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时间:2020-03-23
《基于成像提取的RCS精确测量方法研究.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、第38卷第l期2017年1月仪器仪表学报ChineseJo啪alofScientificInstmmemV01.38No.1J锄.2017基于成像提取的RCS精确测量方法研究术李南京1,徐志浩1”,胡楚锋1,党娇娇1’2,郭淑霞1(1.西北工业大学无人机特种技术重点实验室西安710065;2.西北工业大学电子信息学院西安710072)摘要:高精度雷达散射截面(Rcs)测量对背景环境具有较高要求,当背景环境存在较强干扰时,通过背景矢量对消难以消除杂波影响。提出基于成像提取的高精度Rcs测量方法,从背景杂波中分离和提取出目标的散射信号,从而提高了测量的精度。首先推导了像与RcS的数学关
2、系,然后利用转台模式下的测量回波进行成像处理,得到目标区域的二维像;从成像区域中提取目标的二维像,通过波谱变换和定标获得目标的RCS。仿真结果表明,该方法对于具有干扰情况下的RCS测量,可以改善3~5dB的测试精度,并且能够对弱散射目标进行测量。实验结果表明了成像提取方法的有效性和准确性。关键词:雷达散射截面;微波成像;成像提取;成像分辨率中图分类号:TN95TH86文献标识码:A国家标准学科分类代码:510.70lhsearchonaccurateradarcrosssectionmeasurementmethodba鸵donima西nge】
3、【tractionLiN删in91,
4、XuZhiha01”,HuCh血n91,DangJ酬ia01”,GuoShuxial(J.№幻MZ研k60删。可∥Sc如,lce。以死如加幻影Dn踟删肌edAe蒯‰池,Ⅳ0n胁∞£e丌lPo加ec^n讹Z踟觇rs缈,瓜’口n7JDD酊,吼iM;2.瓜胁叭e旷Efe以ro玮泌n蒯坳丌加渤n,Ⅳo疗^眦stemPo巧钯c^n如Ⅱz‰溉船妙,舡’on7J0072,仍iM)Ak;n甚ct:High—precisionradarcmsssection(RCS)measurementh鹊highrequirementforbackgmundenvimnment.ItisdimculttoeIi
5、minatethecluuerefkctthroughbackgmundvectorcanceUingwhenstronginted'erenceexistsinbackgmundenvir0砌em.ThispaperpmposesahighaccuracyRCSme踮urementmethodbasedonimagingextIactiontoseparateandextracttlletargetscatteringsigIlalf南mbackgroundclutter,therebytllemeasurementaccuracyisimproved.Firsdy,tllema
6、thematicalrelationsllipbetweentheimageandRcsisderived,thentheechomeasuredintherevolvingstagemodeisutilizedt0conducttheima百ngpmcessingandobtainthe2-Dimqgeofthetargetarea.Then,the2一DimageofthetaIgetisextractedf南mtheimagingarea,andtlleRCSofthetargetisobtained山roughspectnlmtransfo珊andcalibmtion.Th
7、esimulationresllltsshowthatinRCSme踮urementunderime—.erencetheproposedmetllodc粕impmvethemeasurementaccuracyby3~5dB,andme船urethetaI伊twithweakscanering.Experimentresultsshowthee娲ctivenessandaccuracyoftheima西ngex仃actionmethod.Keywords:radarcrosssection(RCS);microwaveimaging;imagingextraction;im呼ng
8、resolution1引言随着现代战争中各种武器装备隐身技术的发展,为了验证目标的隐身性能,需要精确测量目标的雷达散射截面(radarcrosssection,Rcs)。目前Rcs的定量获取方法主要分为理论预估和实际测量。Rcs的实际测量始于雷达发展的初期,但因其军工背景,直到20世纪60年代都难以获知其发展程度。1965年,IEEE论文集出版了雷达散射特刊,提出了一些先进的RCS测量概述及技术要求,在此之后随着开源文献越来越多,更多的高校和研究人员开始投身于这一领域
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