资源描述：
《气藏储集层物性参数下限确定方法研究.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、第31卷第3期天然气勘探与开发开发试采气藏储集层物性参数下限确定方法研究1231李幸运郭建新张清秀童凯军(11“油气藏地质与开发工程”国家重点实验室·成都理工大学21中国石油西南油气田公司能源勘探开发公司31中国石油西南油气田公司勘探开发研究院)摘要气藏有效储层物性参数下限的确定是储集层评价和储量评估的基础。目前求取方法很多,包括测试法、统计分析法及经验公式法等,但每种方法都有自身适用的局限性,往往只是从某一个方面来反映储层的特征。因此,在实际应用时,应通过对储层物性下限影响因素的分析,利用多种方法,互相补充和验证,使得最终确定的物性下
2、限能够综合反映储层的实际特征。另外,当同一地区地质条件差别很大时,可以根据对不同层位地质特征的研究制定相应的物性下限标准。关键词气藏有效储层物性下限测试法影响因素确定气藏有效储层的关键,是对其有效储层的层,随着工艺技术的发展及生产压差的增大,可以下限标准进行研究,它是储层分类评价及储量计算转变为产层。因此,在实际物性参数下限确定工作[1-5]的重要参数,并直接关系到油气勘探、开发的决策。中,应区分对待两个下限为宜。因此它既是储层研究中的一个重点,也是一个难111Hobson方法计算储层喉道下限值点。由于各地区储层地质条件、物性特征的差异
3、,根据Hobson方法可以计算不同气藏高度下储求取方法也不尽相同。利用不同的方法确定的储层喉道半径rmin下限值,公式如下:层物性下限可能有所不同,且都只是从某一个方面H(ρw-ρg)g1rmin=1/[+]来反映储层的特征,并不能代表储层真正的下限,2σgwrp这就要求在实际工作时,结合储层自身的特点,在式中:认真分析储层影响因素的基础上H—计算点距气水界面之间的高度,m;,合理选择多种方σgw—气水界面张力(mN/m);法,相互验证,使确定的储层下限能够综合反映储2ρw—地层条件下水密度g/cm;层特征。只有在合理而客观的产气层物性
4、下限值2ρg—地层条件气密度g/cm;确定基础上,才能获得对气藏客观而实际的认识和rp—储层的平均喉道半径,μm。评价。本文通过对国内外物性下限评估方法调研[2]的基础上,总结了各种评价物性下限方法,希望能表1为肖思和等对川东石炭系储层不同气为快速合理地认识和确定各种气藏条件下的物性藏高度下喉道半径大小的划分标准。结果表明,不下限值提供参考依据。同的气藏高度,其储层喉道半径也不同。按照粘土矿物的晶体喉道半径理论,一般将011μm作为极1物性下限确定方法研究限喉道半径值。而表1中显示50m以下时,储层喉道半径约在011μm的极限半径以上,
5、所以50m的有效储层系指饱含油气并且具有油气储产能气柱高度认为是形成气藏的最低值。力的储集层。有效储层可以划分为产层和潜力储表1不同气藏高度下喉道半径层。产层是指在现有工艺技术及经济条件下能够气藏高度(h/m)1050100150产出并具有商业价值油气流的储层,而潜力储层是喉道半径(r/μm)012430011250010627010420指具有储产油气能力,但现有工艺技术及生产制度下不能产出具有商业价值油气流或产能较低的储作者简介李幸运,男,1984年出生;现成都理工大学能源学院研究生,主要从事于油气储层评价研究工作。地址:(6100
6、50)四川省成都市成都理工大学能源学院。电话:13832694075。E-mail:tongkaijun714@1261com·33·开发试采天然气勘探与开发2008年9月出版112有效储集层孔隙度、渗透率下限值的确定方法R50是一个与前述储层喉道半径rmin有所差异的参关于有效储层物性参数中最有代表性的两个参数,它表征着平均喉道宽度,同时预示着它是可以产数,即孔隙度、渗透率的下限分类,本文引用戴金星出气层中50%气的最小喉道。而R50与孔隙度、渗透[1]院士的分类方法,即将物性参数下限分为两个下率的相关性较好,由此可求得孔渗下限。二者
7、的相限分别论述:一是分为储集下限(或产出下限),二关关系式可表述如下:bx是分为工业下限(或有效下限)。二者的区别在于R50=a×e前者是指具有储产油气能力的储层物性参数下限,式中:后者则指现有工艺技术及经济条件下能够产出并具x—孔隙度或渗透率;有商业价值油气流的储层物性参数下限。a、b—拟合系数。孔金祥(1991)等曾用四川威远气田油基钻井·储集层下限(或产出下限)值确定(1)Ф～R50交会法液取出的岩心测定出气层的各种参数(表2),对于前人研究成果表明,在孔隙及喉道壁上有一层孔隙度大于1%的样品来说,其R50均大于喉道两壁束缚水膜厚
8、度与天然气运动直径之和(表2),由此吸附能力很强的束缚水膜,并具有较强的抗剪切能确定该气田天然气的产出下限值:孔隙度为1%、克力,因此在生产压差下难以运移出去。从吸附理论氏基质渗透率为713mD,中值喉道宽
