质谱仪的原理及结构.ppt

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1、3.质谱分析法的基本原理及结构第四组：孟霄鹏薄振兴覃海华杨劼劼质谱分析法是在高真空系统中测定样品的分子离子及碎片离子质量，以确定样品相对分子质量及分子结构的方法。化合物分子受到电子流冲击后，形成的带正电荷分子离子及碎片离子，按照其质量m和电荷z的比值m/z（质荷比）大小依次排列而被记录下来的图谱，称为质谱。质谱法的基本原理质谱法的基本原理在有机化合物结构分析的四大工具中，与核磁共振波谱、红外光谱和紫外－可见光谱比较，质谱分析法具有其突出的特点：是唯一可以确定分子式的方法。灵敏度高检出限最低可达10-14g。根据不同种类有机化合物

2、分子的断裂规律，质谱中的分子碎片离子峰提供了有关有机化合物结构的丰富的信息。单聚焦磁质谱的工作原理质谱法是将样品置于高真空中（＜10-3Pa），并受到高速电子流或强电场等作用，失去外层电子而生成分子离子，或化学键断裂生成各种碎片离子，然后将分子离子和碎片离子引入到一个强的正电场中，使之加速，加速电位通常用到6~8kV，此时可认为各种带正电荷的离子都有近似相同的动能。质谱法的基本原理在质量分析（或分离）器中，各种离子就按照质核比m/z的大小顺序被分开。质谱仪的出射狭缝的位置是固定的，只有离子的运动半径R与质量分析器的半径Rs相等时

3、，离子才能通过出射狭缝到达检测器。一般采用固定加速电压V而连续改变磁场强度B（称为磁场扫描）的方法获得质谱。质谱法的基本原理质谱仪的结构用来检测和记录待测物质的质谱，并以此进行相对分子（原子）质量、分子式以及组成测定和结构分析的仪器称为质谱仪。按质量分析器的不同分为：单聚焦质谱仪双聚集质谱仪四极滤质器质谱仪离子阱质谱仪飞行时间质谱仪按进样状态不同分为：气相色谱－质谱联用仪(GC-MS)液相色谱－质谱联用仪(LC-MS)毛细管电泳－质谱联用仪(CE-MS)高频电感耦合等离子体－质谱联用仪(ICP-MS)进样系统离子源质量分析器检测

4、器1.气体扩散2.直接进样3.色谱进样1.电子轰击2.化学电离3.场致电离4.场解析5.快原子轰击1.单聚焦2.双聚焦3.四级杆4.离子肼5.飞行时间1.电子倍增器2.闪烁检测器3.法拉第杯4.照相检测质谱仪一般由进样系统、离子源、质量分析器、检测器和记录系统等组成，还包括真空系统和自动控制数据处理等辅助设备。质谱仪的结构一、进样系统作用：将待测物质（即试样）送进离子源。进样方式：直接进样通过直接进样杆，将纯样或混合样直接进到离子源内或经注射器由毛细管直接注入。间接进样经GC或HPLC分离后进到质谱的离子源内。质谱仪的结构离子源

5、的作用是将被分析的样品分子电离成带电的离子，并使这些离子在离子光学系统的作用下，会聚成有一定几何形状和一定能量的离子束，然后进入质量分析器被分离。常见的离子源有以下几种：电子轰击电离源（EI）化学电离源（CI）场致电离源（FI）场解析电离源（FD）快原子轰击电离源（FAB）激光解析电离源（LD）电喷雾电离源（ESI）二、离子源或电离室1.电子电离源（EI）原理：用电加热铼或钨丝至2000℃，产生10～70eV的高速电子束，与进入电离室的试样分子发生碰撞，若电子的能量大于试样分子的电离电位，将导致试样分子的电离。试样分子M失去一个

6、电子形成的M+称为分子离子。所需能量为15～20eV。当具有更高能量（如70eV）的电子轰击有机化合物分子时，就会使分子中的化学键断裂，生成各种低质量数的碎片离子和中性自由基。加速聚焦加速2.化学电离源（CI）样品分子在承受电子轰击前，被一种反应气体(通常是甲烷)稀释，稀释比例约为104:1，因此样品分子与电子的碰撞几率极小，所生成的样品分子离子主要经过离子-分子反应组成。应用强电场诱导样品电离：(电压：7～10kV，d<1mm)过程：样品蒸汽邻近或接触带高的正电位的阳极尖端时,由于高曲率半径的尖端处产生很强的电位梯度,使样品分

7、子电离.3.场致电离源（FI）过程：样品溶液涂于发射器表面—强电场—分子电离—奔向阴极—引入磁场特点：特别适于非挥发性且分子量高达10,0000的分子。样品只产生分子离子峰和准分子离子峰，谱图最为简单。4.场解析电离源（FD）5.快原子轰击电离源（FAB）过程：稀有气体（如氙或氩电离）通过电场加速获得高动能——快原子——快速运动的原子撞击涂有样品的金属板——金属板上的样品分子电离——二次离子——电场作用下，离子被加速后——通过狭缝进入质量分析器。三、质量分析器作用：将不同碎片按质荷比m/z分开。质量分析器类型：磁分析器（单聚焦、

8、双聚焦）、飞行时间、四极滤质器（四极杆）、离子阱、离子回旋共振等。四、检测器和记录系统用以测量、记录离子流强度，从而得出质谱图。常以电子倍增器检测离子流，其中一种电子倍增器的结构如下图。当离子束撞击阴极C的表面时，产生二次电子，然后用D1，D2，D3等二次电极使