物位测量仪表试题5.27(带答案).doc

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1、物位测量仪表试题姓名分数一、选择题1、一般将（液位、料位、界位）总称为物位。2、浮力液位计包括（恒浮力式）和（变浮力式）。3、压力式液位计一般适于测量（敞口）容器的液位，差压式液位计一般适于测量（闭口）容器的液位。4、翻板液位计应（垂直）安装，连通容器与设备之间应装有（阀门），以方便仪表维修、调整。5、当浮筒液位计的浮筒被腐蚀穿孔或被压扁时，其输出指示液位比实际液位（偏低）。6、用浮筒式液位计测量液位时的最大测量范围就是（浮筒的长度）。7、和介质不接触的物位计有（雷达）、（超声波）、（激光）物位计和核辐射物位计。

2、8、玻璃液位计是根据（连通器）原理工作的。9、静压式液位计是根据流体（静压）平衡原理工作的。10、法兰式差压变送器的型号后面带"A"表示可进行（正）迁移，带"B"表示可进行（负）迁移。11、浮筒式液位计测量液位是基于（阿基米德）原理。12、浮球式液位计是根据（恒浮力）原理。13、静压式液位计是根据流体（静压）平衡原理而工作的，它可以分为（压力）和（压差）式两大类。14、测量液位用的差压计，其差压量程由介质（密度）决定，与封液密度（无）关。15、用浮筒式液位计测量液位计时的最大测量范围就是（浮筒）的长度，液位处于最

3、高时，浮筒液位计的浮筒（全部）被液体浸没，浮筒所受的浮力（最大），扭力管所产生的扭力矩（最小），输出信号（最大）。16、属于浮力式液位计的有（浮子式）、（浮筒式）、（浮球式）液位计。17、我公司液位、物位测量仪表有（单法兰）（双法兰）（雷达）（超声波）（磁翻板）（玻璃板）等类型。18、ECH罐区灌顶安装的液位计为（雷达液位计）。19、差压变送器测量液位是检测（差压）信号来测量。20、雷达液位计一般安装在液面（上方）。二、判断题1、双法兰变送器测液位时，其量程范围与表头安装高度有关。(×)2、校验时把浮筒室底部放空

4、阀打开，接一塑料管进行灌水校验，这塑料管一定要和浮筒一样垂直才能保证校验准确。（×）3、浮子沾污后对精度影响不大。（×）4、浮球液面计平衡锤在最上时，实际液面最高。（×）5、超声波物位计是应用回声测距法的原理制成的一种物位仪表。（√）6、雷达液位计是一种接触测量介质的物位测量仪。（×）7、超声波物位计耐高温，因此它可用于测量高温、高压、易燃、易爆、易凝等介质的测量超声波物位计。（×）8、多个测温元件共用一台显示仪表时，使用指示值一般在满量程的二分之一至四分之三。（√）9、流体的密度与温度和压力有关.其中气体的密度

5、随温度的升高而减小，随压力的增大而增大;液体的密度则主要随温度的升高而减小，而与压力的关系不大。√10、浮筒液面计测量液面时,为了保证浮筒在浮筒室内自由运动,因此浮筒液位计的垂直安装要求非常严格.（×）11、在用差压变送器测量液位的液面时,差压计的安装高度可以不作规定,只要维护方便就行.（×）12、将物位的变化转化为压力或压差的方法可以测量物位。（√）13、在未加迁移时，测量起始点为零，如果测量的起始点由零变为某一正值时，则称为正向迁移。（√）14、浮球式液位计是依据变浮力原理制成的，浮筒液位计是依据恒浮力原理制

6、成的。（×）15、静压式液位计是利用液面高度变化时，容器底部或侧面某点上的静压力也将随之变化的原理进行测量的。（√）16、为了使浮筒液位计能测到准确而平稳的液位，液位计的传感元件必须避开物料的直接冲击，最好安装在液体的死角处。（×）17、用单法兰液位计测量开口容器内的液位时，仪表的量程是指当液位由最低升到最高时，液面计上所增加的压力。（√）18、压力式液位计可用来测量敞口容器或密闭容器中的介质液位。（×）19、用静压式液位计测量液位时，介质密度变化对测量无影响。（×）20、用压力法测量开口容器液位时，液位的高低取

7、决于取压点位置和介质密度（√）三、选择题1、扭力管浮筒液面计的浮筒破裂，则仪表指示为（B）A）最大B）最小C）不定2、在用浮球液面计测量液面时，若浮球脱落，则仪表输出指示（B）。（A）最小（B）最大（C）回零（D）不变3、浮筒式液位变送器在现场调节零位时，浮筒内应（A）。（A）放空（B）充满被测介质（C）充满水（D）有无介质不影响4、在实际生产中，当差变的安装位置高于容器内最高液位时，则隔离液的密度(ρ2) 与介质密度（ρ1）的关系是（B  ）。  A.ρ2＞ρ1  B.ρ2＜ρ1  C.ρ2=ρ1  D.ρ2≥

8、ρ15、用差压法测量容器波位时，液位的高低取决于(C)A容器上、下两点的压力差和容器截面B压力差、容器截面和介质密度；C压力差、介质密度和取压点位置。D容器截面和介质密度6、用压力法测量开口容器液位时，液位的高低取决于(B)A取压点位置和容器横截面；B取压点位置和介质密度；C介质密度和容器横截面。D取压点位置7、超声波物位计是通过测量声波发射和反射回来的（A）差来测量物位