电子产品可靠性试验.doc

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1、肄电子产品可靠性试验羀肈第一章可靠性试验概述蚄蒂1电子产品可靠性试验的目的蝿膇　可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。具体目的有：肅　　(1)发现产品的设计、元器件、零部件、原材料和工艺等方面的各种缺陷；膄　　(2)为改善产品的完好性、提高任务成功性、减少维修人力费用和保障费用提供信息；螂(3)确认是否符合可靠性定量要求。芇为实现上述目的，根据情况可进行实验室试验或现场试验。蒆　　实验室试验是通过一定方式的模拟试验，试验剖面要尽

2、量符合使用的环境剖面，但不受场地的制约，可在产品研制、开发、生产、使用的各个阶段进行。具有环境应力的典型性、数据测量的准确性、记录的完整性等特点。通过试验可以不断地加深对产品可靠性的认识，并可为改进产品可靠性提供依据和验证。蚂　　现场试验是产品在使用现场的试验，试验剖面真实但不受控，因而不具有典型性。因此，必须记录分析现场的环境条件、测量、故障、维修等因素的影响，即便如此，要从现场试验中获得及时的可靠性评价信息仍然困难，除非用若干台设备置于现场使用直至用坏，忠实记录故障信息后才有可能确切地评价其可靠性。当系统规模庞大、

3、在实验室难以进行试验时，则样机及小批产品的现场可靠性试验有重要意义。薁2可靠性试验的分类莇2.1电子装备寿命期的失效分布袇目前我们认为电子装备寿命期的典型失效分布符合“浴盆曲线”，可以划分为三段：早期失效段、恒定（随机或偶然）失效段、耗损失效段。可参阅图1.2.1。莄早期失效段，也称早期故障阶段。早期失效出现在产品寿命的较早时期，产品装配完成即进入早期失效期，其特点是故障率较高，且随工作时间的增加迅速下降。早期故障主要是由于制造工艺缺陷和设计缺陷暴露产生，例如原材料缺陷引起绝缘不良，焊接缺陷引起虚焊，装配和调整不当引起

4、参数漂移，元器件缺陷引起性能失效等。早期失效可通过加强原材料和元器件的检验、工艺检验、不同级别的环境应力筛选等严格的质量管理措施加以暴露和排除。莀蒇失效率芈螁早期耗损莃失效偶然失效段失效蒇蒅时间薃膁图1.2.1电子装备寿命期失效分布的浴盆曲线示意薇袅恒定失效段，也称偶然失效段，其故障由装备内部元器件、零部件的随机性失效引起，其特点是故障率低，比较稳定，因此是装备主要工作时段。芅耗损失效段，其特点是故障率迅速上升，导致维修费用剧增，因而报废。其故障原因主要是结构件、元器件的磨损、疲劳、老化、损耗等引起。袀2.2试验类型及

5、其分布曲线的变化蚇针对电子装备寿命期失效分布的三个阶段，人们在设计制造和使用装备时便有针对地采取措施，以提高可靠性和降低寿命周期的费用。在设计制造阶段，要尽量减少设计缺陷和制造缺陷，即便如此仍然会存在早期失效和随机失效。为此，承制方需要运用工程试验的手段来暴露和消除早期失效，降低随机失效的固有水平。通过这些措施，可以改变产品的寿命分布曲线的形状，可参阅图1.2.2。在耗损阶段，用户可通过维修和局部更新的手段延长装备的使用寿命。芆图1.2.2示意了两组产品寿命失效率分布曲线，图中表明产品B的可靠性水平比产品A的优良，因为

6、B的恒定失效率比A的低，B的早期失效段比A的短。如果曲线A和B是同一种产品的不同阶段的失效率分布，则表明该产品经过了可靠性增长试验，取得成效，因此曲线B的恒定失效率大为降低。曲线B的早期失效段示意了B和B’两条，它们表明B比B’的早期失效率为低，显示其工艺和元器件、原材料的缺陷比B’的少，环境应力筛选所需的资源也可较少。蚃失效率虿螇蚇蒅蚂产品A的寿命失效分布袆B’螄B产品B的寿命失效分布袃蒁时间羆图1.2.2装备可靠性试验结果对失效分布曲线形状影响膅薅2.3装备可靠性试验分类芀2.3.1装备可靠性试验项目分类芀由装备可

7、靠性试验的目的出发，我们把它分为可靠性工程试验和可靠性验证试验两大类，每类试验又包括几种试验项目。薆(1)可靠性工程试验，其目的在于暴露产品故障以便人们消除它，由承制方进行，试验样品从研制样机中取得。可靠性工程试验包括环境应力筛选和可靠性增长试验。从试验性质来分析，现行的老炼也属于工程试验项目；由环境应力筛选发展起来的可靠性保证试验也可归纳于此。工程试验的出发点是：尽量彻底地暴露产品的问题、缺陷，并采取措施纠正，再验证问题得到解决、缺陷得到消除与否。经过工程试验的产品，其可靠性自然会提高，满足用户要求的可能性也必然增大

8、。可见，可靠性工程试验是产品的可靠性基础工作，是产品研制生产的工艺过程。肃(2)可靠性验证试验，从试验原理来说，要应用统计抽样理论，因此又称统计试验。其目的是为了验证产品是否符合规定的可靠性要求，由承制方根据有关标准和研制生产进度制订方案和计划，经定购方认可；重点型号装备的验证试验方案还需报上级领导机关批准，由有关各方组织联合试验