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《基于NI软件的S参数自动测量系统.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、第25卷第5期2012年9月机电产品开簋与钏崭V01.25,No.5—Devel—opme—nt&—In—n!!!!i!!竺竺!!!!!!!苎兰!竺!璺!璺!型竺堡璺呈巳:!呈!!呈文章编号:1002—6673(2012)05~125—02基于Nl软件的S参数自动测量系统童川,尹秋艳,梅萌(华东师范大学,上海200241)摘要:为了提高手动测量微波器件相关产品的s参数的效率,解决测试报告生成自动化1"-3题。根据产品的测试原理和要求,结合TestStand和Labview这两款NI软件的各自优势.从而实现产品相关参数测试的自动化。论文介绍了该系统的构成,详
2、细介绍软件设计流程和功能实现.测试实例表明:该系统提高了测试效率,精度高。关键词:微波器件;TestStand;Labview;中图分类号:TP317文献标识码:AS参数:测量系统doi:lO.3969/j.issn.1002-6673.2012.05.050AutomaticMeasurementSystemforS—-parametersBasedonSoftwareofNICompanyTONGChuan,YtNQiu-Yan,MEl酝鲫g(EastChinaNormalUniversity,Shanghai200241,China)Abstract
3、:InordertOimprovetheeffciencyofthemanualmeasurementofS-parametersandtomakethegenerationoftestreportautomat—ic,basedonthetheoryofmeasurement,anautomaticmeasurementsystemisdesignedregardingTestStandandLabviewasaplatforminthispaper.ThecomposidonofthesystemespeciallytheSOft"cvaIedesig
4、nanditsfunctionsareintroduced,theresultsoftestcaseshowthatthesys—temworksefficiently、vithhighprecision.Keywords:microwavedevices;TestStand;Labview;S-parameters;testingsystemO引言近些年微波移动通信高速发展.微波无源器件在通信系统中的应用无处不在,与此同时针对不同的系统,厂商对于微波器件的指标要求也不尽相同。但利用仪器进行相关参数的人工测试对于已产品化的微波器件大批量测量显然已经不能满足
5、要求了。随着计算机、通信及测控技术的飞速发展,美国国家仪器公司(NationalInstruments)提供的图形化编程软件Labview已成为自动测量领域的主流。它提供了大量的驱动程序,使得计算机可以和具有例如GPIB、RS232、PXI等端口的仪器实现通信.从而实现直接从仪器得到实验数据和曲线。NI公司提供的TestStand是一款可立即执行的测试执行管理软件,用于组织、控制和执行自动化原型设计、验证或制造测试系统,可加入Labview等编写的测试程序,可实现快速创建测试序列。同时TestStand又是基于一个高速多线程执行引擎。其收稿日期:2012—
6、07—29作者简介:童川(1986-),男,在读硕士研究生。主要从事微波测量技术、自动化控制和无源器件研究;尹秋艳(1962一),女,副教授。主要从事微波测量技术研究。性能足以满足最为严苛的测试处理能力要求。本文介绍的系统构成芷是基于Labview和TestStand以上的优势设计而成,首先将介绍微波器件S参数测量系统,然后详细介绍软件设计流程和功能实现,最后通过实例来验证系统测试效果。1微波S参数测量系统本文介绍的微波S参数测量系统主要有AgilentE8363C矢量网络分析仪(VNA)、PC机和打印机及测试线缆等组成,如图1所示。VNA是系统的关键部分
7、,是测量直接获得实验数据和曲线。PC机通过端口和VNA通信获得测量数据,并对数据进行分析处理。打印机作为最后测试报告的输出设备。2软件设计和实现2,1基于Labview的仪器控制和数据采集Labview通过提供各种通信接口实现了计算机获取测试仪器的数据和曲线.图1微波S参数测量系统示意图Fig.1Theschematicdiagram0fS-parametersmeasure-mentsystem125·测试与控制·同时Labview又有良好的人机界面。这些特点使其为成为各领域实现测试控制自动化的一大优势。本文是通过Labview利用GPIB端口实现计算机
8、对VNA的控制和S参数测量。通过Agilent的IOcontrol
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