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时间:2020-04-10
《Au_Sn共晶键合技术在MEMS封装中的应用.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、显微、测量、加工微细加工技术、测量与设备与设备Microscope,MeasurementProcessing,Microfabricatio,Measuremenn&EquipmenttandEquipmentAu/Sn共晶键合技术在MEMS封装中的应用胥超1,徐永青1,杨拥军1,杨志2(1.中国电子科技集团公司第十三研究所,石家庄050051;2.专用集成电路重点实验室,石家庄050051)摘要:研究了Au/Sn共晶圆片键合技术在MEMS气密性封装中的应用。设计了共晶键合多层材料的结构和密封环图形,盖
2、帽层采用Ti/Ni/Au/Sn/Au结构,器件层采用Ti/Ni/Au结构,盖帽层腔体尺寸为4.5mm×4.5mm×20μm,Au/Sn环的宽度为700μm,优化了键合工艺,对影响气密性的因素(如组分配比、键合前处理和键合温度等)进行了分析。两层硅片在氮气气氛中靠静态的压力实现紧密接触。在峰值温度为300℃、持续时间为2min的条件下实现了良好的键合效果,其剪切力平均值达到16.663kg,漏率小于2×10-33/s,满足检验标准(GJB548A)Pa·cm的要求,验证了Au/Sn共晶键合技术在MEMS气密
3、封装中的适用性。关键词:圆片级键合;键合温度;前处理;应力;剪切强度;漏率中图分类号:TH703;TN305.94文献标识码:A文章编号:1671-4776(2014)02-0131-05ApplicationoftheAu/SnEutecticBondingTechnologyinthePackagingofMEMS1,XuYongqing1,YangYongjun1,YangZhi2XuChao(1.The13thResearchInstitute,CETC,Shijiazhuang050051,Ch
4、ina;2.ScienceandTechnologyonASICLaboratory,Shijiazhuang050051,China)Abstract:TheapplicationofAu/Sneutecticwaferbondingtechnologywasresearchedintheher-meticpackagingtechnologyforMEMS.Thestructuresoftheeutecticbondingmulti-layermate-rialsandthepatternofseal
5、ingringsweredesigned.ThemetalstructureofthecaplayerisTi/Ni/Au/Sn/Au,andthebottomlayerstructureisTi/Ni/Au.Thecavitysizeofthecaplayeris4.5mm×4.5mm×20μm,andtheAu/Snsealingringwidthis700μm.Thebondingprocesswasoptimized,andthekeyfactors(suchasthecompositionrat
6、io,bondingpretreatmentandbondingtemperature)affectingtheairtightnessofthehermeticpackagingwereanalyzed.Twolayersofsiliconwaferswerecloselycontactedbythestaticpressureinthenitrogenatmosphere.Thegoodbondingwasrealizedatthepeaktemperatureof300℃fortheduration
7、timeof2min.Theaverage-33/s,valueofthehighshearstrengthreaches16.663kgandtheleakrateislessthan2×10Pa·cmmeetingtherequirementsoftheinspectionstandard(GJB548A).TheapplicabilityoftheAu/SneutecticbondingtechnologywasverifiedinthehermeticpackagingtechnologyforM
8、EMS.Keywords:waferbonding;bondingtemperature;pretreatment;stress;shearstrength;leakrateDOI:10.13250/j.cnki.wndz.2014.02.012EEACC:0170I;2575F收稿日期:2013-11-13E-mail:chao.xu@mtmems.com2014年2月微纳电子技术第51卷第2期131胥超等:Au/Sn共晶键
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