CR空间分辨率对X线球管焦点的影响分析.pdf

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1、MMIBIMONTHLYVol23No．4Aug20：4·--——452--——CR空间分辨率对X线球管焦点的影响分析陕西省宝鸡市辛医院放射线科(721000)卢新培刘嵩宋乐空间分辨率是评价CR影像的重要内容1j，影间分辨率x线测试卡同时放人空间分辨率模板插件响CR图像空间分辨率的因素很多，它既与摄影x的凹槽(其中的1个0．1mill测试卡在水平面上与另线机的x线球管焦点、摄影条件等因素有关，也与外的1个0．1mm测试卡呈45度夹角)，将模板插件CR系统IP板特性、激光及采样频率有关j，又与放入带槽模块，作为7

2、．5ram厚度测试模体。采用工作站图像增强处理算法有关，还与激光相机、显100cm的SID(x线源到成像板距离)。使用14×17示器等软硬件因素有关。为了确切了解x线管焦点英寸、10×12英寸2种IP板、1mm和2ram2种焦点、15ram和7．5ram2种模体厚度，分别采用60、对CR空间分辨率影响，笔者通过实验进行了定量70、80、100、110KV及4、6．3、10、20、32、50、分析，供同道们参考。80mAs摄影条件进行多次CR摄影。1实验设备与材料为了保证图像空间分辨率不受工作站软件后处柯达CR4

3、00plusCR设备1台，柯达GP-25IP板理影响，在Qcw工作站选用下列选项：bodypart2个：其中14×17英寸IP板1个，分辨率为2G48选择PATERN，tonescale选择RAWDATA，edgeel3一×2500；10×12英寸1个，分辨率为2048×2500，hancementselections选择NONE。另外不选择EVP柯达质量控制工作站(QCW)1台，带有19英寸显示处理。调节窗宽、窗位到最佳观测条件，观察、记器1台，分辨率1024×768。美国GE公司R￡d-录可以分清的线对数值

4、。由于QCW上没有图像放works5．1工作站，带有21英寸显示器1台，分辨率大功能，将这些测试图象通过PACS网络传到GE1028×1024，图像通过PACS传输。Radworks工作站，采用3倍放大，调节好窗宽、窗美国Victoreenx线数字成像检测模1套，该漠位，观察、记录可以分清的线对数值。体由丙烯酸制成，它包括空间分辨模板插件(76—为了保证观察的客观性，观察记录工作由一名717，15x20×7．5cm)带槽模块(76—712，20×20×主管技师、一名主任医师和一名高级工程师共同完7．5cm)及梯

5、状模块(76-771，20×20×7．5cm)。2成。为了结果更精确地分析，规定空间分辨率介于个0．1mm铅厚度空间分辨率x线测试卡(07-538—1A、B之间时记为A+，计算分辨率差别A+的值为和07—538-2)，分辨率从0．6—5．0Ip／him。A+1。日本岛津UDI50L／CH．30摄影x线机，imm／3结果2mm双焦点，电动驱动活动式滤线栅，栅比8：：．，结果表明，在不同规格IP板，不同厚度模体，栅焦距100cm，密度为28Ip／cm。不同KV和mAs的条件下，采用较小的x线焦点2实验方法时，均获得

6、较高空间分辨率的CR图像。实验同一台CR及x线机上进行，事先校准x例如：采用10×12英寸IP板，7．5cm厚模体，线源及软拷贝系统(显示器)，清洁IP板。将2个空60KV，1mm焦点。0．1mm铅厚度空间分辨率x线．．——453．——《现代医用影像学~2014年08月第23卷第4期测试卡，采用1mm焦点比2ram焦点空间分辨率提检查部位采用恰当的放射摄影参数，获得更好的CR高0．3-0．5Ip／mm，见图表1。图象。采用14×17英寸IP板，15cm厚模体，70KV，表1X线焦点大小对CR空间分辨率的影响(1

7、)3倍放大，0．1mm铅厚度空间分辨率提高0．3—0．5Ip／mm见表2。4讨论x线管焦点是影响x线设备成像质量的重要因注：采用10x12英寸IP板，7．5cm厚模体，60KV，素之一。由于x线管焦点不是理想的点光源，具有0．1mm铅厚度空间分辨率X线测试卡，SID=100cm。一定面积，因此x线影像产生半影(模糊阴影)，从表2X线焦点大小对CR空间分辨率的影响(2)而降低了图像空间分辨率。x线管焦点越大，半影的影响越明显。另外，焦点越大，特别是当焦点面上的线量分布为多峰时，焦点的极限分辨率降低，从而导致CR图

8、像的空间分辨率降低J。注：采用14×17英寸IP板，15cm厚模体，70KV，3倍CR的空间分辨率与x线源准确性和稳定性、放大，0．1mm铅厚度空间分辨率X线测试卡，SID=100cm。IP板清洁度及软拷贝系统(显示器)有关，因此事先5参考文献：清洁IP板，校准x线源及软拷贝系统。对本实验只1SameiE，SeibertJA，WillisCE，eta1．Performancee—val