使用安捷伦材料测量解决方案进行介电常数性能测试

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时间:2017-12-08

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1、使用安捷伦材料测量解决方案进行介电性能测量很多行业都需要对它们所用的材料有一个更清晰的认识,以便缩短设计、流程检测和质量保证等阶段的时间。每种材料都有着其自身独特的电气特征,与它的介电性能有关。通过对材料的介电性能进行精确测量,科技人员和工程师能够获得非常有用的信息,从而在具体应用中恰当地运用这些材料。获知介电材料的特性可为许多电子应用提供关键的设计参数信息。电缆绝缘体损耗、基片阻抗或介质谐振器测量仪器—网络分析仪、阻频率都与其介电性能有关。对材料抗分析仪和LCR表—提供精确的测●快速、精确、不需破介电性能的了解也给航空航天、汽量结果,频率范围高达1.1THz。安捷车、食品和医药行业中的一

2、些新应坏材料的解决方案伦提供的材料测量夹具基于同轴探用带来了很多益处。头法、平行板电容法、同轴/波导传●频率覆盖范围高达输线法、自由空间法和谐振腔体法。一个材料测量系统必须具备精1.1THz简单易用的材料测量软件可以大大密的测量仪器、用于夹持被测材料简化介电常数和磁导率测量。下表(MUT)的专用测试夹具,以及用于计●支持多种测量方法显示了安捷伦材料测试解决方案所算和显示材料参数的软件,来进行能测量的产品。介电特性的测量。安捷伦为您提供快速、精确、并且(对材料)不具毁坏性的解决方案。行业应用/产品电子电容器、基片、PCB、PCB天线、铁氧体、减震器、SAR体模材料航空航天/国防隐形术、RAM

3、(雷达波吸收材料)、雷达天线罩工业材料陶瓷和复合材料:A/D和汽车零部件、涂层聚合物和塑料:纤维、薄膜、绝缘材料水凝胶:一次性尿片、软性隐形眼镜液晶:显示器其它包含此类材料的产品:轮胎、涂料、粘合剂等食品和农业食品保鲜(变质)研究、微波食品开发、包装、含水率测量林业和矿业木材/纸制品含水率测量、含油量分析制药和医疗药物研究和生产、生物植入体、人体组织定征、生物量、发酵测量方法同轴探头法宽带、方便、对材料无破坏性εr最适合损耗性MUT;液体和半固体测量材料的介电性能有多种方传输线法宽带法。用户需要选择最适合MUT的测最适合损耗至低损耗MUT;εr和µr可加工的固体量方法。安捷伦解决方案支持所

4、有自由空间法宽带;非接触的测量方法。εr和µr最适合平板样品、粉末、高温同轴探头法谐振腔体法单一频率;准确ε最适合低损MUT;小型样品同轴探头法最适合液体和半固r体(粉末)材料。它具有简单、方便、平行板电容法准确非破坏性的特点。典型测量系统由εr适用于低频;细小,平板样品网络分析仪或阻抗分析仪、同轴探电感测量法精确而简单的测量,头和软件构成。软件和探头均包含µr必须采用环形磁芯结构在Agilent85070E介电探头套件中。根据所用的分析仪和探头,该系统的支图1.材料测量方法持频率范围可从10MHz至50GHz。高温探头能够承受-40至自由空间法平行板电容法+200°C的温度范围。较大直径

5、的法自由空间法通过天线来把微波平行板电容法在两个电极之间夹兰使得高温探头可以支持平面固体能量聚焦(或穿过)在一大块材料中。入一个薄板材料,来形成一个电容器。材料、液体和半固体材料测量。细该方法具有非接触特性,适合高温,该方法最适合对薄膜或液体进行精确长探头能够很轻松地放入发酵罐、尤其适用于毫米波频率。的低频测量。应用该方法的典型测量化学反应室或其它小孔径设备中。系统由LCR表或阻抗分析仪构成。根高性能探头的超薄设计使它具有出谐振腔体法据材料类型和频率范围(高达1GHz)要色的坚固性,耐高温性以及很宽的谐振腔体具有较高的Q值,可求,安捷伦可以提供多种测试夹具,频率范围。探头经过了热压处理,在

6、特定频率上发生谐振。放入材料例如16451B、16452A和16543A。非常适合灭菌要求很高的食品、医样品后会改变谐振腔体的中心频率药和化工行业应用。电感测量法和Q因数。通过测量放置材料和不放置材料时的谐振参数,可以计算得到该方法通过测量材料(环形磁传输线法介电常数的值。安捷伦提供85072A芯)的电感来推导出磁导率。具体操传输线法是一种宽带测量方法,10GHz分裂圆柱腔体谐振器和分离介作:在MUT上缠绕若干条导线,并测适用于可加工固体。它需要把MUT质谐振器(SPDR)。量导线两端的电感。Agilent16454A放入了闭合传输线中。磁性材料测试夹具可为单匝电感器提供理想结构,在插入环

7、形磁芯时不会出现磁漏。短路件短路件法兰孔径短路件高性能探头高温探头细长探头Agilent85070E介电探头套件2测量系统材料材料测量软件类型液体安捷伦提供多种夹具和测量仪器,可以测量多种材料类型。同时凝胶安捷伦还提供相应材料测量软件来液体测试夹具介电探头支持各种测量方法或仪器。查看相半固体关文献以了解详情。(粉末)10GHz分裂测试夹具和仪器固体圆柱谐振腔图2汇总了安捷伦测试夹具系基片列。可用的测量仪器请参见表1。环形

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