一种软磁薄膜磁滞回线测量系统设计.pdf

《一种软磁薄膜磁滞回线测量系统设计.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、第26卷第8期传感技术学报V01．26No．82013年8月CHINESEJOURNALOFSENSORSANDACTUATORSAug．2013TheDesignofSoftMagneticThinFilmHysteresisLoopMeasurementSystemLIUShibin，QIUSongsong，DENGPanpan(ColegeofElectronicsattdrmation，NorthwesternPolytechnicalUniversity，Xi’an710072，China)Abstr

2、act：Thepropertiesofthinfilmmagneticcoreisoneofthekeyfactorswhichaffecttheperformanceoffluxgatesensor．Tothedisadvantagesandproblemsexistednotonlyintraditionalmethodsbutincurrentdevicesformeasuringthehysteresisloopofsoftmagneticthinfilm，thepaperanalyzedthedema

3、gnetizationfieldofrectangularsoftmagneticthinfilm．Basedontheabove—mentionedanalysis，amethodoncorrectingtheeffectcausedbydemag—netizationfieldonmagnetichysteresisloopwasproposed．Anewautomaticmeasuringsystemofsoftmagneticthinfilmwithlow—costandminorerrorwasdes

4、ignedbyemployingSTM32SCM，Labviewsoftwareanddigitalintegrationtechnology．Samplesofelectroplatedsoftmagneticfilmandastripsoftmagneticalloyweretested．Thetestingresultwasfurthercomparedwiththatofvibratingsamplemagnetometer(VSM)．Itshowedthattherelativeerorbetween

5、thetwocoerciveforceswaswithin10％，whichverifiedtheprecisionandeficiencyofthesystem．Keywords：softmagneticthinfilm；corectdemagnetization；hysteresisloop；measurementsystemEEACC：3110doi：10．3969／j．issn．1004—1699．2013．08．007一种软磁薄膜磁滞同线测量系统设计术刘诗斌，秋颂松，邓盼盼(西北T业大学电子信息学院，

6、西安710072)摘要：影响磁通门传感器性能的关键因素之一是软磁薄膜铁芯的性能，针对传统方法和现有仪器测量软磁薄膜磁滞回线的缺点，在分析了长条形软磁薄膜的退磁问题基础上，给出了退磁场对磁滞回线影响的修正方法。采用STM32单片机、LabView软件及数字积分技术设计了一种低成本、小误差软磁薄膜自动化测量系统。通过对电镀软磁薄膜和软磁合金带材样品的测试，并与振动样品磁强计测试结果相比较，结果表明两者矫顽力的相对误差在10％以内，证明了该系统的有效性和准确性。关键词：软磁薄膜；退磁修正；磁滞回线；测量系统中图分类号

7、：TM936．3文献标识码：A文章编号：1004-1699(2013)08-1068-05磁通门传感器是一种测量微弱磁场的传感器，斯坦方圈法等传统的磁滞回线测量方法并不适用于具有噪音低、可靠、简单、经济、耐高温的特点以及高软磁薄膜材料测量。振动样品磁强计(VSM)、超分辨、测量弱磁场范围宽以及适于运动系统中适用导量子干涉仪(SQUID)等专业测量设备虽可以高精等优点，是综合性较好的磁场测量传感器，被广泛应度测量软磁薄膜材料磁滞回线，但由于仪器本身价用于航空、航天、地质勘探等许多领域¨J。软磁薄格昂贵，导致测试成

8、本居高不下。膜铁芯的性能是影响磁通门传感器性能的一个关键本文根据磁滞回线的定义和法拉第电磁感应原因素。磁滞回线作为反映软磁薄膜材料性能的理，将软磁薄膜做成长条状，并对长条状软磁薄膜试重要特征曲线，它的测量为研制、开发和应用软磁薄样退磁场进行分析，给出退磁场对磁滞回线影响的膜材料提供重要依据。由于软磁薄膜存在很难修正方法，采用STM32单片机、LabView软件、以及做成环形样品，直接在