以遗传演算法求解IC最终测试之排程问题.ppt

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1、以遺傳演算法求解IC最終測試之排程問題國立成功大學工學院工程管理在職專班學生:吳淑貞指導教授:黃悅民博士Outline半導體製造流程簡介IC最終測試流程簡介IC最終測試排程概念機台指派規則批次優先順序決定規則遺傳演算法概念以遺傳演算法求解IC最終測試排程之研究架構半導體製造流程簡介FrontEngWaferSortProductDesignBoardAssemblyMaterialsFabWaferFabWaferBankWaferDieBankAssemblyFinalTestBinInventoryBoardInsertion&Asse

2、mblyFinishedGoodsInventoryBoardTestingDesignHouseTestICDesignProgramSortFabProbingFinalTestAssemblyAssemblyFinalTestB/LAssemblyIC最終測試流程簡介AssemblyHouseIQABurnInFinalTestQATop_markLeadScanBakeT&RPackMajorProcessinFinalTest選擇一待測試訂單決定可用機台測試機台A測試機台B測試機台C機台組合A-1機台組合A-2機台組合B-1機台組

3、合C-1機台組合C-2機台組合B-2機台組合B-3指派給某一機台組合紀錄被指定機台組合之機台時間表選出可使用之測試機台選出可使用機台族群內之可用機台依優先順序考量指派HandlerXHandlerYHandlerZToolingOToolingPToolingQ選出可使用之Handler選出可使用之toolingIC最終測試排程概念機台指派規則->最早完工時間依照批次優先順序每次擇一待測批指派至特定機台。將待測批可用機台找出，確認該機台當時之Handler&Tooling是否符合該批使用，不符合者找出可用Handler&Tooling。將每

4、部機台起始時間+作業前置時間+該批測試時間後，找出最早完工時間之機台，並指派為該批次預計使用機台。該機台配合之Handler&Tooling於該時段註記為該測試機台使用。最短setuptime批次順序組合優點:由於相同型號之待測批連續於相同機台作業可節省前置時間之浪費，故相同型號待測批盡量連續指派於同機台可減少分派至不同機台作業而造成之必要作業前置時間。缺點:連續指派相同型號待測批於相同機台上可能導致有機台閒置未用卻集中少數機台作業造成交貨時間延遲。1234123412312345121234最少總延遲時間批次組合優點:交貨目標時間越早者越

5、優先排測，故可減少交貨時間延遲時間。缺點:完全依照交貨時間指派機台將導致不同型號待測批於同機台作業之作業前置時間，前置時間無產出將造成機台時間的浪費。1234123412312345121234母代交配突變計算適應函數值複製解碼取得最佳解否是產生新一代母體是否滿足停止條件遺傳演算法概念初始母體依序每次擇一(L,O)從該temp之Handler中找出最早可用之機台維持原tester可用時間否是該Tester之handler是否滿足該(L,O)之temp列出可用TesterTester可用時間早於Handler可用時間維持原tester可用時間

6、是否令tester可用時間為Handler可用時間從該device可用tooling中找出最早可用之tooling維持原tester可用時間否是該Tester目前之Tooling是否符合該(L,O)使用Tester可用時間早於Tooling可用時間維持原tester可用時間是否令tester可用時間為tooling可用時間將tester可用時間加上setup時間&加工時間找出最早完工之tester並紀錄該時段指派給(L,O)紀錄Handler&Tooling該時段指派給該tester是否還有(L,O)未指派機台紀錄最晚完成工作機台之完工時間

7、是否交配及突變是否還有未指派機台批次組合找出完工時間最早之批次組合是否已達停止條件是是否否是得到排程最佳解批次組合並結束最短setuptime批次組合最短交期延遲時間批次組合以遺傳演算法求解IC最終測試排程之研究架構Q&A