应用X射线衍射-红外光谱等技术研究滑石在机械力研磨中的形貌和晶体结构变化及影响机制.pdf

《应用X射线衍射-红外光谱等技术研究滑石在机械力研磨中的形貌和晶体结构变化及影响机制.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、2015年3月岩矿测试Vo1．34．No．2March2015R0CKANDMINERALANALYSIS181～186文章编号：0254—5357(2015)02—0181—06DOI：10．15898／j．cnki．11—2131／td．2015．02．005应用x射线衍射一红外光谱等技术研究滑石在机械力研磨中的形貌和晶体结构变化及影响机制任叶叶，张俭，严俊，林剑，陈思杭，盛嘉伟(1．浙江工业大学材料科学与工程学院，浙江杭州310014；2．浙江省质量检测科学研究院，浙江杭州310014)摘要：滑石的颗粒粒径、形貌、晶型等对其应用的实效性、终端产品的性能产生极大影响，目前主要研

2、究其表面改性，而有关微观形貌及晶体结构研究较少。—@本文利用x射线荧光光谱、x射线衍射分析、红外光谱、粒度分析仪结合高分片层状结构准球状结构辨场发射扫描电镜(FE—SEM)技术对辽宁滑石粉在高强度机械力研磨作用下的微形貌和晶体结构变化特征进行系统研究。结果表明滑石粉原矿混合物中MgO与SiO2的分子个数比约为0．45，该数值明显低于纯滑石粉晶体中MgO与SiO的分子个数比0．75。此类滑石为典型的单斜晶系，研磨作用使滑石粉由晶态转变为非晶态结构，其层状结构的有序化和键合作用发生了明显的变化。滑石粒度随研磨时间变化呈现减小一增大一减小的循环过程。研磨后粉体形貌存在差异，细化的小颗粒粉

3、体因团聚而呈“准球体”，且随着研磨的进行出现细化一团聚一细化的反复过程。此结论对于滑石的深加工与应用及其相关矿物粉体的研究具有一定的参考价值。关键词：滑石粉；研磨；团聚；准球体；X射线衍射法；红外光谱法；粒度分析仪；高分辨场发射扫描电镜中图分类号：0657．34；0657．33文献标识码：A滑石(3MgO·4SiO·HO)是具有广泛用途的特征。S6nchez—Soto等¨对滑石粉持续研磨30非金属矿物材料。滑石粉矿含有大量杂质元素，Femin其粒度逐渐减小，30min之后由于粒子之间发O、Cr20、MnO和NiO等有色金属氧化物对滑石粉生团聚，粒度随时间变化还原到原始粒度；Zbik

4、体的白度和亮度存在显著影响，zn、cr、Ca、Mn等微等⋯对滑石粉和高岭土高能研磨1min的结构变量元素使得滑石粉在皮肤护理等医学方面应用更显化；Mahadi等研究了滑石粉(含白云石)在不同益处。滑石粉体颗粒粒径、形貌、晶型等对其应用的研磨时间、固体含量和垂直压力下其晶体结构、硬度实效性、终端产品的性能产生极大的影响，因此制备和杨氏模量等性能变化特征；Kano等一10]、Terada特定性状的滑石粉体就显得至关重要J。机械力等、Dellisanti等卜驯研究了滑石粉在不同机型、研磨是制备特定形状及结构非金属矿物微粉的一种转速、时间等机械力研磨条件下的物化性能及微结简单可行的方法。近

5、年来，机械力研磨制备精细矿构变化。以上针对国外不同矿区滑石粉体的相关工物粉体极为普遍，通过改变研磨机型一、研磨转向作具有一定的参考价值。我国杨华明等采和转速]、研磨时间[10-11]及研磨压力[12-143等研用透射电镜和红外光谱分析认为，滑石粉研磨8h磨条件，研究研磨过程中不同阶段矿物粉体的形貌其表面活性增强，晶体结构的无序化程度加剧，这为特征和物相转变等，这些矿物有碳酸钙、高岭后续的研究提供了有用的信息。但是上述研究的研土、叶蜡石I2、蒙脱石等。国外学者磨强度较低，没有很直观的形貌变化图像，对滑石粉从不同角度研究了滑石粉体在机械力研磨作用下的体在研磨过程中的周期变化没有作出系统

6、的总结，收稿日期：2014—09—18；修回日期：2015—02—17；接受日期：2015—03—04基金项目：浙江省自然科学基金资助项目(LY14E020004)；浙江省研究生教育创新基金项目(1004)；浙江省大学生科技创新项目(2010R403048)作者简介：任叶叶，硕士研究生，材料科学与工程专业，从事矿物功能材料研究。通讯作者：盛嘉伟，教授，博士生导师，从事无机功能材料研究。E—mail：79583526@qq．corn。一l81—第2期岩矿测试http：／／www．ykcs．ac．an因此在滑石深加工时间控制方面存在一些不足。本激光粒度分布分析：利用KQ一218型超声波

7、清文探讨了高强度下在长时间(0—48h)机械力研磨洗器对样品进行超声处理5min，确定滑石粉随研磨∞¨”拍¨掘作用下辽宁滑石粉体的微观形貌及晶体结构变化特时间的增加其粒度和比表面积的大小变化。仪器型岬岬岬岬征。采用x射线荧光光谱(XRF)、X射线衍射分析号为BT一9300H(日本日立公司)，工作条件为：半菇脚(XRD)、红外光谱(IR)、粒度分析仪结合高分辨场导体激光器，波长635nm，功率3mw。发射扫描电镜(FE—SEM)联用技术分析滑石粉的扫描电子显微镜分析：对