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时间：2020-03-21
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1、一、透射电子显微镜简介二、FEIF20的基本结构及软件三、FEIF20的操作使用四、透射电子显微镜的样品制备主要内容：一、透射电子显微镜简介透射电子显微镜（TransmissionElectronMicroscopy)阿贝成像原理TEM与光学显微镜比较光学显微镜的分辨率TEM与光学显微镜性能对比电子激发样品可获得各种信号质厚衬度衍射衬度相位衬度（HRTEM）Z衬度（STEM像）两个基本模式二、FEIF20的基本结构及软件品牌：美国FEI型号：TecnaiG2F20用途：TEM-形貌观察SAD-晶体结构EDS-微区元素分析技术指标：加速电压：200KV电子枪：FEG点分辨率：0.24nmFEG
2、最小束斑≤0.3nm放大倍数：25×-1000k×样品最大倾角：S-TWIN+/-40°Gatan832CCD相机，分辨率4K*2.7KTecnaiG2F20型TEM外观说明软件说明三、FEIF20的操作使用TecnaiG2F20型TEM的操作使用讲在上机自主操作前1、实验前检查2、装入样品杆（此操作限高级用户使用）样品杆清零3、电镜合轴4、电镜实验5、拔出样品杆小结四、透射电子显微镜的样品制备TEM送样的几点说明1、粉末样品2、块体样品3、薄膜样品谢谢！
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