一起隔离开关瓷瓶缺陷案例分析

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1、第34卷第5期四川电力技术Vo1．34．No．52011年10月SichuanElectricPowerTechnologyOct．。2011一起隔离开关瓷瓶缺陷案例分析罗飞(德阳电业局，四川德阳618000)摘要：通过红外测温发现隔离开关瓷瓶可能存在重大隐患，经过试验、分析找到导致缺陷的原因，并对试验中的异常现象给出了解释。关键词：红外热像图谱；绝缘电阻；测温Abstract：Thepossiblehiddendefectsinporcelaininsulatorofdisconnectedswitchcanbedetectedbyinfraredtemperat

2、uremeasurement．Throughthetest，thereasonscausedthedefectsarefoundandanalyzed，andtheexplanationofabnormalphe—nomenainthetestisgiven．Keywords：infraredthermalimage；insulationresistance；temperaturemeasurement中图分类号：TM855文献标志码：B文章编号：1003—6954(2011)05—0074—031．1．1绝缘电阻测试0前言为了找到缺陷原因，首先对瓷瓶进行了绝缘电阻

3、测试。在试验前先对瓷瓶进行常规检查，发现瓷瓶表2010年10月8日在德阳电业局鄢家站的一次面脏污，但未见裂纹或其他异常情况。采用数字兆欧专业巡查中通过红外测温发现35kV斑鄢线避雷器表对其进行绝缘测试，试验接线见图2。隔离开关5198号C相瓷瓶存在温度异常的情况，温度较高的部位已达31．6oC(见图1)，隔离开关瓷瓶而正常部位的温度为26．1℃，温差达5．3℃O经过反复测试和分析确定隔离开关存在危急缺陷，立即将该只隔离开关退出运行，并更换了新隔离开关。”懒凝髓兆欧丧图2绝缘电阻测试表1绝缘测试结果图I缺陷隔离开关红外热像图1试验结果及分析1．1绝缘试验1．1．2耐压

4、试验从红外热像图谱中可以看出，隔离开关瓷瓶最上对清洁后的瓷瓶进行耐压试验(见表2、表3)，面的两片瓷裙存在温度异常的情况，可能是由于表面同时用红外热像仪观察温度变化情况，耐压时红外热脏污引起，也有可能是内部缺陷所致⋯。像图见图3。·74·第34卷第5期四川电力技术Vo1．34。No．52011年lO月SiehuanElectricPowerTechnologyOct．-2011表2耐压试验结果．1．2试验数据分析试验瓷瓶试验电压耐压装置二次电流、电压情况从常规绝缘电阻测试发现绝缘很低，可能存在贯穿性的低阻通道。通过对瓷瓶表面进行清洁、处理，绝缘电阻仍然很低，但也不能

5、就此排除表面的原因。耐压试验时，二次电流、电压波动很大，说明了瓷瓶存表3第一次耐压前后绝缘测试结果在间歇性放电现象。试验分类缺陷瓷瓶绝缘电阻／MI-I瓷瓶绝缘电阻分解测试时可以认为内部电阻和耐压前43外部电阻并联的模型，如图5。耐压后52一天后对瓷瓶再次耐压，试验数据见表4。表4第二次耐压前后绝缘测试结果试验分类缺陷瓷瓶绝缘电阻／MII耐压前1．5耐压后51图5绝缘电阻分解测试原理图R1为内部电阻，R2、R3为表面电阻，从图5可以看出，R1被短接旁路，测试结果仅为R2、R3的并联电阻。从试验数据可以看出表面绝缘电阻高达103GQ，说明了表面绝缘正常，因此，通过排除法

6、，确定缺图3耐压时红外热像图陷应该在瓷瓶内部，并且是贯穿性的低阻通道。从耐第二次耐压前，绝缘电阻极低，但经过耐压后绝压时的红外热像图也间接证实了缺陷来自瓷瓶内部。缘电阻又恢复到第一次耐压时的水平。1．3分析结果验证1．1．3绝缘电阻分解测试为了验证试验分析，采用切割机对瓷瓶进行纵向从耐压试验时的红外热像图可以看出，瓷裙温度剖切，其剖切断面如图6O较低，越靠近瓷瓶内部，温度越高，说明缺陷很有可能在瓷瓶内部。因此有必要对瓷瓶绝缘进行分解测试，根据实际情况，设计了图4所示的测试方法，以确定缺陷的具体部位。l#女女图6瓷瓶纵向剖切图(温度异常区域)图4绝缘电阻分解测试从剖切

7、图可以看到在瓷瓶中心确实存在多条裂通过图4所示的方式测得的绝缘电阻高达103纹，越靠近瓷瓶温度异常区域，裂纹越多。这和试验GQ。分析结果是一致的。·75·第34卷第5期四川电力技术Vo1．34。No．52011年l0月SichuanElectricPowerTechnologyOct．，2011耐压时瓷瓶内部气隙在高压下击穿放电，放电导致试验电压降低，放电终止，瓷瓶内部气隙绝缘得以恢复，试验电压回升，当试验电压回升到放电电压值时，气隙又被击穿，又开始新一轮放电。因此，耐压设备二次电流、电压也相应地剧烈波动。放电导致瓷瓶内部温度升高，尤其是在瓷瓶顶部气隙越多的地方