JIS X6305-6-2010 识别卡.试验方法.第6部分邻近式识别卡(修改件2).pdf

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1、まえがきこの追補は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本ICカードシステム利用促進協議会(JICSAP)及び財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正したもので，これによって，JISX6305-6:2009は改正され，一部が置き換えられた。日本工業規格JISX6305-6：2010(ISO/IEC10373-6：2001/Amd.3：2006)識別カードの試験方法－第6部：外部端子なしICカード－近接型（追補2）Identificat

2、ioncards－Testmethods－Part6:Proximitycards(Amendment2)序文この追補は，ISO/IEC10373-6:2001，Identificationcards－Testmethods－Part6:Proximitycardsに対して2006年に発行されたAmendment3を翻訳し，技術的内容及び対応国際規格の構成を変更することなく作成した日本工業規格である。なお，この追補で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。備考ISO/IEC10373-6:2001にはAMENDMENT2があるが，JISでは必要ないと判断し

3、，ISO/IEC10373-6:2001のAMENDMENT3をJISX6305-6追補2として作成することとした。JISX6305-6:2009を，次のように改正する。1.（適用範囲）の備考3.を次に置き換える。備考3.この規格の対応国際規格を，次に示す。対応の程度を表す記号を，ISO/IECGuide21-1に基づき，IDT（一致している），MOD（修正している），NEQ（同等でない）とする。ISO/IEC10373-6:2001，Identificationcards－Testmethods－Part6:Proximitycards，Amendment1:2007及びAmen

4、dment3:2006(IDT)3.2（略語及び記号）の末尾に，次の略語及び記号を，追加する。CRC巡回冗長検査コード，cyclicredundancycheckCRC_A巡回冗長検査コードA，JISX6322-3でA型PICCに対し定義している。CRC_B巡回冗長検査コードB，JISX6322-3でB型PICCに対し定義している。IUT試験対象装置(ISO/IEC9646)，implementationundertestIUTは，この規格では試験対象のPCDとする。LT下位試験装置(ISO/IEC9646)，lowertesterPCD試験装置のPICCエミュレーション部Mute

5、指定されたタイムアウトまでに応答なし。TestScenarioこの規格で規定する試験方法で用いる典型的なプロトコル及びアプリケーションに特化し标准分享网www.bzfxw.com免费下载2X6305-6：2010(ISO/IEC10373-6：2001/Amd.3：2006)た通信を定義する手順TB-PDUIブロック，Rブロック又はSブロックのいずれかで構成するブロック伝送プロトコルデータ単位，transmissionblockprotocoldataunitTM-PDU試験管理プロトコルデータ単位，testmanagementprotocoldataunit（ISO/IEC964

6、6-1，PDU参照）SELECT(l)lの値が1，2又は3のカスケードレベルlのSELECTコマンドSAK(cascade)カスケードビット（ビット3）を1に設定したSELECT(l)の応答SAK(complete)カスケードビット（ビット3）を0に設定したSELECT(l)の応答BCCJISX6322-3で定義する1バイトのブロックチェックサム，byteblockchecksumUID固有番号識別子（A型）uidn固有番号識別子の番号nのバイト，n≧0UT上位試験装置(ISO/IEC9646)，PCD試験装置の主制御部，uppertesterUT-APDU上位試験装置のアプリケー

7、ションプロトコルデータ単位，uppertesterapplicationprotocoldataunit，RFインタフェースを介してPCDからLTに送信するデータのパケット附属書G（規定）（追加のPICC試験方法）の次に附属書Hを，追加する。www.bzfxw.com3X6305-6：2010(ISO/IEC10373-6：2001/Amd.3：2006)附属書H（規定）追加のPCD試験方法この附属書は，追加のPCD試験方法について規定する。H1PCD試験装置及び附属