ASME射线评片要点.doc

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1、焊缝射线检测通用工艺规程ASME规范篇(节选)3.6.3像质计型号使用SE-747中规定的1A、1B、1C线型像质计;特殊情况下也可使用JB4730中规定的R10系列像质计。常见透照厚度范围两种像质计钢丝线径和线编号的对应情况见表3.3。3.7透照厚度和像质计的选用3.7.1部分透照范围应达到的像质计灵敏度见表3.3。表3.3像质计灵敏度值ASTM像质计JB4730像质计规格表单壁材料厚度范围mm(包括允许的余高*)射源侧胶片侧像质计型号线径mm线编号线径mm线编号线径mm线编号像质计型号≤6.350.2050.1641A(1~6)1B(6~11

2、)1C(11~16)0.1614Fe:III(10~16)II(6~12)I(1~7)>6.35~9.50.2560.2050.2013>9.5~12.70.3370.2560.2512>12.7~19.10.4180.3370.3211>19.1~25.40.5190.4180.4010>25.4~38.10.64100.5190.509>38.1~50.80.81110.64100.638>50.8~63.51.02120.81110.807>63.5~101.61.27131.02121.006>101.6~152.41.60141.271

3、31.255*在有余高的焊缝上观查时3.7.3像质计的放置线型像质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区的一端(被检区长度的1/4左右部位)。金属丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直,且细丝置于外侧。当射线源一侧无法放置像质计时,也可放在胶片一侧的工件表面上,但可识别像质计的线编号应通过对比试验,使实际像质计灵敏度达到规定的要求。像质计放在胶片一侧工件表面上时,应附加“F”标记以示区别。像质计的放置原则见表3.5在允许的底片黑度范围内,底片上被测量处的黑度与像质计灵敏度指定钢丝处的底片黑度,当两者黑度变化超过-15%或+30%时,超差区域应放置像质计重

4、新拍片。由于工件原因造成底片黑度变化较大时(如管子环缝非中心法透照),应在底片有效评定区范围内允许黑度的最大部位和最小部位处各放置一个像质计,以测定不同黑度下的底片灵敏度。表3.5像质计的放置原则透照方式规定的放置位置像质计放置数量备注单壁透照射线源侧中心法周向整圈环缝至少在整圈环缝上等间隔地放置4个像质计。源侧无法放置像质计时,允许加“F”标记放置在胶片侧,但应做对比试验证明所达到的灵敏度,且应在检测报告中注明。如果在分离试块上放置像质计,分离试块应放置在尽可能靠近工件的位置,其射线照相性能应与受检材料相似,在底片上与受检材料的黑度公差要得到满

5、足。长度>120°的局部环缝至少放置3个像质计,分别位于长度的两端和中央;有纵缝相接时在每条纵缝的远端各放置一个像质计。中心法全景整圈环缝至少在整圈环缝上等间隔地放置4个像质计。长度>120°的局部环缝至少放置3个像质计,分别位于长度的两端和中央;有其它焊缝相接时在每条焊缝的远端各放置一个像质计。其它原则上每张底片都应有像质计的影像。双壁单影胶片侧每张底片上都应有像质计的影像双壁双影应放置在射线源侧每张底片上都应有像质计的影像一次曝光连续排列的多张胶片根据透照方式确定至少在第一张、中间一张、最后一张胶片处各放置一个像质计。3.7.4像质计的观察在

6、底片上黑度均匀的部位能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时,则认为该金属丝是可被识别的。搭接标记的安放位置见表3.6表3.6搭接标记的安放位置工件形状透照方式焦距F搭接标记位置平板或纵焊缝单层透照任意射线源侧曲面内透法F<半径射线源侧F=半径射线源侧和胶片侧均可F>半径胶片侧单壁外透法任意射线源侧双壁透照法F≥直径胶片侧3.9.3几何不清晰度规定几何不清晰度由下式决定:式中:Ug——几何不清晰度,mm;d——焦点尺寸,mm;b——工件厚度,mm;F——焦距,mm。表3.9几何不清晰度规定值材料厚度mmUg的最大值mm<50.80.51

7、50.8~76.20.76>76.2~101.61.02>101.61.783.9.4焦距F、一次透照长度L3和最少透照次数N的计算3.9.4.1纵缝透照(平板状工件)最小焦距Fmin由下式确定:最少透照次数Nmin:不设定,所需透照次数按底片黑度进行控制。在可以实施的情况下,应尽可能采用单壁透照技术。为了证实能充分覆盖,应进行足够次数的曝光3.9.4.2环缝透照a.小径管(管子外径Do≤89mm)双壁双影透照最少透照次数Nmin:1.椭圆成像:Nmin=每个接头至少要进行二次互成90°的曝光。2.垂直成像:Nmin=每个接头至少要进行三次互成6

8、0°或120°的曝光。b.双壁双影透照时的最小焦距Fmin:不同规格的小径管其透照时的最小焦距应不小于表3.9中的数值。为便于现场使用,

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1、焊缝射线检测通用工艺规程ASME规范篇(节选)3.6.3像质计型号使用SE-747中规定的1A、1B、1C线型像质计;特殊情况下也可使用JB4730中规定的R10系列像质计。常见透照厚度范围两种像质计钢丝线径和线编号的对应情况见表3.3。3.7透照厚度和像质计的选用3.7.1部分透照范围应达到的像质计灵敏度见表3.3。表3.3像质计灵敏度值ASTM像质计JB4730像质计规格表单壁材料厚度范围mm(包括允许的余高*)射源侧胶片侧像质计型号线径mm线编号线径mm线编号线径mm线编号像质计型号≤6.350.2050.1641A(1~6)1B(6~11

2、)1C(11~16)0.1614Fe:III(10~16)II(6~12)I(1~7)>6.35~9.50.2560.2050.2013>9.5~12.70.3370.2560.2512>12.7~19.10.4180.3370.3211>19.1~25.40.5190.4180.4010>25.4~38.10.64100.5190.509>38.1~50.80.81110.64100.638>50.8~63.51.02120.81110.807>63.5~101.61.27131.02121.006>101.6~152.41.60141.271

3、31.255*在有余高的焊缝上观查时3.7.3像质计的放置线型像质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区的一端(被检区长度的1/4左右部位)。金属丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直,且细丝置于外侧。当射线源一侧无法放置像质计时,也可放在胶片一侧的工件表面上,但可识别像质计的线编号应通过对比试验,使实际像质计灵敏度达到规定的要求。像质计放在胶片一侧工件表面上时,应附加“F”标记以示区别。像质计的放置原则见表3.5在允许的底片黑度范围内,底片上被测量处的黑度与像质计灵敏度指定钢丝处的底片黑度,当两者黑度变化超过-15%或+30%时,超差区域应放置像质计重

4、新拍片。由于工件原因造成底片黑度变化较大时(如管子环缝非中心法透照),应在底片有效评定区范围内允许黑度的最大部位和最小部位处各放置一个像质计,以测定不同黑度下的底片灵敏度。表3.5像质计的放置原则透照方式规定的放置位置像质计放置数量备注单壁透照射线源侧中心法周向整圈环缝至少在整圈环缝上等间隔地放置4个像质计。源侧无法放置像质计时,允许加“F”标记放置在胶片侧,但应做对比试验证明所达到的灵敏度,且应在检测报告中注明。如果在分离试块上放置像质计,分离试块应放置在尽可能靠近工件的位置,其射线照相性能应与受检材料相似,在底片上与受检材料的黑度公差要得到满

5、足。长度>120°的局部环缝至少放置3个像质计,分别位于长度的两端和中央;有纵缝相接时在每条纵缝的远端各放置一个像质计。中心法全景整圈环缝至少在整圈环缝上等间隔地放置4个像质计。长度>120°的局部环缝至少放置3个像质计,分别位于长度的两端和中央;有其它焊缝相接时在每条焊缝的远端各放置一个像质计。其它原则上每张底片都应有像质计的影像。双壁单影胶片侧每张底片上都应有像质计的影像双壁双影应放置在射线源侧每张底片上都应有像质计的影像一次曝光连续排列的多张胶片根据透照方式确定至少在第一张、中间一张、最后一张胶片处各放置一个像质计。3.7.4像质计的观察在

6、底片上黑度均匀的部位能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时,则认为该金属丝是可被识别的。搭接标记的安放位置见表3.6表3.6搭接标记的安放位置工件形状透照方式焦距F搭接标记位置平板或纵焊缝单层透照任意射线源侧曲面内透法F<半径射线源侧F=半径射线源侧和胶片侧均可F>半径胶片侧单壁外透法任意射线源侧双壁透照法F≥直径胶片侧3.9.3几何不清晰度规定几何不清晰度由下式决定:式中:Ug——几何不清晰度,mm;d——焦点尺寸,mm;b——工件厚度,mm;F——焦距,mm。表3.9几何不清晰度规定值材料厚度mmUg的最大值mm<50.80.51

7、50.8~76.20.76>76.2~101.61.02>101.61.783.9.4焦距F、一次透照长度L3和最少透照次数N的计算3.9.4.1纵缝透照(平板状工件)最小焦距Fmin由下式确定:最少透照次数Nmin:不设定,所需透照次数按底片黑度进行控制。在可以实施的情况下,应尽可能采用单壁透照技术。为了证实能充分覆盖,应进行足够次数的曝光3.9.4.2环缝透照a.小径管(管子外径Do≤89mm)双壁双影透照最少透照次数Nmin:1.椭圆成像:Nmin=每个接头至少要进行二次互成90°的曝光。2.垂直成像:Nmin=每个接头至少要进行三次互成6

8、0°或120°的曝光。b.双壁双影透照时的最小焦距Fmin:不同规格的小径管其透照时的最小焦距应不小于表3.9中的数值。为便于现场使用,

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