算法多项式拟合法本质就是建立投影数据与透射厚度之间的关系多项式,将被测物厚度与投影值的曲线从非线性的关系调整到线性的对应关系,利用原始的多能数据得到相应的单能数据多项式拟合法伪影校正算法选择梯状或饼形工件模型在一定射线管电压下测得几组多色投影数据p与穿透厚度x的数据利用多项式进行拟合,得到投影数据p与穿透厚度x间的关系,(1)得到1式的反函数(2)利用等效投影数据进行CT图像的重建将等效投影厚度代入下式得到等效的单色投影数据将实验得到的多色投影代入2式,求得等效的透射厚度校正streaking状伪影

5、主要成因:多由金属引起,也称此类伪影为金属伪影伪影校正算法常用校正算法插值法迭代法髋关节假体CT扫描图在临床上,有时会碰到如病人口腔镶牙或肾脏插有银夹等情况,由于金属对X射线的吸收率非常高,X射线透过金属时,几乎都被吸收,从而使对面的探测器探测不到X射线,因此读取的投影值异常地大.伪影校正算法金属伪影的产生原因口腔金属假牙部位的断层图像伪影校正算法插值法校正流程图一幅含有金属伪影的图像通过合适的灰度域值s分割出只含有金属区域的灰度的图像。伪影校正算法含有金属伪影的图像分割后的金属图像正投影对分割出的金属区域在相同的几何结构条件下进行正投影,便可以得到投影空间中金属投影区域在每个不同

6、角度下的边界金属区域的正投影伪影校正算法在某一特定的扫描角度下,投影空间{g}中内的投影值由金属投影和相应扫描角度下的非金属投影两部分组成。可由线性插值后的结果来代替:表示探测器的位置既然金属伪影是由金属很大的投影值引起,那么,简单的取伪影校正算法经过校正后,每个扫描角度β下用来重建的投影数据为:校正之前与校正之后投影数据正弦图对比:伪影校正算法对校正后的投影数据利用滤波反投影算法得到图像,图中的暗斑就是原来的金属区域补偿金属区域部分伪影校正算法校正shading状伪影伪影校正算法成因:多由散射导致常用校正算法硬件校正方法软件校正法卷积法反卷积法MonteCarlo模拟法结合散射模

7、型的有序子集凸面法X射线与物质相互作用时,部分光子会发生康普顿散射。散射光子会偏离原来的运动路径,其能量要比入射的初始光子能量低,这样进入探测器的光子既包含初始光子也包括散射光子,散射光子会使探测器探测到虚假信息导致重建图像中的像素CT值偏高,形成伪像。康普顿散射示意图伪影校正算法什么是康普顿散射?MonteCarlo模拟法伪影校正算法蒙特卡罗(MonteCarlo,MC)模拟方法采用计算机模拟来得到图像的散射分布,进而扣除散射影响,应用此方法的前提是要求已知被检测物

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