反褶积分层解释法在铀矿找矿中的应用.pdf

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1、反褶积分层解释法在铀矿找矿中的应用胡守玉(广东省核工业地质局二九一大队，广东佛山528133)摘要：文章简要地介绍了反褶积分层解释法的原理及在1测井物探数据处理和定量解释过程中的应用，说明了其在铀矿找矿中的直观、方便、快捷的特点。关键词：1测井；反褶积分层解释法中图分类号：I)619．14文献标识码：A文章编号：1672—4011(2011)03—0246—02ApplicationofDeconvolutionAnalysisforLogInterpretationinUraniummineralexplorationHUShouyu(291TeamofGuangdon

2、ggeologicBureauofNuclearlndmtry，FoShan528133，China)Abstract：ThispaperbrieflyintroducestheprincipleofDeconvolutionAnalysisforLogInterpretationandtheapplicationthroushthedateprocessingandquantitativeinterpretation．Ithasthecharacteristicofdirectviewing，convenienceandrapid-nes8withthemethodof

3、RadioactivityWeULoggingofsearchingmines．Keywords：Naturalgamma—rayLogging；DeeonvolutionAnalysisforLoSInterpretation0前言反褶积分层解释法是近20年发展起来的主要应用于钻孔的叮测井异常解释的一种新方法。它的分层解释结果有利于富矿体的圈定和含矿系数的计算。因此该方法具有较好的经济效益‘㈨1。1反褶积分层解释法设有个横向无限的放射性矿层，放射性元素分布均匀，矿层和围岩对1射线吸收系数相等，井液、套管等吸收系数也相等，钻孑L直径一致。并假设矿层等分为多个薄矿层，钻孔垂

4、直穿过无限薄矿层。那么任意含量的无限薄矿层在井轴上任意点产生的1照射量率，可以用地质脉冲函数妒(：)进行描述。如图1所示，对薄层dz可得：,tI(z)=ko妒(z)dz(1)式中，z’为任意点到无限薄矿层dz的距离；dz为无限薄矿层的厚度，k0为测井放射元素含量计算的换算系数。。’Nf钿rp0图1地质脉冲函数推导示意图显然，p(z)是决定于多个参数，如地层物质成分，钻孔条件和探测仪器等。对于含量q(z)的任意薄矿层，在并轴上任意点z产生的照射量率，可对(1)式求积分得到：I(z)=‰Ig(；一x)9(z)dz=‰Ig(z)币(z—I,t)出(2)式中，积分限为矿层厚度，但

5、考虑到地质脉冲函数对应的薄层只是在矿层边界外不远处有数值，所以取为(∞，一∞)。如果矿层含量均匀，则q(z)为常数，对图1所示的矿层中心(即z=0)，于是(2)式可写为：k(日)=koqoI币(z’)如(3)．如如果矿层足够厚，即H,-·oo，则矿层中心照射量率为：k(日)=koq。(4)用(4)式除(3)式，并将变量z’，改为z，得：曰(2z)=k(n)／／。(∞)肋=2J币(：’)dz=2J妒(z)出(5)矗对(5)式求导数，得：如)=÷掣(6)式中，B(2z)=k(日)／I～(∞)称矿层饱和度，该式为地质脉冲函数的计算通式。大量的试验结果表明，饱和度曲线B(H)=以

6、日)有足够精度近似地表示成负指数形式：B(日)=1一e”1矾(7)由(6)可知，地质脉冲函数近似等于：妒(：)=导e“1帅(8)任何放射性元素含量分布不均匀的矿层，可以认为是由众多个含量均匀的薄单元矿层组成。式中，a为特征参数，是决定矿层和围岩对_y射线吸收形成的钻孑L轴上薄单元矿层1射线照射率分布特征的参数。2伽玛测井数据处理流程在’测井资料解释前，根据钻孔的孔径、铁套管直径、铁套管厚度、等效水层厚度等，按'测井规范所列附录查得铁、水吸收系数，测井前用液体密度计测量泥浆及冲洗液密度，终孔24小时后测量钻孔静止水位，上述1测井资料解释所需的参数均记录在钻孔1测井实际材料登

7、记表上。在实际操作中，采取如下步骤进行1测井资料的定量解释。(1)检查1测井原始资料，包括基本测井、重复测井及检查测井的原始记录；(2)检查1测井解释软件中所需的各项修正参数是否齐全和正确；(3)根据测井仪铀含量灵敏度系数和1照射量率换算系数，大致确定0．01％铀含量的仪器读数值(S一1)；(4)根据测井资料确定钻孔异常以上地段，并按孔深由小到大对异常地段进行编号；(5)电脑开机后进入1测井解释系统，在“文件”窗口输入矿段开始、结束深度、对应矿段孔径和基本测井、重复测井计数率(即CPS值)；(6)在“设计”窗口输入1测井解释参