无损检测--试题.doc

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1、1.原子序数Z等于原子核中的质子数量。(○)2.原子序数相同而原子量不同的元素,我们称它为同位素。(○)3.放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。(×)4.将元素放在核反应堆中受过最中子轰击,从而变成人造放射性同位素,这一过程称为“激活”。(○)5.与Ir192相比,Se75放射性同位素的半衰期更短,因此其衰变常数λ也更小一些。(×)6.射线能量越高,传播速度越快,例如γ射线比X射线传播快。(×)7.当X射线经过2个半价层后,其能量仅仅剩下最初的1/4。(×)8.X射线的波长与管电压有关。(○)9.一种同位素

2、相当于多少千伏或兆伏能力的X射线机来做相同的工作,这种关系叫做同位素的当量能。(○)10.同能量的γ射线和X射线具有完全相同的性质。(○)11.X射线的强度不仅取决取X射线机的管电流而且还取决于X射线机的电压。(○)12.随着入射光子能量的增大,光电吸收系数迅速减少,康普顿衰减系数逐渐增大。(×)13.当射线能量在1.02MeV至10MeV区间,与物质相互作用的主要形式是电子对效应。(×)14.当射射线穿过三个半价层后,其强度仅剩下最初的1/8。(○)15.放射性同位素的当量能总是高于其平均能。(○)16.高速电子与靶原子的轨道电子相撞

3、发出X射线,这一过程称作韧致辐射。(×)17.连续X射线的能量与管电压有关,与管电流无关。(○)18.标识X射线的能量与管电压、管电流均无关,仅取决于靶材料。(○)19.在管电压、管电流不变的前提下,将X射线管的靶材料由钼改为钨,所发生的射线强度会增大。(×)20.在工业射线探伤中,使胶片感光的主要是连续谱X射线,标识谱X射线不起什么作用。(○)21.X光管的有效焦点总是小于实际焦点。(○)22.X射线中电子的速度越小,则所发生的射线能量也就越小。(○)23.全波整流X射线机所产生射线的平均能比半波整流X射线机所产生射线的平均能高。(○

4、)24.能量较低的射线较更容易被胶片吸收,引起感光,因此,射线透照时防止散射线十分重要。(○)25.用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系的曲线称为胶片特性曲线。(×)26.胶片灰雾度包括片基固有密度和化学灰雾密度两部分。(○)27.在常用的100KV-400KVX射线能量范围内,铅箔增感屏的增感系数随其厚度的增大而减小。(○)28.对X射线机进行“训练”的目的是为了排出绝缘油中的气泡。(×)29.对于某一同位素放射源,其活度越大,则所发出的射线强度也越大。(○)30.相同标称千伏值和毫安值的X射线机所产生的射线强度和能量必定相同。(×)

5、31.所谓“管电流”就是流过X射线管灯丝的电流。(×)32.从实际应用的角度来说,射线的能量对胶片特性曲线形状基本上不产生影响。(○)33.与一般胶片不同,X射线胶片双面涂布感光乳剂层,其目的是为了增加感光速度和黑度。(○)34.透照不锈钢焊缝,可以使用碳素钢丝象质计。(○)35.胶片卤化银粒度就是显影后底片的颗粒度。(×)36.影象颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸的大小。(×)37.象质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。(×)38.使用较低能量的射线可得到较高的主因对比度。(○)39.一般来

6、说,对厚度差较大的工件,应使用较高能量射线透照,其目的是降低对比度,增大宽容度。(○)40.增大曝光量可提高主因对比度。(×)41.用增大射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。(×)42.胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。(○)43.对比度、清晰度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。(○)44.显影不足或过度,会影响底片对比度,但不会影响颗粒度。(×)45.如果信噪比不够,即使增大胶片衬度,也不可能识别更小的细节影像。(○)46.透照有余高的焊缝时,所选择的“最佳黑度”就是指是能保证焊缝部位的母材部位得到相同

7、角质计灵敏度显示的黑度值。隙(○)47.底片黑度只影响对比度,不影响清晰度。(○)48.底片能够记录的影象细节的最小尺寸取决于颗粒度。(○)49.选择较小的射源尺寸dr,或者增大焦距值F,都可以使照相Ug值减小。(○)50.欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率,采用源在外的透照方式比源在内的透照方式好。(○)51.环焊缝的各种透照方式中,以源在内中心透照周向曝光法为最佳方式。(○)52.无论采用哪一种透照方式,一次透照长度都随着集中的增大而增大。(×)53.已知铜的等效系数ψ铜=1.5,则透照同样厚度的钢和铜时,后者的管电压应为前者的1.5

8、倍。(×)54.源在内透照时,搭接标记必须放在射源侧。(×)55.背散射线的存在,会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B来验证背散射线是否存在。(×)56.不论采用何种透照布置,为防止漏检

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