匝间耐压测试仪的波形形成机制和工作原理

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1、刮目锄瑚匝间耐压测波形形成机制和工作原理MechanismofProducingWaveandWorkingTheoryforWindingDielectricTestInstrument福建医科大学(福州350004)孙东凯付商要】匝间耐压测试仪是对电磁线绕制的产品进行匝问，层问绝缘耐压测试的新型仪器，它采用相同的高浪涌电压分别施加在标准件和被测件，通过示波管观察和比较两者的波形以赳绝缘情况。【关键词】丝塑耐压测试堕堡里里l√1开、l／f】，Abstract：Windingdielectrictest

2、erappliesasamehighsurgevoltagetomaste~andtestcoils，thesecoilsinresponsewillgenerateavoltagedecaywave，itCanbeais#ayeOontheCRTscreenbymeansofsamecircuits-Thenoperator,accordingtothedecaywaveformofthemastercoil，canjudgewhetherthetestcoilisgoodornot．Key试WOrd

3、s：Turn-by-turndielectricSurgetestsWaveformWorkingprinciple对于电机仪、变压器，继电器以及彩电的开关电源变工作原理和波型形成过程。压器和消，磁线．的圈等这些由漆包线绕制的产品，其绝缘性1工作原理能的项目包括：一是绕组对机壳，绕组对绕组的绝缘。另一类足一绕组中线圈层与层之间、匝与匝之间的绝缘。线圈示波器中主回路可以简化成图1的形式，为对于前者绝缘试验的方法较易实现，就是我们通常使用高压变压器11P，次级电压，其中TPD、c组成冲击的绝缘耐压测试肌仪。

4、而对于后者，因为绕组首尾之间的电压发生器。可控硅SRG起着高压开关的作用，R为直流电阻和工频阻抗远小于它的层与层，匝与匝之间绝波头电阻。图中L为被测件，C、FL是它的分部电容和缘电阻，实现j起来_、就复杂多了。然而电器的损坏烧毁，绕组电阻。正因为被测件是直接接入主回路的两端，故由第二种情况引发的不在少数，这是因为漆包线的绝缘这种测量方法称为直接浪涌电压冲击法。可控硅SRG涂敷层本身存在着质量问题，以及在该部件生产过程中的触发信号与相同步。当ll

5、为正半周时，经二极管不慎而引起绝缘层的损伤等都会造成线圈层

6、间或匝间绝D整流向C。充电，直到电容c上电压接近lk的峰值时缘层的绝缘强度的下降，从而影响了电器设备的质量和触发电路产生一个，触发可控硅SRG，可控硅被触发可靠性。为了提高产品的质量和使用寿命，保证部件的导通之后，电容C。便通过波头电阻向被测件绕组放电。漆包线绕组层间或匝间绝缘良好是必不可少的，因而对电路瞬间的微分方程为：产品进行这项试验就势在必行。di‘卢(1)绕组匝间绝缘试验有多种方式，但目前国际上通用的是直接演涌电压冲击法。这是因为该方法电路简单．式中是c。两端之电压．操作方便，同时是对试验对象直

7、接加压，数据准确、试将可控硅被触发瞬间设为k，对被测绕组上的电压验品与标准品的可此性强等的缘故。波形如图2所示的整个过程可分成3个阶段，下面介绍在一般情况下，直接冲击电压法主回路的1．1to-t可控硅触发阶段《中国仪器仪表}2oo03司目圃硼器TPLL一tIV一图1可控硅SRG在b被触发，由截止进入导通被测件两端电压快速上升，呈现很大的阻抗而它的分布电容C此时的作用就不可忽视，但因Co>>C且c。己贮有电能，在短时间内可看成恒电压源，因而图1电路可简化成由电压源u⋯波头电阻R和分布电容C相串联的形式，而

8、且是一阻容电路的零状态响应，其响应方程为：2容C．和电阻rf构成了又一个RCL串联谐振电路，由于～[卜唧(一)]分布电容上己充有电能，其初始条件为因视在波前时间定义为从0．3u到0．9U一时间的Un《t2)=一U和IL‘t)-010／6倍，经推导，求得视在波前时间T和各参数的当rL可忽略时表达式近似可写成：关系：u《tUe一。exp(-a。0cos(m。0T≈3．24CL-R式中：而L两端的电压uL上升，公式近似成：，啦tKt其中：u一—“324’。巴√·G由于K值很大，L呈现很大的阻抗，在触发的瞬间由

9、于分布电容C的容量远小于C。，因而使可控硅通过的电流很小，因而能对匝间施加很高的冲击电压，截止阶段的频率高于导通阶段而又避免损伤绕阻，是属于一种无损伤试验。另外，视可将以上3个公式合井起来成为整个过程被{昊9件绕在波前时间L的大小也决定了冲击波侵入绕组的深度组上的电压表达式：若Tn的时间短，冲击波侵入的深度就浅，反之则深。rK￡f5f，1．2tf-t2可控硅导通阶段={一一cos(t)，t~t