X线头影测量分析.ppt

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1、X线头影测量分析CephalometricsAnalysis简介1934年HofrathandBroadbent提出我国于20世纪60年代初运用于临床CompanyLogo通过测量X线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去,它是正畸临床诊断及治疗设计的一种重要手段.X线头影测量分析简言之：通过对X片进行分析、测量，从而了解牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相互关系。CompanyLog

2、o一、主要应用研究颅面生长发育牙颌、颅面畸形的诊断分析确定错牙合畸形的矫治计划研究矫治中，矫治后的变化外科正畸的诊断和矫治设计下颌功能分析CompanyLogo1.研究颅面生长发育不同个体同一年龄段—横向研究颅面发育同一个体各年龄段---纵向研究颅面发育明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、及对颅面生长发育的预测。---“颅面生长发育”章节CompanyLogo通过X线对正常牙合人的颅面结构进行分析得出正常牙合的各项测量参考标准作为诊断分析的基础2.牙颌、颅面畸形的诊断分析CompanyLogo3.确定错

3、牙合畸形的矫治计划对比分析出错牙合畸形的机制正常牙颌颅面关系个体牙颌颅面结构确定牙和颌位的理想位置，制定可行的矫治方案CompanyLogo4.研究矫治中及矫治后牙颌、颅面的变化治疗前正畸治疗治疗中,矫治后对比CompanyLogo5.外科正畸的诊断和矫治设计通过X线对颅面畸形患者进行分析得出畸形的机制确定手术部位、方法及需要移动或切除的部位CompanyLogo局限性标记点的定位都是相对标记时存在个体差异存在种族、性别的差异CompanyLogo1.头颅定位X线要求：头颅定位的关键在于：定位仪上左右耳塞与眶

4、点指针，三者构成一与地面平行的恒定平面。定位CompanyLogo2.头影图的描绘X线头影图像上，因头颅本身厚度或个体两侧结构不完全对称而出现的左右影像不完全重合按其平均中点来作描绘CompanyLogo传统X线片数字化X线片CompanyLogo传统手描图数字化描图CompanyLogo常用头影测量标志点标志点：用来构成一些平面及测量内容的点1.解剖的，真正代表颅骨的解剖结构2.引伸的，如两测量平面相交的一个标志点定点准确才能获得相应准确的头影测量分析结果！CompanyLogo标志点硬组织测量标志点软组织

5、测量标志点CompanyLogo硬组织测量标志点颅部蝶鞍点（S）鼻根点（N）机械耳点(P)上颌骨前鼻棘(ANS)上齿槽座点（A）上中切牙点（U1）下颌骨下齿槽座点（B）下中切牙点（L1）颏前点（Pg）颏下点(Me)颏顶点(Gn)CompanyLogo额点（G）鼻小柱点（Cm）鼻下点（Sn）上唇缘点（UL）下唇缘点（LL）软组织颏前点(Pgs)软组织颏下点(Mes)颈点（C）软组织测量标志点CompanyLogoLandmark（定点）CompanyLogo1.颅部标志点CompanyLogo定点S(Sella

6、蝶鞍中心点)CompanyLogo定点N(Nasion鼻根点)：鼻额缝最前点CompanyLogo定点P(Porion耳点）：机械耳点CompanyLogo定点颅底点(Ba,basion）枕骨大孔前缘中点CompanyLogo定点Bolton点：枕骨髁突后切迹最凹点CompanyLogo2.上颌标志点CompanyLogo－定点Or(orbitale眶点)CompanyLogo翼上颌裂点（Ptm）：翼上颌裂轮廓最下点CompanyLogo前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖CompanyLogoA(Subspinal

7、e上齿槽座点)CompanyLogo－定点UI(Upperincisor上中切牙切端)CompanyLogo3.下颌标志点CompanyLogo－定点髁顶点(Co):髁突最上点CompanyLogo－定点关节点（Ar):颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点CompanyLogo－定点Go(Gonion下颌角点)：下颌支平面与下颌角平面交角之分角线与下颌角的交点CompanyLogoB(Supramental下齿槽座点)CompanyLogoLI(Lowerincisor下中切牙切端)CompanyLogo－定点Po

8、(Pogonion颏前点)：颏部最突点CompanyLogo－定点Me(Menton颏下点)CompanyLogoGn(Gnathion颏顶点):颏前点与颏下点之中点CompanyLogoD点:下颌体骨性联合部之中心点CompanyLogo第二次实验CompanyLogo头影测量平面CompanyLogo1.基准平面(Referenceline)：头影测量中相对稳定的平面CompanyLogoSN平