X射线衍射技术在纳米材料中的应用.pdf

X射线衍射技术在纳米材料中的应用.pdf

ID:51481606

大小:131.89 KB

页数:4页

时间:2020-03-25

X射线衍射技术在纳米材料中的应用.pdf_第1页
X射线衍射技术在纳米材料中的应用.pdf_第2页
X射线衍射技术在纳米材料中的应用.pdf_第3页
X射线衍射技术在纳米材料中的应用.pdf_第4页
资源描述:

《X射线衍射技术在纳米材料中的应用.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库

1、X射线衍射技术在纳米材料中的应用ApplicationofX—RayDiffractioninNanomaterials陆金生LuJinSheng帕纳科公司(原飞利浦公司分析仪器部)北京办事处100045PANalYtical,BeijingOffice100045摘要本文介绍用x射线衍射技术测试纳米材料的晶粒度、颗粒度、结晶度的方法,并介智{了各种纳米材料的物相鉴定、物相定量的新方法。同时还介绍了各种纳米材料微厩、微量、薄膜、包层的物相鉴定方法。AbstractInthispaper,wediscusstheapplicationoft

2、heX-raydiffractioninnanomaterialsincludingthemeasurementsofgrainsize,granularsize,erystallinity,andthestructureidentificationandquantitativeanalysisofphases.WealsointroducesomenewmethodsofmicroareaandthinfilmanalysisbyusingX—raydiffraction.前言纳米材料的晶粒度、颗粒度、结晶度及其微区、薄膜、包层的物相组

3、成与其性能密切相关。如何准确地提供上述数据将直接影响到纳米材料的研制与应用。原飞利浦公司分析仪器部现改名为帕纳科公司,公司提供了根据最新的x射线衍射技术设计出的各种附件及软件,满足了上述要求。1、晶粒度的测定晶粒愈细小则衍射线形愈宽化,但是显微应力也会引起线形宽化,为了获得由晶粒细化单一引起的线形宽化值,首先使用帕纳科公司提供的“LineProfile”软件,根据富利叶数学变换的方法,计算出线形由于样品晶粒细化引起的线形宽化值,利用此数177据及仪器的工具宽化度值,按照澍乐公式,计算出纳米材料样品的晶粒尺寸。上述计算可以自动完成。2、颗粒

4、度的测定纳米材料由丁颗粒细小,极易形成团粒,采阐通常的粒度分析仪将会给出错误的数据。采用x射线小角散射法可以克服团粒造成的困难,准确地给出纳米材料的颗粒尺寸。为了获得⋯束平行度极佳的准直X光嫩,K期以来采HJ狭缝控制,冈而有四狭缝相机及Kratky相机的方法。如果x光束准直性略差,则会增大原光束附近的本底,从而掩盖了小角散射的信息。冈此要求狭缝很细小,但是这样又使得入射光束的强度数拾倍的降低,也会降低小角散射的信息。帕纳科公司根据x射线不反射,几乎不折射,但是产生衍射的原理,设计了~种新型光学跗什“Hybrid”,它是由两部分编成的~Mj

5、rror及Ge敢晶。前者Mirror是采Hj人。}:晶体,它可以将发散的x龙经过此人I:晶体衍射后,产生一柬平行度为o04。的Ka平行光(已消除了KB)。此平行光束再经过Ge双晶体衍射后,可获得一束准直皮为O.007。的K。{平行光(已消除K。2)。利用此平行光,商射粉束样品,在原光束附近就可以准确地探测到小角散射的信息,利tE};i此数据可以计算出粉末样品的颗粒尺寸。3、薄膜分析在某一种基体的表面,通过各种]:艺一~电渡、气相沉积、溅射、纳米颗粒堆砌或镶嵌而形成的薄膜,或生成的纳米外沿膜等,用常规的Bragg—Bruntano的衍射几何

6、设计难以获得纳米薄膜的衍射信息,这是由于入射x射线束在薄膜中的光程很短,因而产生的衍射信息极弱.这些薄膜的弱衍射信息被基体的强火的衍射信息所掩盖。为此帕纳科公司推出了一组平行光路系统,将X光D_“Jkx-r町tubc图1:Hybrid光路示意图源的发散光经过Mirror模块后变为一束很强的平行光,令此平行光与样品的夹角呈0.3.1.5。掠射薄膜样品,因而产生了强大的薄膜衍射信息,将此衍射的平行光束,再经过另一个Mirror,从而产生一束线聚焦光束,用探测器测量此强线聚焦光束的强度。178这是前平行光掠射测量纳米薄膜的新型光学附件。4、微区

7、纳米物相分析在一个人块的样品中的某--4,区域,生成了另一种纳米级物相,此区域很小,甚至于小到0I×0.1毫米,要想测量此小区域的纳米级颗粒物相的组成,用常规的方法无法测晕。帕纳科公司设计~种新附件。入射x光束经过~组单毛细管透镜,提高强度4-5倍,此光束照射剑大块样品中某~小区域(利用测角台的x、Y轴及z轴的移动,将此小区域移至衍射几何中心点,此时光束照射到此点),为了消除择优取向,增加各晶面的衍射儿率,因而将样品按照中角转动。由于被照射的区域小,产生的衍射强度也很弱,因而采用帕纳科公司最新研制成功的新型探测器X’Celerator(超

8、能探测器),在同样的探测时间内。它可将探测的强度增大100倍。(与正比探测器相比)这种新型超能探测器,不但探测的强度增犬100倍。而且线形的分辨率很高(O.037),对微量信息探测的灵敏度也提

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。