荧光光谱仪与直读光谱仪的区别.doc

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1、X-荧光光谱仪与火花直读光谱仪的区别和联系1、分析原理：X—荧光光谱分析仪——是利用高能量的X光，打击试样，使试样中被测元素的内层电子被激发打走，次内层电子回落到内层，同时产生一个光子，这个光子具有特定的频率，与其他原子同样条件下产生的光子不同，仪器再经过光栅色散，把这一种元素产生的单色光分离出来，再利用一个光电管，把这一种光信号转变为电信号，这个电信号与试样中被测物质的含量成一定的比例关系。但是这样并不能获得试样中被测物质的含量，还必须与标准试样在同样条件下获得的电信号进行比较才能获得试样中被测物质的百分含量。 荧光光谱仪原理，当能量高于原子内层电子

2、结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为(10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态.这个过程称为驰豫过程.驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子.X荧光光谱法也是一种发射光谱法，但它的激发过程是利用光来激发，而且辐射的波长在比紫外更短的X射线区。2、分析特点X——荧光

3、光谱分析仪的特点是，仪器由计算机控制，自动化水平高，分析速度快，它不需要象火花(光电)直读光谱那样要求试样具有导电性，所以可以完成非金属试样的分析，它可以同时完成多个被测元素或者被测组分的百分含量，如Mg、Al、Zn、Mn、Si、Cu、Ni、Fe、Be、Sr、MgO、Al2O3、SiO2、CaO及稀土等可以同时完成。一般多数用户的X—荧光光谱分析仪仅专门用来分析精矿粉、石灰、青石、白云石、炉渣、熔剂等不导电的试样。同时它也可以进行金属材料等导电试样的分析。其他特点与直读光谱相同。X射线荧光直读光谱仪可以分析粉末样品、熔融样品、液体样品、固体样品等，非金

4、属或金属都可以分析；火花直读光谱仪只能分析固体样品，而且要求样品是导电介质，简单的说就是分析金属固体样品中的金属或者非金属元素。主要用途：仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。火花直读及ICP用来做

5、纯金属,火花直读对样品要求比ICP要求高,X荧光用来做合金,但也可以做纯金属,但他的效率就不及火花直读了.但在做纯金属主量元素分析时,火花直读和ICP是间接分析,而X荧光可以直接分析主量元素.精度(分析正确度)除了ICP以外，直读光谱和Ｘ荧光都依靠标准样品的质量。如果，不能准备完全的标准样品，不可能得到标准偏差。标准样品是当然一定要没有偏析，正确的标准值。X射线荧光光谱法有如下特点：分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm

6、量级，元素稍差；分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。