电子元器件可靠性老化筛选规定.doc

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1、电子产品及元器件可靠性老化筛选规定1范围为了规范电子产品及元器件可靠性老化筛选符合产品设计要求特制订本企业标准。本标准规定了电子产品高温老化试验及外购电子元器件进厂后，进行可靠性老化筛选的项目、条件及筛选后的检查、处理。剔除早期失效的器件，提高产品的可靠性。本标准适用于所有装有电子元器件的产品，除非产品另有规定。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本规范。然而鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本规范。GB/T2828

2、-87抽样检验标准3老化筛选项目及条件3.1半导体器件、集成电路低温贮存：非工作状态下，将器件贮存在温度－25±3℃的低温箱中，保持4h，常温下测试电参数。高温贮存：非工作状态下，将器件贮存在温度＋125±3℃的高温箱中，保持4h，常温下测试电参数。3.2继电器低温运行：将继电器置于温度－25±3℃的低温箱中，保持1h，通电工作后测量低温下的释放电压，然后在此低温下，触点回路中加阻性负载，以(2～5)次/s的速率动作200次后，检测每对触点的接触电压或接触电阻。高温运行。将继电器置于温度＋70±3℃的高温箱中，保持1h，通电工作后测量高温下的释放电压，然后在此温度下触点回路中加阻性负载，以

3、(2～5)次/s的速率动作200次后，检测每对触点的接触电压或接触电阻。注:以上筛选设备条件如暂时不具备时，可由工艺人员根据现有设备条件实施。4筛选检查4.1文件编制元器件老化筛选由工艺人员编制筛选工艺，规定老化筛选程序、使用设备、测量仪器、工艺装置及操作、检测方法和要求。4.2检验种类对进行老化的元器件实行全检。4.3检验电性能的项目4.3.1电阻器2006-07-08发布2006-07-28实施4.3.1.1电阻器的额定功率6Q/HSG462-2006电阻器的额定功率系指电阻器在直流或交流电路中，当大气压力为750±30mmHg，在产品标准中规定的温度下，长期连续负荷所允许消耗的最大功

4、率。所选用电阻的额定功率应是该电阻实际承受功率的1.5～2倍。4.3.1.2电阻器所用材料及代表符号电阻器所用材料及代表符号见表1。表1电阻器所用材料及代表符号材料碳膜金属膜金属氧化膜氧化膜合成膜线绕有机实芯无机实芯沉积膜符号TJYGYHXSNC4.3.1.3电阻器色圈标志代表的意义电阻器色圈标志代表的意义见表2。表2电阻器色圈标志代表的意义颜色标志及代表意义第一色圈代表有效数字第二色圈代表有效数字第三色圈代表乘数第四色圈代表允许偏差第五色圈代表需要时作第三位有效数字示图黑00100╱0棕11101±1％1红22102±2％2橙33103╱3黄44104╱4绿55105╱5蓝66106╱6

5、紫77107╱7灰88108╱8白99109╱9金色╱╱10-1±5％╱银色╱╱10-2±10％╱无色╱╱╱±20％╱4.3.1.4电阻器允许偏差的标志符号电阻器允许偏差的标志符号见表3。表3电阻器允许偏差的标志符号允许偏差（%）±0.05±0.1±0.25±0.5±1±2±5±10±20±30标志符号WBCDFGJKMN4.3.2电位器电位器在旋转时，其相应的阻值依旋转角度而变化，变化规律有三种形式见图1。X──为直线式D──为对数式Z──为指数式图1阻值与旋转角度的变化规律6Q/HSG462-20064.3.3压敏电阻抑制浪涌电流和雷电引起电源电压变化时，对电路起到保护作用，正常情况下

6、电阻阻值呈开路，当电源电压瞬间超过其压敏电阻电压时，阻值发生变化，瞬时电压越高，阻值越小，通过的电流也越大。对于过压保护方面的应用，实际数量是直流工作电压的1.5倍，在交流状态下要考虑电压峰值，因此还要扩大倍。4.3.4电容器电容器就是由中间夹有电介质的两块金属板（或金属厚膜电板）所构成的元件。它具有贮能、隔直流和分离多种频率的能力，广泛应用于隔直流、耦合、旁路、滤波、调谐、能量转换等电路中。4.3.4.1电容温度系数温度变化一度时所引起的电容量的变化率称为电容温度系数。4.3.4.2电容器绝缘电阻电容器所加直流电压V与其新产生的漏导电流之比为该电容器的绝缘电阻。电解电容器的绝缘电阻常以其

7、漏导电流表示。漏导电流与电容器容量C及所施加的电压V有关。4.3.4.3电容器的无功功率电容器所能贮存的功率俗称无功功率。4.3.4.4电容器的有功功率电容器中的能量损耗即为有功功率。漏导电流是使电容器消耗能量而发热的电流。4.3.4.5电容器损耗角（损耗角δ）正切（tgδ）电容器有功功率与无功功率之比即为它的损耗角正切tgδ。4.3.4.6电容器的工作电压（额定电压V）电容器在一定环境条件下，一定期间内能可靠地工作的电