GBT 2423.27-2020 环境试验 第2部分：试验方法 试验方法和导则：温度低气压或温度湿度低气压综合试验.pdf

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1、ICS19.040K04中华人民共和国国家标准GB/T2423.27—2020/IEC60068-2-39:2015代替GB/T2423.25—2008,GB/T2423.26—2008,GB/T2423.27—2005环境试验第2部分:试验方法试验方法和导则:温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验Environmentaltesting—Part2:Testmethods—Testmethodandguidance:Combinedtemperatureortemperatureandhumiditywithlowairpressu

2、retests(IEC60068-2-39:2015,Environmentaltesting—Part2-39:Tests—Testsandguidance:Combinedtemperatureortemperatureandhumiditywithlowairpressuretests,IDT)2020-06-02发布2020-12-01实施国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会GB/T2423.27—2020/IEC60068-2-39:2015目次前言……………………………………………………………………………………………

3、……………Ⅲ引言…………………………………………………………………………………………………………Ⅳ1范围………………………………………………………………………………………………………12规范性引用文件…………………………………………………………………………………………13术语和定义………………………………………………………………………………………………14试验方法…………………………………………………………………………………………………15最后检查…………………………………………………………………………………………………66相关规范应给

4、出的信息…………………………………………………………………………………67试验报告应给出的信息…………………………………………………………………………………6附录A(资料性附录)温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验指南………………………………8附录NA(资料性附录)GB/T2423的组成部分………………………………………………………9参考文献……………………………………………………………………………………………………12ⅠGB/T2423.27—2020/IEC60068-2-39:2015前言GB/T2423《环境试验第2部分:试

5、验方法》按试验方法分为若干部分。GB/T2423的组成部分参见附录NA。本部分为GB/T2423的第27部分。本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分代替GB/T2423.25—2008《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/AM:低温/低气压综合试验》、GB/T2423.26—2008《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/BM:高温/低气压综合试验》和GB/T2423.27—2005《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验》。本部分与GB/T2423.25

6、—2008、GB/T2423.26—2008和GB/T2423.27—2005相比,主要技术变化如下:———合并了GB/T2423.25—2008、GB/T2423.26—2008和GB/T2423.27—2005的主要技术内容,并对本部分的结构进行重新编排;———删除了“试验的一般说明”“试验设备的说明”等方面的内容;———删除了试验中对散热试验样品与非散热试验样品的区分;———增加了附录A“温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验指南”。本部分使用翻译法等同采用IEC60068-2-39:2015《环境试验第2-39部分:试验试验方

7、法和导则:温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验》。与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:———GB/T2421—2020环境试验概述和指南(IEC60068-1:2013,IDT)———GB/T2423.3—2016环境试验第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验(IEC60068-2-78:2012,IDT)本部分与IEC60068-2-39:2015相比,主要做了下列编辑性修改:———本部分名称改为《环境试验第2部分:试验方法试验方法和导则:温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验》;———增加了资料性

8、附录NA“GB/T2423的组成部分”。本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC8)提出并归口。本部分起草单位:中国电器科学研究院股份有限公司、深圳市优瑞特检测技术有限公司、