基于线段检测技术的荧光磁粉裂纹提取方法.pdf

《基于线段检测技术的荧光磁粉裂纹提取方法.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、Techn0yandTest工艺与检测基于线段检测技术的荧光磁粉裂纹提取方法木郭杜斌沈希忠张博(上海应用技术学院电气与电子工程学院，上海201418)摘要：荧光磁粉探伤技术在现阶段工业检测领域应用广泛，而对工件裂纹提取方法成为了掣肘荧光磁粉探伤技术发展的一个重要难题。文章提出了一种基于LSD线段检测技术的裂纹区域提取方法。利用梯度方向作为提取的目标图像的主要参量，从而有效地抑制裂纹周围亮度相同的噪点对目标区域干扰。实验结果表明，该方法能够迅速有效地提取出裂纹图像。并有较强的鲁棒性。关键词：荧光磁粉探伤技术；

2、LSD算法；线段检测；裂纹提取中图分类号：TB55文献标识码：BFluorescentmagneticparticlecrackregionextractionalgorithmbasedonlinesegmentdetectionGUODubin，SHENXizhong，ZHANGBo(ElectricalandAutomaticSchool，ShanghaiInstituteofTechnology，Shanghai201418，CHN)Abstract：Fluorescentmagneticparti

3、cleinspectiontechnologyhasbeenwidelyappliedinthefieldofindustrialtes-ting．However，itishardtofindaneffectivemethodtoextractworkpiececrackfromtheresultingim—age．ThepaperproposesacrackregionextractionalgorithmbasedoilLSDlinesegmentdetection．Usingthegradientdi

4、rectionasthemainparametersofextractionoftargetimagecaneffectivelyrestrainbright—nessaroundthesamenoiseinterferencetothetargetarea．Theresultofextractingshowsthatthemethodcanquicklyandeficientlyextractthecrackimageandhasstrongrobustness．Keywords：fluorescentm

5、agneticparticleinspection；LSDalgorithm；linesegmentdetection；extractionofcrack当前各种工业制造领域对工业产品质量要求越来点，提出了一种依靠线段检测技术来提取目标裂纹区越高，其中很大一部分产品的零部件需要通过无损检域的方法。传统的线段检测方法大部分以Pau1．测的手段来保证质量，荧光磁粉探伤正是迄今为止对Hough提出的hough变换理论作为基础，具有较强钢结构材料零件进行无损检测的最有效的技术手段之的容错性和鲁棒性。Desolneu

6、x等人在此基础上进一一。然而，现阶段检测大多依靠人工筛选来完成。不步研究了阈值对线段检测精度的影响，发展出了一套仅耗费大量人力物力，而且检验环节的速度和精度也具有误报排除机制的线段检测_4j，使检测精度大幅提受到制约，难以拔高。高。而由RafaelGromponeVonGioi等人提出的LSD随着图像处理，模式识别等科学理论发展成熟，并(thelinesegmentdetector)线段检测法J，可以在线性成功地应用于工业检测方面，使得检测环节全自动化时间内得到检测结果，并且引入了错判检机制，充分满成为可能

7、。对于从前端图像传感器所采集到的裂纹图足荧光磁粉探伤技术对后续图像检测要求。像来说，如何能对目标裂纹进行陕速准确的提取，一直l荧光磁粉探伤技术是掣肘荧光磁粉探伤实现全自动化的主要问题。对于磁粉探伤这一课题，很多国内外学者在这一1．1荧光磁粉探伤技术原理领域深耕钻研。由Takahashi．N提出的基于三维非线磁粉探伤技术起源于上世纪20年代初期，专家发性六面体有限元分析的磁粉无损检测能做到立体现若物体表面或内部有缺陷(裂纹、折叠、杂质等)存式无死角探伤。而国内学者对裂纹图像采用局部平均在，将待测物体置于强磁场

8、中或通以大电流使之磁化平滑处理、边缘提取和灰度图像二值化处理也取得后，缺陷附近的磁力线会产生漏磁现象。因此把导磁了较为理想的结果。本文基于荧光磁粉检测技术的特性良好的磁粉(通常为磁性氧化铁粉)附着在被检物上海市科委项目(15ZR1440700)Techn0IogyandTesf工艺与检测现“虚峰”和“漏检”的问题。而且一旦参数空问增大，度方向开始搜索梯度度方向近似的像素点并将它们包hough变换的计算量便会呈几何