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时间:2020-05-14
《快测平台阵列感应成像测井仪研制与应用.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、第39卷第1期测井技术VoI.39No.12015年2月WELLI.oGGINGTECHN0LoGYFeb2015文章编号:1004—1338(2015)01—0083-06快测平台阵列感应成像测井仪研制与应用陈涛,陈章龙,宋青山,白彦,贺秋丽,王水航(中国石油集团测井有限公司技术中心,陕西西安71O077)摘要:介绍适于EILog快测平台的阵列感应测井仪MIT1530的系统设计和关键技术。与常规阵列感应相比,MIT1530进行了多方面优化。通过对线圈系参数与结构优化、高性能集成电路选用、工作模式优化、厚膜集成与一体化设计以及实时合成等技术,在保证仪器纵向分辨率和径向探测深度不变的基础上,仪
2、器长度由原来9.86m缩短到4.96m,测量精度由原来土1mS/m提高到士0.5mS/m。仪器现场对比试验表明,仪器稳定可靠,可操作性、易维护性大大提高,测量指标满足现场应用要求。关键词:成像测井仪;阵列感应;EILog快测平台;单边结构;线圈系中图分类号:P631.81文献标识码:ADo~:10.16489/j.issrL1004—1338.2015.01.017DevelopmentandApplicationofthePlatformExpressMulti-arrayInductionLoggingToolCHENTao,CHENZhanglong,SONGQingshan,BAIY
3、an,HEQiuli,WANGShuihang(TechnologyCenter,ChinaPetroleumLoggingCO.LTD.,Xian,Shaanxi710077,China)Abstract:ThesystemdesignandkeytechnologyofMIT1530forEILogplatfromexpressareintroduced.Comparingwiththeconventionalmulti—arrayinduction,theMIT1530loggingtoolhascarriedonthevarioustechnologyoptimization,suc
4、hasthecoilparametersandstructureoptimization,highperformanceintegratedcircuitselection,operationmodeoptimization,thickfilmintegrated,real—timesynthesis,andSOon.Basedonensuringtheconstantvertica1resolutionandradialdepthofinstrument,theinstrumentlengthiSshortenedfrom9.86mto4.96m,measurementprecisioni
5、Sincreasedfromtheoriginal±1mS/mto±0.5mS/m.Thefieldtestindicatesthattheinstrumentisstableandreliable,itsoperabilityandmaintainabilityaregreatlyimproved.Themeasurementindexesmeettheapplicationrequirements.Keywords:imagingloggingtool;multi—arrayinductionlogging;EILog-platformExpress;onesidestructure;c
6、oi1array了仪器长度,增强了仪器测量的稳定性。常规电法0引言测井仪串长12.8m,其包括三参数、遥传伽马、井径随着油田开发方式的多样化,油藏状况越来越连斜、数字声波、阵列感应,添加能谱、补中、岩密等复杂,国外三大测井公司Schlumberger、Baker放射性测井仪器的总长约20m,一次下井可提供常Atals、Hall~burton先后推出了自己的快测平台规地层评价所需的所有测井资料。单边阵列感应成PlatformExpress、LOG-IQ、FOCUS测井系统[。像测井仪MIT1530为了适应EILog快测平台需要国产EILog快测平台也随之开发,通过探测器优而研制开发。化、电路共
7、用与集成,使用新的机电工艺设计,缩短基金项目:国家科技重大专项大型油气田及煤层气开发课题(2Ol1Zxo5O2O一001)资助作者简介:陈涛,男,1972年生,高级工程师,从事测井仪器研发工作。测井技术2015在阻率信息及井眼信息,经过井眼环境影响校正和数据处理,得到反映地层径向视电阻率、地层流体性质测量原理、组成及技术指标的二维成像图,用于分析薄层和层内非均质性,描述单边阵列感应成像测井仪MIT1530基于
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