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时间:2020-06-18
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1、1.场效应管N沟道和P沟道判断方法(1)场效应管的极性判断,管型判断(如图)G极与D极和S极正反向均为∞(2)场效应管的好坏判断把数字万用表打到二极管档,用两表笔任意触碰场效应管的三只引脚,好的场效应管最终测量结果只有一次有读数,并且在500左右。如果在最终测量结果中测得只有一次有读数,并且为“0”时,须用表笔短接场效应管识引脚,然后再测量一次,若又测得一组为500左右读数时,此管也为好管。不符合以上规律的场效应管均为坏管。场效应管的代换原则(注:只适合主板上场效应管的代换)一般主板上采用的场效管大多为绝缘栅型增
2、强型N沟通最多,其次是增强型P沟道,结型管和耗尽型管一般没有,所以在代换时,只须在大小相同的情况下,N沟道代N沟道,P沟道代P沟道即可。2.如果要问更简单的测试方法,就是:找一块有R*10K挡的指针表,将表打在R*10K挡,把管子放在绝缘好的板上,(因为场效应管的输入阻抗非常高),如万用表的玻璃上,先用镊子短路一下管脚,用黑笔定住D极,红笔定住S极,用一个手指摸G极,另一手指摸黑笔,这时候表针大幅度偏转,摸着G极的手指不放,摸着黑笔的手指放开黑笔,去摸红笔,这时表针反偏,再摸黑笔正偏,又摸红笔又反偏,正常的管子偏
3、转脚度非常大,接近0欧姆,坏的管子不偏转,(不包括击穿),性能变坏的偏转小。由于管子结构不同,在正偏时手指放开黑笔后表针反不反偏都为正常。(就是有的还是保持在0欧姆左右,有的手指放开黑表笔后表针就回到无穷大)。原理就是给控制栅极(G)加个高或低的电位,使其导通或截止。3.部分供电MOS管电压计算方法电路如图,这里常见MOS的S极输出电压计算与输入电压没有关系,和431上端的电阻也无关系,与图中的VCC也无关系(R1/R2的VCC有效,除外)Vout=VrefX(Ra+Rb)/Ra而Vref仅由R1、R2决定R1R
4、2RaRb四个电阻的人为修改,均可直接改变MOS输出电压其实11171084等器件内部也就是这样的新手知识:MOS管原理双极型晶体管把输入端电流的微小变化放大后,在输出端输出一个大的电流变化。双极型晶体管的增益就定义为输出输入电流之比(beta)。另一种晶体管,叫做场效应管(FET),把输入电压的变化转化为输出电流的变化。FET的增益等于它的transconductance,定义为输出电流的变化和输入电压变化之比。场效应管的名字也来源于它的输入端(称为gate)通过投影一个电场在一个绝缘层上来影响流过晶体管的电流
5、。事实上没有电流流过这个绝缘体,所以FET管的GATE电流非常小。最普通的FET用一薄层二氧化硅来作为GATE极下的绝缘体。这种晶体管称为金属氧化物半导体(MOS)晶体管,或,金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)。因为MOS管更小更省电,所以他们已经在很多应用场合取代了双极型晶体管。首先考察一个更简单的器件-MOS电容-能更好的理解MOS管。这个器件有两个电极,一个是金属,另一个是extrinsicsilicon,他们之间由一薄层二氧化硅分隔开(图1.22A)。金属极就是GATE,而半导体端就是backgat
6、e或者body。他们之间的绝缘氧化层称为gatedielectric。图示中的器件有一个轻掺杂P型硅做成的backgate。这个MOS电容的电特性能通过把backgate接地,gate接不同的电压来说明。图1.22A中的MOS电容的GATE电位是0V。金属GATE和半导体BACKGATE在WORKFUNCTION上的差异在电介质上产生了一个小电场。图示的器件中,这个电场使金属极带轻微的正电位,P型硅负电位。这个电场把硅中底层的电子吸引到表面来,它同时把空穴排斥出表面。这个电场太弱了,所以载流子浓度的变化非常小,对
7、器件整体的特性影响也非常小。图1.22B中是当MOS电容的GATE相对于BACKGATE正偏置时发生的情况。穿过GATEDIELECTRIC的电场加强了,有更多的电子从衬底被拉了上来。同时,空穴被排斥出表面。随着GATE电压的升高,会出现表面的电子比空穴多的情况。由于过剩的电子,硅表层看上去就像N型硅。掺杂极性的反转被称为inversion,反转的硅层叫做channel。随着GATE电压的持续不断升高,越来越多的电子在表面积累,channel变成了强反转。Channel形成时的电压被称为阈值电压Vt。当GATE和
8、BACKGATE之间的电压差小于阈值电压时,不会形成channel。当电压差超过阈值电压时,channel就出现了。图1.22MOS电容:(A)未偏置(VBG=0V),(B)反转(VBG=3V),(C)积累(VBG=-3V)。图1.22C中是当MOS电容的GATE相对于backgate是负电压时的情况。电场反转,往表面吸引空穴排斥电子。硅表层看上去更重的掺杂了,这个器件被
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