_电子设备及元器件非工作可靠性预计手册_的介绍_二极管.pdf

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1、半导体技米!!∀,∃%#新书介绍《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》的介绍二极管非工作可靠性预计—无锡市元件四厂&江苏无锡∀∋()翁寿松弓年∗月+日收到摘要介绍《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》的主要内容、用途、评价,,及贡献以二极管为例阐述电子元器件炸工作可靠性详细预计法并简单介绍电子元器件非工作可靠性简化预计法。关键词电子设备元器件可靠性预计手册前言的故障率的二十分之一左右&除电子管外)6编一《电子设备及元器件非工作可靠性预计手电子设备在整个寿命周期般要经历不同制了,、。。的使命状态即贮存休眠和工作状态前两册》&简称《

2、手册)该研究成果在电子设备方。、种统称为非工作状态年电子部第五研究案论证初步设计时对其可靠性作粗略估计有所数据中心杨家铿高级工程师等人完成了电子很大参考价值。根据该研究成果可以以规定的设备,皿作可靠性预计研究,并编制−./0置信度估计出电子设备使用期间需要的备件数1一,,∀2∗&电子设备可靠性预计手册》该研究及维修工作量为设备的保障性提供了重要的项目获国家科技进步三等奖。(年底杨家铿定量分析依据,有力地支持了电子设备保障性,等人又完成军用电子元器件和电子设备非工作分析和开展全寿命费用&9::)的估算工作改,‘。,“∗」可靠性预计研究并通

3、过电子部部级鉴定电变过去对备件及维修工作量心中无数靠拍子部第五研究所数据中心在中国军用电子产品”脑袋估计造成巨大浪费及有时又供应不上延可,。靠性信息交换网的组织和全国有关单位的大误工作的局面有很大的军事价值和经济效益,·∗∀’,、力支持下收集和分析了数据量达∋3∋4《手册》经有关单位验证;项电子设备,元件小时的电子产品非5作可靠性数据6总结%项非工作环境的对比表明预计结果与国产电了贮存、休眠状态、兀器件质量、子设备及元器件的实际可靠性水平吻合程度比贮存时间和通电循环频率等57素对军用电子元器件可靠性在&∋!<,!=)间,据国际的预计经验,当的影响

4、6建立了8大类电子兀器件非工作失效其比在&∋!(,∀!∋)之间时认为是好的,因此一率预计模型6确定了非工作可靠性勺工作可卓该吻合度是极好的。用户反映可操作性强,便,性间的关系非工作状态的故障率是「作状态于推广应用。国内可靠性专家们认为《手册》是、、一项开拓性的具有广泛社会效益和经济效益&∀)预计电子设备系统的非工作可靠性,和寿命周期可靠性6的重大科技成果它的问世和推广应用将促进、我国军事装备、电子设备可靠性研究的深入发&()确定电子设备非工作周期检测维修,展6对降低产品寿命周期费用和提高战略完好周期性等方面具有重大意义。可靠性专家们认为该&)预计电子

5、元器件消耗量与确定维修器研究成果在吸收美国罗姆航空研制中心材贮备量。“”(&>2?≅二)的非工作期对装备可靠性的影响二极管非工作可靠性详细预计法一&2Α2<88()的基础上作了创造性的重要改这里以8大类电子元器件中的二极管为,。进建立了符合我国国情的8大类电子元器件例阐述电子元器件非工作可靠性详细预计法,可靠性预计模型为预计电子设备及元器件在根据影响电子元器件非工作可靠性的因素&温度应力、湿度应力,机械应力与热一机械互作用,贮存和休眠状态下的可靠性提供了科学的方法,,、、、和充实的数据《手册》有效地解决了非工作状化学应力设计制造技术及生产检验筛态

6、的可靠性预计和贮备量确定等工程难题。所选过程中的质量控制水准,产品复杂程度与产提供的预计方法、数据和效果等方面不仅填补品特性,设备电源通一断循环率等)和大量电子,。、处,国内急需解决的空白而且处于世界领先水平元器件非工作可靠性数据分析理可建立∀《手册》主要内容和用途各类电子元器件的非工作失效率模型和各自的,Β∀!《手册》主要内容图调整系数对于二极管非工作失效率模型为、&)电子设备系统非工作可靠性预计的又#Χ汀6Ε#∃汀#ΦΗΙΔ又阳砚6ΕΓ,、一般程序检测维修周期及元器件贮备量的式中。表ϑ确定方法二极管非工作墓本失效率瓜,&∀)电子元器件非工作失

7、效率详细预计包”分类知、&∋一%0Κ)序一,,括8大类元器件仁半导体?:混合?:声表!普通硅∋∋∋(<,,,面波器件半导体分立器件&晶体管二极管∋。∋∋光电子器件)。电子管,电阻,电位器,电容普通硅,,,、。&纸和薄膜电容玻璃轴电容云母电容∀电压调整电压基准∋∋∋8,、,类瓷介电容固体非固体担电解电容铝电微波检波微波混频∋!∋%∀,,,解电容可变电容)感性元件&变压器线、、隧道、变容阶跃!、、∋∋,,,,,Χ?#体效应崩越圈)继电器开关连接器旋转电器印制#1,,,表∀非工作环境系数ΦΕ电路板和焊接点磁性器件石英谐振器激,环境−/ΛΜ+ΝΟ−ΝΠ

8、Μ?ΜΒΧ光器−Λ−Λ−Λ−ΘΜ其它元器件等〕的非工作失效率预计模··=·<汀#1∗=<<

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