lcr 表、阻抗分析仪和测试夹具

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1、AgilentLCR表、阻抗分析仪和测试夹具选型指南材料、半导体和元器件测试及在线测量解决方案适应您各种应用的经济高效的测试解决方案无论您的工作是属于研究开发、生产制造、质量保证，应用范围广泛的先进测量技术还是来料检验，安捷伦科技都可以为您提供最适当的阻图1是AgilentLCR表和阻抗分析仪所使用的不同测试抗测量解决方案。安捷伦拥有全套的阻抗测试设备和测技术的比较，正如您所看到的那样，每一种技术都有其试附件，可帮助您高效地完成测试任务。安捷伦能够提供:特别的测量优势:卓越的产品性能:安捷伦产品可提供同类产品中最●自动平衡桥法的阻抗测量范围最宽，典型的测

2、量频率在出色的精度和可重复性，以及极快的测量速度。表1中20Hz到110MHz之间，这项技术比较适用于低频和通用列出的三种阻抗测量解决方案可满足不同的测量需求。的测试。全面的解决方案:安捷伦的阻抗分析仪产品系列可测量的频率范围从5Hz到3GHz，使您能在最广阔的范围安捷伦阻抗分析仪/LCR表测量技术内根据测量需求做出最好的选择。本选型指南概括性地比较10%精度范围向您介绍可以选择的所有产品和附件。自动平衡桥法专业的技术支持:安捷伦在提供阻抗测量解决方案I-V法方面拥有几十年的经验。常年的经验和持续的技术创新已经融合到每种LCR表和阻抗分析仪的设计和生产制

3、造)Ω过程当中。安捷伦还有大量相关的技术资料，帮助您更(射频I-V法加正确高效地完成各种测量任务(这些资料的清单在第15页列出)。阻抗测量范围测量频率范围(Hz)图1.阻抗分析仪/LCR表的阻抗测量技术表1.阻抗测量产品类型产品类型产品要点LCR表阻抗分析仪网络分析仪扫频测量能力点/列表连续扫频连续扫频(开始/停止,(开始/停止,中心/扫宽)中心/扫宽)显示屏只有数字显示方式图形图形其他机械手接口,比较器内置等效电路分析内置等效电路分析功能、材料测量、功能,在一台仪表中在线测量实现多种测试功能优势低成本解决方案,最宽的测量范围,经济高效,多功能,容易使用

4、,测试速度快谐振分析,电路建模仪表体积小2●I-V法适用的频率范围从40Hz到110MHz，能够测量的阻如何使用这个选型指南抗范围要小一些，另外也适用于用探头进行测量的在表2是Agilent所有阻抗测试产品的一个概括，这个线测试。表格可以帮助您对安捷伦的各种仪表进行更好的比较，●RFI-V法是I-V法的扩展，在I-V法所适用的阻抗测试范围并使您能够根据下面列出的几方面的需要选出最能满足内，又增加了网络分析在高频测量时所具有的一些优应用要求的解决方案:点。RFI-V法是专为精确地分析和测量射频器件的高频●测试频率范围特性而设计的，在测量小电感和小电容方面体

5、现出优越的性能。●器件的类型或应用的类型●此外，安捷伦的网络分析仪提供了阻抗测量解决方案，●精度要求(测量技术)综合运用三种测量方法(反射、串联直通和并联直通)●任何其他特殊需求进行S参数和增益相位测量。如果您觉得针对某一应用要求存在着几种可能的选择，那么可以翻到相应的页码去阅读关于每种产品更加详细的信息。表2.安捷伦阻抗测量产品一览4产品类型频率应用特性产品型号频率范围基本阻抗测量结果特性采用的主要应用1范围(Hz)精度(%)显示范围(Ω)测量方法3阻抗分析仪RF高性能/材E4991A1M至3G0.8130m至20kA,BRF-IVLCR元件、材料测试

6、料/高温度和半导体测试多功能E5061B选件5至3G21至2k/5至A,B反射/串联LCR元件、PDN33L5/00520k/1m至5/并联3LF/HF高性能/4294A40至110M0.0825m至40MA,BABBLCR元件、材料测试材料/C-V和半导体测试3在线包含4294140至110M150m至4MA,BIV在线测试、(接地)、C-V的4294A半导体测试3LCR表RF高性能/E4982A1M至3G0.8140m至4.8kCRFI-VLCR元件高速测量HF高性能/4285A75k至30M0.10.01m至100MDABBLCR元件、材料测试材料

7、/C-V和半导体测试LF高性能/E4980A20至2M0.051.000000a至DABBLCR元件、材料测试材料/C-V999.9999E和半导体测试低成本/4263B100至100k0.10.01m至100MDABBLCR元件、变压器变压器专用仪表LF电容器/E4981A只有120、0.071.000000aF至DABBMLCC2高速测量1k和1M99.99999EF1.基本阻抗精度是仪表工作在最佳状态下的值,4.产品特性A:内置等效电路分析5.测量方法ABB:自动平衡桥法会随测量条件的改变而改变，详细信息需要阅代码的意义:B:频率扫描测试和彩色LC

8、D显示代码的意义:I-V:I-V法读具体产品的技术资料。C:点频测试和彩色LCD