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《数控系统位置误差的分析及参数补偿.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、2010年1月机床与液压Jan.2010第38卷第2期MACHINETO0L&HYDRAULICSVo1.38No.2DOI:10.3969/j.issn.1001—3881.2010.02.008数控系统位置误差的分析及参数补偿徐挺,林波,程守晨(中国工程物理研究院,四川绵阳621900)摘要:数控机床的定位精度是确定数控机床加工精度的一项重要的技术指标,它表明数控机床各运动部件在数控装置的控制下,在运动中所能达到的位置准确程度。以FANUC.Oi系统为例,阐述了数控机床位置分析和参数补偿的具体原理及方法,并指明了在参数补偿
2、中应注意的问题。关键词:数控系统;位置误差;参数补偿中图分类号:TG502.7文献标识码:B文章编号:1001—3881(2010)2—022—4AnalysisonPositionErrorandParameterCompensationofNCSystemXuTing.LINBo.CHENGShouchen(ChinaAcademyofEngineeringPhysics,MianyangSichuan621900,China)Abstract:OrientationprecisionofNCmachineisoneoft
3、heimportanttechnicalparameterstoconfirmthemachiningprecisionofNCmachine.ItindicatesthepositionprecisionthatallmovingpartsofNCmachinecanbearrivedinmovement.TheprincipleandmethodofpositionanalysisandparametercompensationwereintroducedwithFANUC-Oisystemasanexample.Thep
4、roblemsshouldbepaidattentioninparametercompensatingwereindicated.Keywords:NCsystem;Positionelror;Parametercompensation0引言数控机床在进行定位精度评定和参数补偿前,为数控机床经使用后,由于安装位置或周围环境发了尽可能使数控机床的润滑和温升在正常工作状态生变化,其定位精度技术指标发生变化。以VDI标下,应根据使用条件和制造厂的规定,将数控机床预准为例,其位置不可靠性P、位置偏差P,受数控特先空运行1h以上,使数控
5、机床零部件达到恰当的温性的影响,当其安装位置或周围环境(如温度等)度一。发生变化时,上述参数发生较大的变化⋯。反向量差2数控机床参数补偿综述U由于受到机械特性的影响较大,当数控机床使用一数控机床所能段时间后,会发生较大变化。位置分散度幅度P虽实现的各种自动化受各种因素影响较小,但也会发生少量变化。因此,运行,主要通过设数控机床重新安装,或经过一段时期运行后,必须对置数控机床相对应数控机床进行定位检测及补偿。数控机床位置误差的的参数而实现的。参数补偿设置是众多参数补偿设置中较为典型的一在这些参数设置值种,作者将介绍此补偿方法的设
6、置过程。中,以各种精度补1位置误差检测和参数补偿条件偿值的参数设置值较为复杂和难以理图1数控机床参数补偿流程图1.1稳定的地基数控机床在进行定位精度评定和参数补偿前,必解。补偿参数值设置的准确与否,将直接影响数控机须将数控机床安置在稳定的基础上,并按照制造厂提床的各项精度指标,并最终影响数控机床的加工精供的技术资料调平数控机床的床身。以便得到数控机度J。因此,对补偿参数进行设置时,决不能依靠感床较好的静态稳定性。觉来进行,而必须在数据采集和数据的统计分析基础数控机床在进行定位精度评定和参数补偿前,必上进行参数补偿,其流程图见图
7、1所示。须先对数控机床的线、面的形状和位置进行几何精度3数据采集时环境温度及参数补偿检验及调整。数控机床位置误差的数据采集是指运用专门的检1.2数控机床空运行测工具,对数控机床进给量的实际值进行检测,并将收稿日期:2009—01—09作者简介:徐挺(1968一),男,本科,主要研究方向为数控技术故障诊断。E—mail:leeboy_727@163.corn。第2期徐挺等:数控系统位置误差的分析及参数补偿·23·这些值进行分组采集的过程。目前采用的检测工具多系统讨论参数补偿方式。为双频激光干涉仪,而激光干涉仪本身也是一种高精4.
8、3数控机床位置误差的分析和参数补偿度的数字化仪器。因此,它本身也具有环境温度控制4.3.1位置偏差P和自补偿的过程。(1)位置偏差3.1激光干涉仪主要特征如图2所示,在0由于空气折射率随温度、气压和相对湿度变化而被测轴的全部测量位呈变化,以及在线性位移时两束光的光程差变化较大
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