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时间:2020-04-22
《基于太赫兹时域光谱的胶层厚度均匀性检测-论文.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在应用文档-天天文库。
1、第44卷第7期激光与红外Vol_44.No.72014年7月LASER&INFRAREDJuly,2014文章编号:1001—5078(2014)07-0801-04·太赫兹技术·基于太赫兹时域光谱的胶层厚度均匀性检测李丽娟,周明星,任姣姣(长春理工大学光电测控技术研究所,吉林长春130022)摘要:太赫兹波与不同的介质相互作用,探测器在不同的时间节点检测到携带介质信息的太赫兹时域波形,分析不同时域波形峰值点的飞行时间差,分别建立了透射式和反射式太赫兹无损检测单点厚度提取模型。在柔性装配过程中,一般有机硅胶的
2、折射率难以提取,基于单点厚度提取模型,绘制了胶层空间分布三维形貌图,并提出了采用厚度均匀性标准偏差的方法评价胶层空间分布离散性。太赫兹时域光谱技术系统分析胶层厚度的均匀性,检测精度可达100m,对保证胶层连接强度有重要意义。关键词:太赫兹;无损检测;胶层厚度均匀性中图分类号:0433文献标识码:ADOI:10.3969/j.issn.1001.5078.2014.07.020Testoftheadhesivethicknessuniformitybasedonterahertztime-domainspect
3、roscopyLILi-juan,ZHOUMing-xing,RENJiao—jiao(InstituteofPhotoelectricMeasurementandControlTechnology,ChangchunUniversityofScienceandTechnology,Changchun130022,China)Abstract:WhenTHzwavesinteractwithdifferentmedia,detectordetectstheTHztime—domainwavefornlofca
4、rryingmediainformationatdifferenttimenodes.theflighttimedifferencebetweentheTHzpulsesiSanalyzed.extractionmodeloftransmissionan(1reflectionTHznondestructiveinspectionofsinglepointthicknessareestablishedrespective—lv.Inflexibleassemblyprocess.refractiveindex
5、ofsiliconeadhesiveisdifficulttobeextracted.Basedonthesingle.pointthicknessextractingmodel,athree—dimensionaltopographyofadhesivespatialdistributionisdrawn,andthestandarddeviationforthi~:knessuniformityiSputforwardtoevaluatethediscretenessofadhesivespatialdi
6、stribution.AnalyzingtheuniformityofadhesivethicknessusingTHz—TDSsystem,thedetectingaccuracyisuptolO0txm,anditiSimportantforensuringtheadhesiveconnectionstrength.Keywords:terahertz;nondestructiveinspection;adhesivethicknessuniformity1引言效长度之间的太赫兹脉冲时间分辨电场的相对变随
7、着复合材料普遍应用,柔性装配成为连接复化⋯。目前,使用THz—TDS系统对材料进行光谱合材料构件的关键技术。胶层连接技术因应力分布分析,主要是为了获得被测材料在太赫兹波段的复均匀、连接效率高、质量轻、抗疲劳和密封性好等优介电常数、色散和吸收等物理和化学参数,并利用这点而得到广泛应用。但胶层厚度不均匀导致应力分些参数研究物质成分、结构及其相互作用关系I2-43,布不平衡,影响构件间的连接强度。分析胶层厚度但仍未开展应用THz—TDS系统对材料厚度均匀性均匀性,保证实现胶层功能是必要的,同时对节约胶检测的相关研究
8、。料和减少涂胶污染也有重要的意义。太赫兹时域光谱技术(THz—TDS)是近年来基基金项目:国家863重大项目(No.2012AA7060407)资助。于超短脉冲技术基础上发展的一种全新的太赫兹光作者简介:李丽娟(1972一),女,教授,博士,主要研究领域为太赫兹科学与应用。谱测量技术,通过分析对透射样品和自由空问中等收稿日期:2014-03-03802激光与红外第44卷2太赫兹无损检测厚度均匀性检测
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