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1、光学原理以及名词解释品证1部1课名词解释1,ObjectiveLens:物镜详细情况以后可以让靳san给大家讲解.2,HolographicCollimator,准直镜3,Mirror,反射镜4,BeamSplitterPlate,简称BSP,5,PhotoDetectorIntegratedCircuit,简称:PDIC.6,Grating:光栅7,LaserDiode,简称:LD.PS3用OP概要DVD/CD_OEIC（新規）-X,Y,Z調整マルチレンズ（新規）凹面R/凹面CR-Z調整GRT付きHWP5spot用グレーティング+有机薄膜HWP-θ
2、調整YXZYZXZYXYZXYZXDVD/CD2λ互換対物レンズ(新規）回折互換プラスチックレンズ-titlt調整(SUB)/X,Y,Z調整(OP)LENS_BDTB46C（新規）-titlt調整(SUB)/tilt,θ調整(OP)QWP_BD（新規）有机薄膜QWPMirror_BD（新規）QWP_DVD/CD（新規）有机薄膜QWP・DBSAssyB(新規)QWP2枚接合DBS蓝光透过红光反射・液晶光学デバイス(新規)-非点(BD)-COMARad,Tan(DVDCD)准直镜（新規）コリメータ駆動式Sa補正Actuator-Z駆動OEIC_BD（3
3、10改パターン回転&オフセット）-X,Y調整FPD_BDLNC内蔵FrontPD-X,Y調整集光レンズ(新規)LD_BD（パッケージ新規）φ4.4pkg/SLD3234相当チップ-X,Y,Z調整/Rad,Tanヤブ調整PBS（新規）Tp90%Rp10%膜構成DBSAssyA(新規)赤青合成DBS+赤nPBS+赤CYL一体構成DBSは青反射/赤透過CPL+GRT_CD(新規)ホルダ一体型プラCPL+波長選択GRT-θ調整FPD_DVDCDLD_DVDCD(新規）フレームpkg/SLD6164相当チップ-X,Y,(Z)調整/Rad,Tanヤブ調整光
4、軸合成HOE（新規）ホルダ一体型-DVD0次、CD1次利用-Z調整/θ調整光学特性参数分类品证1部1课■光学参数类别:1,Level类[V]2,Jitter类3,EF类4,二轴类5,4大特性类6,其他类以下重点讲解几个参数光学特性参数－Level类品证1部1课1.RF定义:以PDIC为4等分元来检测Disc的9种沟槽的信号.也有称为EyePattern●AＢＣＦＤＥ●3TLEVEL11TLEVELRF(EFM)RF的大小为PDIC主接收象限的叠加.3T11TFcsErr信号＝（Ａ＋Ｃ）－（Ｂ＋Ｄ）非点収差法原理(A+C)-(B+D)=0(A+C)-(B+D)＞0
5、(A+C)-(B+D)＜0远AＢＣＤ正常近AＢＣＤAＢＣＤAＢＣＦＤＥ+-●●*Ｓ字波形GNDFcserror信号光学特性参数－Level类品证1部1课2,SCurveLevel定义:Lens聚焦过程的聚焦误差,0点琐定Scurvelevel３光束法的原理TrkErr信号＝Ｅ－ＦDABCFＥＥFDABCＥF正常偏向内周偏向外周副光束外周内周主光束副光束Ｅ＝ＦＥ＞ＦＥ＜ＦPDIC信号強度Ｅ 信号Ｆ 信号Ｅ－Ｆ 信号AＢＣＦＤＥDCABFＥ光学特性参数－Level类品证1部1课3,TraverseLevel反映:寻迹的误差.TraverseLevel
6、＝E-F品证1部1课4,XYAＢＣＦＤＥ反映:PDIC接收位置的信号.反映:位置的信号.X=(A+D)-(B+C)Y=(A+B)-(C+D)光学特性参数－Level类光学原理以及特性参数品证1部1课Level类参数的影响因素1,脏污2,SKEW偏3,VR4,PDIC的位置5,HOE位置光学特性参数－Jitter品证1部1课2,Jitter反映:从光盘上读取的信号相对于时间轴的推移.定义:光盘上的信息坑的长度理论上只有0.9μm~3.3μm.如果光盘以1.3m/s的恒线速度旋转,则从光盘读出信号.这里的光盘指的是CD光盘.产生的脉冲信号,理论上也只有692ns—2
7、538ns,可以称为3T~11T信号.实际上从光盘读出的信号脉冲宽度不稳定,可以看以上的图片,这种不稳定就称为抖动.(Jitter)Jitter的影响因素品证1部1课Jitter的影响因素1,光学系统的脏污(包括光盘及光学零件脏污、划伤)2,物镜的位置－－》SKEW3,物镜的象差4,温度,湿度.温度产生热胀冷缩,使光路发生变化;温度变化的时,光学部件容易有水蒸气,使光束的透过率发生变化.5,一些外观不良等等.D-skew的调整定义:反映二轴Lens的水平面相对于Disc的水平面之间的平行度的参数.SKEW一般分为TAN(Tangent)Y和RAD(Radial)
8、X两者.
