常用表征手段.doc

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1、X-RayPhotoemissionSpectrometry---XPS---X射线光电子光谱法X-RayDiffraction---XRD---x射线衍射Ultravioletphotoemissionspectroscopy---UPS---紫外光电子能谱Vibrationalspectroscopy---振动光谱InfraredSpectroscopy---IR---红外光谱DiffuseReflectanceInfraredSpectroscopy---DRIFTS--漫反射红外光谱RamanSpectroscopy

2、---拉曼光谱HighResolutionElectronEnergyLossSpectroscopy---(HREELS)---高分辨电子能量损失谱ElectronSpinResonance---(ESR)---电子自旋共振TemperatureProgrammedDesorption---(TPD)---程序升温GasChromatography---(GC)---气相色谱MassSpectrometry---(MS)---质谱Ion-Molecule-ReactionMassSpectrometry---(IMR-MS

3、)---离子分子反应质谱TemperatureProgrammedReaction---(TPR)---程序升温反应SecondaryIonMassSpectrometry---(SIMS)---二次离子质谱MossbauerSpectrometry---穆斯堡尔光谱EnergyDispersiveAnalysisofX-rays---(EDX)---分析能量色散X射线ScanningElectronMicroscopy---SEM---扫描电子显微镜TransmissionElectronMicroscopy---TEM-

4、--透射电子显微镜ScanningProbeMicroscopy---SPM---扫描探针显微镜AtomicForceMicroscopy---AFM---原子力显微镜，ScanningTunnelingMicroscopy---STM---扫描隧道显微镜ExtendedX-RayAbsorptionFineStructureSpectrometry---EXAFS---扩展X射线吸收精细结构光谱X-RayAbsorptionNearEdgeStructure---XANES---X射线吸收近边结构Low-energyEle

5、ctronDiffraction---LEED---低能电子衍射仪，ReflectionHigh-energyElectronDiffraction---RHEED---反射高能电子衍射BrunnerEmmettTellerMethod---BET---比表面积法NuclearMagneticResonance---NMR---核磁共振IonScatteringSpectrometry---ISS---离子散射光谱法Atomforcemicroscopy---AFM---原子压力显微镜AugerElectronSpectro

6、scopy---AES---俄歇电子谱Thermogravimetry---TGA---热重分析Diff.ThermalAnalysis---DTA---差热分析