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时间:2020-04-24
《银吸收边附近X射线衰减系数测量-论文.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、第26卷第7期强激光与粒子束Vo1.26,NO.72014年7月HIGHPOWERLASERANDPARTICIEBEAMSJu1.,2O14银吸收边附近X射线衰减系数测量易荣清,马陈燕,樊启文。(1.中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳621900;2.中国科学院高能物理研究所,北京100049;3.中国原子能科学研究院,北京1024l3)摘要:在北京同步辐射装置的4B7A中能x光束线上,光源能区为2.1~6.0keV,能量分辨大于5000,高次谐波小于0.1,光源强度大于1O。光子/s。通过全能区多能点的透过率精确测量A
2、g样品质量厚度,然后采用Ag薄膜对单能x光子的透过率进行测量,给出了Ag薄膜在吸收边(3.4~3.9keV)的衰减系数。建立了Ag样品吸收边附近衰减系数同步辐射测量方法。通过不确定度分析给出衰减系数测量确定度小于1,填补了在该区间衰减系数的空白。关键词:衰减系数;同步辐射;吸收边;不确定度中图分类号:0436.2文献标志码:Adoi:10.11884/HPIPB201426.074006元素的衰减系数在x光学研究中是一个非常重要的参数,在X光谱学和物质结构方面有广泛的应用前景,尤其在激光聚变实验研究(ICF)领域具有广泛的用途[1]
3、。在实验诊断方面,利用物质的衰减系数可以选择金属薄膜的厚度,从而进行X光能道选择和强度控制,另外在X光诊断技术研究方面具有重要应用;例如目前x光针孑L相机、软x光能谱仪、三色谱仪等设备都采用金属薄膜选通,利用他们的衰减系数可以计算测量的X光成分。在物理实验研究方面,各种聚变物理过程一维物理规律实验研究中估算实验结果,在目前黑腔物理、辐射烧蚀与冲击波特性研究、不透明度参数、流体力学不稳定性等实验课题中广泛应用。Henke穷其一生,利用Henke光源进行衰减系数实验和理论研究,获得了大量元素的衰减系数[6,为广大的科技人员在X光学方面的
4、研究提供了重要的参数,为X光学研究作大的贡献。由于Henke光源条件的限制,不能给出非常细致的衰减系数,尤其在材料的吸收边附近,口发收系数非常复杂,利用Henke光源是研究不清楚的。北京同步辐射装置(BSRF)的4B7A中能X光束线,具有较高的能量分辨,较小的高次谐波,非常合适研究这段能区材料的衰减系数。国际上有许多人在研究材料的衰减系数,如:1957年,美国标准计量局(NBS)的GladysWhiteGrodstein发表了10keV到100MeV能区的X射线衰减系数,1981年Henke发表了低能X射线相互作用_7,2000年澳
5、大利亚墨尔本大学的Chantler等人发表了材料在0.1keV到10keV能区的衰减系数等等【,但是,他们都没有给mAg在吸收边附近的衰减系数。本文利用高分辨的光源,通过Ag薄膜透过率的测量研究吸收边附近X射线衰减系数。l光源介绍北京同步辐射4B7A中能束线。。是中科院高能所与中物院激光聚变研究中心共同投资,由中科院高能所同步辐射实验室承建的一台大型实验装置(原来建在13号大厅,原名3B3中能束线,由于BEPCII,升级工程,搬迁到12号大厅,改名为4B7A),如图1所示,由前置镜、双向聚焦镜、双晶单色器系统、超高真空及控制系统等组
6、成,是目前国内唯一一条中能x射线光束线。光束线采用硅双晶单色器,光源能区从2100~6000eV,光谱强度10。~10“光子/s;能量分辨好于5000;高次谐波小于0.1。Fig.14B7AX—raybeamlineontheBSRF2测量原理图1北京同步辐射4B7A光束线实验安排如图2所示,让单色X光通过被测量的样品*收稿日期:20131112;修订日期:2O14—0105基金项目:国家重大专项项目作者简介:易荣清(1964),研究员,主要从事激光等离子体诊断和软x射线计量学研究;yrq@sina.COnl。强激光与粒子束后照射在
7、探测器上,探测器型号AXUV一100G,美国IRD公司研制,探测器产生信号电流i,用电流计测量,电流计型号6517A,美国吉时利公司生产;然后移开样品,样品安装在电机上,通过程序由计算机控制移人和移出光路,每一次操作约30S,复位精度小于0.1mm。让单色X光直接照射在探测器上产生电流,用电流计测量探测器的输出电流。,那么,样品的透过率rT—exp(-)一li(1)~』0式中:是Ag材料的衰减系数;d是Ag样品的质量厚度,单位是~g/cm通过等式变换,可以给出样品材料的~衰减系数a_~~_r一一署lnT一一吉ln(2)S图一暖释露露
8、霹飘骶曩羽hOmochromvX-ray比碰矬进出&益监⋯一Fig.2Experimentalsetup图2实验安排3实验测量3.1Ag薄膜质量厚度的确定由式(2)可以知道,要给出薄膜的衰减系数,必须知道薄膜的厚度,利用北京同步辐射装
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